home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ InfoMagic Standards 1993 July / Disc.iso / ccitt / 1988 / troff / 4_4_06.tro < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1991-12-13  |  92.7 KB  |  4,060 lines
  1. .rs
  2. .\" Troff code generated by TPS Convert from ITU Original Files
  3. .\"                 Not Copyright ( c) 1991 
  4. .\"
  5. .\" Assumes tbl, eqn, MS macros, and lots of luck.
  6. .TA 1c 2c 3c 4c 5c 6c 7c 8c
  7. .ds CH
  8. .ds CF
  9. .EQ
  10. delim @@
  11. .EN
  12. .nr LL 40.5P
  13. .nr ll 40.5P
  14. .nr HM 3P
  15. .nr FM 6P
  16. .nr PO 4P
  17. .nr PD 9p
  18. .po 4P
  19.  
  20. .rs
  21. \v | 5i'
  22. .sp 2P
  23. .LP
  24. \fBRecommendation\ O.151\fR \v'1P'
  25. .RT
  26. .sp 2P
  27. .ce 1000
  28. \fBERROR\ PERFORMANCE\ MEASURING\ EQUIPMENT\ FOR\fR 
  29. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.151''
  30. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.151    %'
  31. .ce 0
  32. .sp 1P
  33. .ce 1000
  34. \fBDIGITAL\ SYSTEMS\ AT\ THE\ PRIMARY\ BIT\ RATE\ AND\ ABOVE\fR 
  35. .FS
  36. This   Recommendation is the joint responsibility of Study Groups\ IV, XVII and
  37. XVIII.
  38. .FE
  39. .ce 0
  40. .sp 1P
  41. .ce 1000
  42. \fI(Geneva, 1976; amended Geneva, 1980, Malaga\(hyTorremolinos, 1984\fR 
  43. .sp 9p
  44. .RT
  45. .ce 0
  46. .sp 1P
  47. .ce 1000
  48. \fIand Melbourne, 1988)\fR \v'1P'
  49. .ce 0
  50. .sp 1P
  51. .PP
  52. The requirements for the characteristics of bit\(hyerror
  53. performance measuring equipment which are described below must be adhered 
  54. to in order to ensure compatibility between equipments standardized by 
  55. the CCITT, and produced by different manufacturers. 
  56. .sp 1P
  57. .RT
  58. .sp 2P
  59. .LP
  60. \fB1\fR     \fBGeneral\fR 
  61. .sp 1P
  62. .RT
  63. .PP
  64. The equipment is designed to measure the bit\(hyerror performance of digital 
  65. transmission systems by the direct comparison of a pseudorandom test 
  66. pattern with an identical locally generated test pattern. In addition the
  67. capability to measure errored time intervals is provided.
  68. .RT
  69. .sp 2P
  70. .LP
  71. \fB2\fR     \fBTest patterns\fR 
  72. .sp 1P
  73. .RT
  74. .sp 1P
  75. .LP
  76. 2.1
  77.     \fIPseudorandom pattern\fR \fIfor systems using a 2\fI
  78. \fIpattern length\fR 
  79. .sp 9p
  80. .RT
  81. .PP
  82. This pattern is to be produced by means of a shift register
  83. incorporating appropriate feedback (see Figure\ 1/O.151 and
  84. Table\ 1/O.151):
  85. .RT
  86. .ad r
  87. Number of shift register stages
  88. \ \ 15
  89. \v'4p'
  90. .ad b
  91. .RT
  92. .ad r
  93. Pattern length
  94. \ \ 2\u1\d\u5\d\ \(em\ 1\ =\ 32 | 67\ bits
  95. \v'4p'
  96. .ad b
  97. .RT
  98. .PP
  99. Feedback
  100.     taken from the 14th and 15th stage
  101. via an exclusive\(hyOR\(hygate to the first stage
  102. .ad r
  103. Longest sequence of
  104. zeros
  105. \ \ 15 (inverted\ signal)
