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/ NetNews Usenet Archive 1992 #20 / NN_1992_20.iso / spool / comp / lsi / testing / 218 < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1992-09-09  |  2.0 KB  |  46 lines
  1. Newsgroups: comp.lsi.testing
  2. Path: sparky!uunet!gatech!concert!theo!speedy!roy
  3. From: roy@mcnc.org (Subhash Chandra Roy)
  4. Subject: Re: To Test or Not to Test?
  5. Message-ID: <1992Sep9.133233.18395@mcnc.org>
  6. Organization: MCNC Center for Microelectronics, RTP, NC
  7. References: <DON.ALLINGHAM.92Sep3081939@bbking.FtCollins.NCR.COM>
  8. Date: Wed, 9 Sep 1992 13:32:33 GMT
  9. Lines: 35
  10.  
  11. In article <DON.ALLINGHAM.92Sep3081939@bbking.FtCollins.NCR.COM> Don.Allingham@FtCollinsCO.NCR.COM writes:
  12. |From what I see, the problem is reversed, especially among ASICs.  Maybe
  13. |not for DRAMS, SRAMS, or other stable, long term processes.  In the ASIC
  14. |market, the processes are always on the leading edge.  You have to be,
  15. |or you cannot stay in business.  Everyone wants the leading edge process
  16. |because it is denser (cheaper) and faster.  New processes are always
  17. |less stable than old, mature processes.
  18. |
  19. |--
  20. |Don Allingham           
  21. |NCR Microelectronics             Don.Allingham@FtCollins.NCR.com
  22. |Ft. Collins, CO.                uunet!ncrlnk!ncr-mpd!Don.Allingham
  23. |
  24.  
  25. Just a comment, not everyone wants the leading edge process.  For a majority
  26. of consumer products, the cheapest most mature process is perfect.  This
  27. seems to hold pretty true for medium size multipliers (500k - 1M parts) esp
  28. when the design is pad limited.
  29.  
  30.  
  31. Obligatory test statement.
  32. Test issues are growing in complexity because of technological strides and 
  33. an increased emphasis on product quality and reliability. As designs sizes 
  34. increase beyond 40k gates, ad-hoc DFT techniques along with traditional test 
  35. pattern generation methods no longer provide high fault coverage for any 
  36. given design, without the designer or test engineer manually generating a 
  37. majority of tests.  Along with these pressures, the market place is also 
  38. demanding that products are completed faster and with less cost. The goals, 
  39. however, are a trade-off between two seemingly divergent concepts, reduce 
  40. testing costs and increase product reliability.
  41.  
  42.  
  43. Subhash
  44. roy@mcnc.org
  45. "Yet another IC designer from MCNC"
  46.