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/ NetNews Usenet Archive 1992 #31 / NN_1992_31.iso / spool / comp / sys / ibm / pc / hardware / 34418 < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1992-12-29  |  1.5 KB  |  34 lines
  1. Newsgroups: comp.sys.ibm.pc.hardware
  2. Path: sparky!uunet!zaphod.mps.ohio-state.edu!sdd.hp.com!hp-cv!hp-pcd!hpcvca!hpcvccl.cv.hp.com!scott
  3. From: scott@hpcvccl.cv.hp.com (Scott Linn)
  4. Subject: Re: What's the deal? My chip says "SX-25"; Norton says "SX-33"
  5. Message-ID: <1992Dec30.014027.15577@hpcvca.cv.hp.com>
  6. Sender: nobody@hpcvca.cv.hp.com
  7. Nntp-Posting-Host: hpcvccl.cv.hp.com
  8. Organization: Hewlett-Packard Company, Corvallis, Oregon USA
  9. References: <C01LuI.542@news.cso.uiuc.edu>
  10. Date: Wed, 30 Dec 1992 01:40:27 GMT
  11. Lines: 21
  12.  
  13.  (Mike Berger) writes:
  14. : Do you have any reason to believe this is really the case?  It would be
  15. : very costly for Intel to test ALL chips.  Usually they're sampled from
  16. : batches.  If one sample chip fails at the higher speed and passes at the
  17. : lower speed, then the whole batch is designated for the lower speed.  So
  18. : chances are good that some will function at faster clock speeds.
  19.  
  20. You can't do this.  Chip speed varies across single wafers, let alone across
  21. an entire wafer lot.  They *all* need to be tested, and all at speed.
  22. Otherwise, you stand a good chance of shipping garbage.
  23.  
  24. The usual route is exactly as Danny had stated: test every part at 33MHz.
  25. If it fails, test it at 25.  If it fails, keep going down until you are
  26. out of speed.
  27.  
  28. Note that you can put slow tests up front, to get functional testing out
  29. of the way, so that you don't have to repeat many of the tests if you start
  30. falling through the bins.
  31.  
  32. Scott Linn
  33. scott@hpcvccl.cv.hp.com
  34.