  106. .ad b
  107. .RT
  108. .sp 1P
  109. .LP
  110. 2.2
  111.     \fIPseudorandom pattern for systems using 2\fR \fI\fI
  112. \fIpattern length\fR 
  113. .sp 9p
  114. .RT
  115. .PP
  116. This pattern is to be produced by means of a shift register
  117. incorporating appropriate feedback (see Figure\ 2/O.151):
  118. .RT
  119. .ad r
  120. Number of shift register stages
  121. \ \ 23
  122. \v'4p'
  123. .ad b
  124. .RT
  125. .ad r
  126. Pattern length
  127. \ \ 2\u2\d\u3\d\ \(em\ 1\ =\ 8 | 88 | 07 bits
  128. \v'4p'
  129. .ad b
  130. .RT
  131. .PP
  132. Feedback
  133.     taken from the 18th and
  134. 23rd stages via an exclusive\(hyOR\(hygate to the first stage
  135. .ad r
  136. Longest sequence of zeros
  137. \ \ 23 (inverted signal)
  138. \v'4p'
  139. .ad b
  140. .RT
  141. .LP
  142. .sp 6
  143. .bp
  144. .LP
  145. .rs
  146. .sp 33P
  147. .ad r
  148. \fBTable\ 1/O.151 [T1.151], p.\fR 
  149. .sp 1P
  150. .RT
  151. .ad b
  152. .RT
  153. .LP
  154. .rs
  155. .sp 15P
  156. .ad r
  157. \fBFigure\ 1/O.151, p.\fR 
  158. .sp 1P
  159. .RT
  160. .ad b
  161. .RT
  162. .LP
  163. .bp
  164. .LP
  165. .rs
  166. .sp 23P
  167. .ad r
  168. \fBFigure\ 2/O.151 p.\fR 
  169. .sp 1P
  170. .RT
  171. .ad b
  172. .RT
  173. .sp 1P
  174. .LP
  175. 2.3
  176.     \fIPseudorandom pattern\fR \fIfor systems using 2\fI
  177. \fIpattern length\fR 
  178. .sp 9p
  179. .RT
  180. .PP
  181. This pattern may be generated by a twenty stage shift register with feedback 
  182. taken from the seventeenth and twentieth stages. The output signal is taken 
  183. from the twentieth stage, and an output bit is forced to be a \*Qone\*U 
  184. whenever the next 14\ bits are all \*Qzero\*U.
  185. .PP
  186. The 
  187. quasi\(hyrandom sequence
  188. satisfies the following:
  189. \v'6p'
  190. .RT
  191. .sp 1P
  192. .ce 1000
  193. \fIQ\fR\d\fIn\fR\\d+\u\fR\d1\u
  194. (\fIk\fR + 1) = \fIQ\fR\d\fIn\fR\u(\fIk\fR ),
  195. \fIn\fR = 1, 2, |  |  | ,\ 19,
  196. .ce 0
  197. .sp 1P
  198. .ce 1000
  199. \fIQ\fR\d1\u
  200. (\fIk\fR + 1) = \fIQ\fR\d1\\d7\u(\fIk\fR ) 
  201. \o'\(ci+'
  202. \fIQ\fR\d2\\d0\u(\fIk\fR ), and
  203. .ce 0
  204. .sp 1P
  205. .ce 1000
  206. \fIRD\fR (\fIk\fR ) = \fIQ\fR\d2\\d0\u(\fIk\fR ) + 
  207. \fIQ\fR\d6\u(\fIk\fR ) + . |  | 
  208. + \fIQ\fR\d1\\d9\u(\fIk\fR )
  209. .ce 0
  210. .sp 1P
  211. .LP
  212. .sp 1
  213. where
  214. .LP
  215.     \fIQ\fR\d\fIn\fR\u(\fIk\fR )
  216.     =
  217.     Present state for \fIn\fR th stage
  218. .LP
  219.     \fIQ\fR\d\fIn\fR\u(\fIk\fR + 1)
  220.     =
  221.     Next state for \fIn\fR th stage
  222. .LP
  223.     \fIRD\fR (\fIk\fR )
  224.     =
  225.     Present value of output
  226. .LP
  227.     +
  228.     =
  229.     a logic OR operation
  230. .LP
  231.     \o'\(ci+'
  232.     =
  233.     a logic EXCLUSIVE OR operation
  234. .LP
  235.     (\ )
  236.     =
  237.     a logic NEGATION operation.
