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/ NetNews Usenet Archive 1992 #26 / NN_1992_26.iso / spool / comp / lsi / testing / 272 < prev    next >
Encoding:
Internet Message Format  |  1992-11-09  |  2.6 KB
  1. Path: sparky!uunet!news.tek.com!sail!arnief
  2. From: arnief@sail.LABS.TEK.COM (Arnie Frisch)
  3. Newsgroups: comp.lsi.testing
  4. Subject: Re: Boundary Scan JTAG 1149.1 Experience?
  5. Keywords: help
  6. Message-ID: <12860@sail.LABS.TEK.COM>
  7. Date: 9 Nov 92 17:29:35 GMT
  8. References: <lfatgtINNj5@news.bbn.com> <BxD9CM.C1@scd.hp.com>
  9. Organization: Tektronix, Inc., Beaverton,  OR.
  10. Lines: 46
  11.  
  12. In article <BxD9CM.C1@scd.hp.com> vinoski@ch.apollo.hp.com (Stephen Vinoski) writes:
  13. >
  14. >One issue with 1149.1 is that every chip has its own scan controller.
  15. >This is fine for chip test, but for board test it would better if
  16. >there were only one controller for all the chips on the board.  See
  17. >
  18. >    Dervisoglu, B.I., "Scan Path Architecture For Pseudorandom
  19. >    Testing", IEEE Design & Test of Computers, 6(4): pp. 32-48,
  20. >    1989.
  21. >
  22. >    Dervisoglu, B.I., "Features of a Scan and Clock Resource Chip
  23. >    For Providing Access to Board-Level Test Functions", Journal
  24. >    of Electronic Testing: Theory and Applications, 2: pp.
  25. >    107-115, 1991.
  26.  
  27. There is not one scan controller per chip.  There is one TAP controller
  28. for each chip that has boundary scan implemented.  All chips do not
  29. need to implement boundary scan, and seldom - if ever - do you find a
  30. board where they all do.  Depending upon the implementation, there may
  31. be a scan controller on the board, but usually not.  Scan control is
  32. implemented in a computer that has a scan control chip (usually -
  33. though this can be done in SW), and SW used for testing and diagnosis.
  34.  
  35. NOW...  I WANT TO TAKE EXTREME ISSUE WITH YOUR INFERENCE THAT THE
  36. APOLLO 10K ARCHITECTURE FOR SCAN IS SOMEHOW BETTER THAN BOUNDARY SCAN.
  37.  
  38. The P1149.1 standard is the engine that is driving the future of
  39. built-in test.  Departures from this standard slow the process of
  40. progress.  The issue is not whether something is better (and I doubt
  41. that your example qualifies) but whether the standard is "good
  42. enough".  If it is good enough, it should be used, and if it is used
  43. people will find that it has much more capability than is visible on
  44. the surface.  For example, did you know that ATT uses boundary scan as
  45. the basis for communication of internal BIST results from chips to
  46. boundary scan controllers in production test applications?  Did you
  47. know that this use, and extensions of this methodology, are in
  48. development at many major sites in the US and elsewhere?
  49.  
  50. Did you know that a substantial infrastructure - involving HW and SW is
  51. being created around P1149.1 and its extensions, an infrastructure that
  52. will not support other architectures and scan methodologies?  Do you
  53. think it is smart and cost effective and productive to depart from the
  54. standard under these conditions?
  55.  
  56. Arnold Frisch
  57. Tektronix Laboratories
  58.