home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ NetNews Usenet Archive 1992 #19 / NN_1992_19.iso / spool / comp / lsi / testing / 215 < prev    next >
Encoding:
Internet Message Format  |  1992-09-03  |  1.9 KB
  1. Path: sparky!uunet!olivea!decwrl!csus.edu!netcom.com!netcom!mjohnson
  2. From: mjohnson@netcom.Netcom.COM (Mark Johnson)
  3. Newsgroups: comp.lsi.testing
  4. Subject: Re: Ring oscillators for characterization?
  5. Message-ID: <MJOHNSON.92Sep3080501@netcom.Netcom.COM>
  6. Date: 3 Sep 92 16:05:01 GMT
  7. References: <2374@devnull.mpd.tandem.com>
  8. Organization: Netcom Online Communications Service
  9. Lines: 42
  10. In-Reply-To: black@mpd.tandem.com's message of 3 Sep 92 11:28:32 GMT
  11.  
  12. In my experience, ring oscillators are among the BEST
  13. vehicles for process monitoring.  Generally the
  14. most useful ones are a series of _loaded_ oscillators:
  15.  
  16.    (i)   Oscillator with long thin fingers of N+ diffusion
  17.          loading down every node.  Monitors effect of
  18.          N+ junction perimeter capacitace
  19.  
  20.    (ii)  Oscillator with fat rectangular boxes of N+
  21.          diffusion loading down every node.  Monitors
  22.          effect of N+ junction perimeter capacitace
  23.  
  24.    (iii) Oscillator with long meander track of minwidth
  25.          metal-1 loading down every node.  Monitors
  26.          effect of metal-1 capacitance.
  27.  
  28.    (iv)  Oscillator with a 3-input mux in series between
  29.          each inverting stage.  Monitors effect of
  30.          mux delay (mosfet "R" & "C", junction C).
  31.  
  32.    (v)   Oscillators made of NAND gates, inverters,
  33.          NOR gates.  Shows effect of PMOS stacks,
  34.          NMOS stacks.
  35.  
  36. etc.
  37.  
  38. Admittedly the measurements you get are indirect
  39. indicators of process deviations.  However they are
  40. DIRECT indicatiors of product performance.
  41.  
  42. The tough part is getting the automatic tester to
  43. do the measurements.  About the best arrangement
  44. I've seen for this was at Vitesse (GaAs vendor).
  45. They do it simply: the oscillators are always
  46. located in the same location in the scribe lane,
  47. so they have dedicated probecard pins for the
  48. oscs.  These go to a GPIB-interfaced frequency
  49. counter.  The frequency counter does the
  50. measurement and presents its result to the tester
  51. over GPIB.  Costs a couple hundred bux.
  52.  
  53. MJ
  54.