  238. .sp 1P
  239. .LP
  240. 2.4
  241.     \fIFixed patterns (optional)\fR 
  242. .sp 9p
  243. .RT
  244. .PP
  245. Fixed patterns of all ones and alternating ones and zeros may be
  246. provided.
  247. .bp
  248. .RT
  249. .sp 2P
  250. .LP
  251. \fB3\fR     \fBBit rate\fR 
  252. .sp 1P
  253. .RT
  254. .PP
  255. The bit rates in accordance with CCITT Recommendations are
  256. indicated in Table\ 2/O.151.
  257. .RT
  258. .ce
  259. \fBH.T. [T2.151]\fR 
  260. .ce
  261. TABLE\ 2/O.151
  262. .ce
  263. \fBBit rates, pertinent Recommendations and pseudo\fR 
  264. .ce
  265. \fBrandom test patterns\fR 
  266. .ps 9
  267. .vs 11
  268. .nr VS 11
  269. .nr PS 9
  270. .TS
  271. center box;
  272. cw(30p) | cw(54p) | cw(72p) | cw(36p) | cw(36p) .
  273. Bit rates (kbit/s)     {
  274. Recommendations corresponding to multiplex system
  275.  }     {
  276. Recommendations corresponding to digital line section/line
  277. system
  278.  }    Bit rate tolerance    Test pattern
  279. _
  280. .T&
  281. cw(30p) | cw(54p) | lw(72p) | cw(36p) | cw(36p) .
  282. \ \ 1 | 54    G.733 [1]     {
  283. G.911 [8], G.951 [9], G.955 [10]
  284.  }     {
  285. \(+- 50 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  286.  }     {
  287. 2\u1\d\u5\d\(em1, 2\u2\d\u0\d\(em1
  288.  }
  289. _
  290. .T&
  291. cw(30p) | cw(54p) | lw(72p) | cw(36p) | cw(36p) .
  292. \ \ 2 | 48    G.732 [2]     {
  293. G.921 [11], G.952 [12], G.956 [13]
  294.  }     {
  295. \(+- 50 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  296.  }    2\u1\d\u5\d\(em1
  297. _
  298. .T&
  299. cw(30p) | cw(54p) | lw(72p) | cw(36p) | cw(36p) .
  300. \ \ 6 | 12    G.743 [3]     {
  301. G.912 [14], G.951 [9], G.955 [10]
  302.  }     {
  303. \(+- 30 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  304.  }     {
  305. 2\u1\d\u5\d\(em1, 2\u2\d\u0\d\(em1
  306.  }
  307. _
  308. .T&
  309. cw(30p) | cw(54p) | lw(72p) | cw(36p) | cw(36p) .
  310. \ \ 8 | 48    G.742 [4], G.745 [5]     {
  311. G.921 [11], G.952 [12], G.956 [13]
  312.  }     {
  313. \(+- 30 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  314.  }    2\u1\d\u5\d\(em1
  315. _
  316. .T&
  317. cw(30p) | cw(54p) | lw(72p) | cw(36p) | cw(36p) .
  318. \ 32 | 64    G.752 [6]     {
  319. G.913 [15], G.953 [16], G.955 [10]
  320.  }     {
  321. \(+- 10 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  322.  }     {
  323. 2\u1\d\u5\d\(em1, 2\u2\d\u0\d\(em1
  324.  }
  325. _
  326. .T&
  327. cw(30p) | cw(54p) | lw(72p) | cw(36p) | cw(36p) .
  328. \ 34 | 68    G.751 [7]     {
  329. G.921 [11], G.954 [17], G.956 [13]
  330.  }     {
  331. \(+- 20 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  332.  }    2\u2\d\u3\d\(em1
  333. _
  334. .T&
  335. cw(30p) | cw(54p) | lw(72p) | cw(36p) | cw(36p) .
