home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ NetNews Usenet Archive 1992 #26 / NN_1992_26.iso / spool / comp / lsi / testing / 273 < prev    next >
Encoding:
Internet Message Format  |  1992-11-09  |  2.7 KB
  1. Path: sparky!uunet!noc.near.net!news.bbn.com!bbn.com!ekearns
  2. From: ekearns@bbn.com (Edward Joseph Kearns)
  3. Newsgroups: comp.lsi.testing
  4. Subject: Re: Tons of 1149.1 experience...
  5. Date: 10 Nov 1992 00:59:14 GMT
  6. Lines: 54
  7. Message-ID: <lfu2b2INN491@news.bbn.com>
  8. References: <lfatgtINNj5@news.bbn.com> <BxD9CM.C1@scd.hp.com>
  9. NNTP-Posting-Host: bbn.com
  10. Keywords: help
  11.  
  12. vinoski@ch.apollo.hp.com (Stephen Vinoski) writes:
  13.  
  14. >This is fine for chip test, but for board test it would better if
  15. >there were only one controller for all the chips on the board.  See
  16.  
  17. A good time for me to clarify our present test philosophy...
  18.  
  19. Actually, that is what we hope to accomplish.  By placing a Micro-
  20. processor and one Test Bus Controller with multiple scan path linkers
  21. on the board, we can apply stimuli vectors, saved in an EPROM, to the 
  22. "boundary" of one functional block of the board, then observe the 
  23. response by collecting the resultant vector on other scan paths in 
  24. other functional blocks.  
  25.  
  26. This "embedded test" will be used for connectivity testing between 
  27. ASIC's where the number of functional ASIC stimuli vectors would be 
  28. too high to apply in a timely fashion after power-up and before the 
  29. system ready state.
  30.  
  31. In case folks where wondering, yes there are plenty of non-scan parts
  32. on this board that I also have to write tests for.  That's the part 
  33. I've done before.  And yes we will have approximately 6K scanable ASIC 
  34. pins, plus some scanable registers and fifo's on the board as others 
  35. have questioned. Sounds exciting I know!
  36.  
  37. My final goal with the embedded test at power-up is only to achive a 
  38. level of funtionality confidence, and not complete ASIC functionality.  
  39. Thus the 1149.1 architecture features that we install will contain the 
  40. "hooks" to perform more thorough testing on the manufacturing floor using
  41. a non-resident test processor in a PC for instance, as a diagnostic tool
  42. in module test or burn-in.  Prior to this step, the ASIC's will have been
  43. tested at the foundary before pc board assembly and at the ATE station 
  44. after pc board assembly.
  45.  
  46. >In a previous life I wrote a lot of scan software.  I found that the
  47. >use of object-oriented software development techniques greatly reduces
  48. >the chances for errors while allowing relatively powerful tools to be
  49. >developed quickly and reused for different applications.
  50.  
  51. Others have mentioned the Object Oriented approach as a wise choice.
  52. Thank you for the advice and the references.
  53.  
  54. Actually!, Thank you all for the many responses.  Between all the phone 
  55. calls with new vendor product leads, and all the new reading material,
  56. a a couple of well deserved vacation days, I've not had enough time to
  57. respond to everyone.  
  58.  
  59. Let's keep this discussion going.  I still have a ton of questions...
  60.  
  61. Ed Kearns
  62. BBNASD
  63. Bellevue,Washington
  64.  
  65.  
  66.