  336. \ 44 | 36    G.752 [6]     {
  337. G.914 [18], G.953 [16], G.955 [10]
  338.  }     {
  339. \(+- 20 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  340.  }     {
  341. 2\u1\d\u5\d\(em1, 2\u2\d\u0\d\(em1
  342.  }
  343. _
  344. .T&
  345. cw(30p) | cw(54p) | lw(72p) | cw(36p) | cw(36p) .
  346. 139 | 64    G.751 [7]     {
  347. G.921 [11], G.954 [17], G.956 [13]
  348.  }     {
  349. \(+- 15 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  350.  }    2\u2\d\u3\d\(em1  
  351. _
  352. .TE
  353. .nr PS 9
  354. .RT
  355. .ad r
  356. \fBTable 2/O.151 [T2.151], p.\fR 
  357. .sp 1P
  358. .RT
  359. .ad b
  360. .RT
  361. .PP
  362. \fINote\fR \ \(em\ Normally only the appropriate combination of bit rates
  363. \(em\ either 2048\ kbit/s, 8448\ kbit/s,\ etc. or 1544\ kbit/s, 6312\ kbit/s,\ 
  364. etc.\ \(em 
  365. will be provided in a given instrumentation.
  366. .sp 2P
  367. .LP
  368. \fB4\fR     \fBInterfaces\fR 
  369. .sp 1P
  370. .RT
  371. .PP
  372. The interface characteristics (impedances, levels, codes, etc.)
  373. should be in accordance with Recommendation\ G.703\ [19].
  374. .PP
  375. In addition to providing for terminated measurements the
  376. instrumentation shall also be capable of monitoring at protected test points 
  377. on digital equipment. Therefore, a high impedance and/or additional gain 
  378. should be provided to compensate for the loss at monitoring points already 
  379. provided on 
  380. some equipments.
  381. .RT
  382. .sp 2P
  383. .LP
  384. \fB5\fR     \fBError\(hyratio measuring range\fR 
  385. .sp 1P
  386. .RT
  387. .PP
  388. The receiving equipment of the instrumentation should be capable of measuring 
  389. bit\(hyerror ratios in the range 10\uD\dlF261\u3\d to 10\uD\dlF261\u8\d. 
  390. In addition, it should be possible to measure bit\(hyerror ratios of 10\uD\dlF261\u9\d 
  391. and 
  392. 10\uD\dlF261\u1\d\u0\d; this can be achieved by providing the capability 
  393. to count 
  394. cumulative errors.
  395. .RT
  396. .sp 2P
  397. .LP
  398. \fB6\fR     \fBMode of operation\fR 
  399. .sp 1P
  400. .RT
  401. .PP
  402. The mode of operation should be such that the signal to be tested is first 
  403. converted into a unipolar (binary) signal in the error measuring 
  404. instrument and subsequently the bit comparison is made also with a reference
  405. signal in binary form.
  406. .PP
  407. Facilities may \fIoptionally\fR  | e provided to allow the direct
  408. comparison at line code (e.g.\ AMI or HDB\(hy3) with correspondingly coded
  409. reference signals. In the case of such measurements polarity distinction is
  410. possible, so that errors caused by the injection or omission of positive or
  411. negative pulses can be determined separately.
  412. .bp
  413. .RT
  414. .sp 2P
  415. .LP
  416. \fB7\fR     \fBMeasurement of\fR 
  417. \fBerrored time intervals\fR 
  418. .sp 1P
  419. .RT
  420. .PP
  421. The instrument shall be capable of detecting errored seconds and
  422. other errored or 
  423. error\(hyfree time intervals
  424. as defined in \(sc\ 1.4
  425. of Recommendation\ G.821\ [20] and of deriving error performance reduced to
  426. 64\ kbit/s in accordance with Annex\ D to Recommendation\ G.821\ [20]
  427. .FS
  428. Error
  429. performance evaluation at bit rates other than 64\ kbit/s is under study.
  430. .FE
  431. . The number of errored or error\(hyfree time intervals in a selectable 
  432. observation period from 1\ minute to 24\ hours, or continuous, shall be 
  433. counted and 
  434. displayed.
  435. .PP
  436. For this measurement the error detection circuits of the instrument
  437. shall be controlled by an internal timer which sets intervals of equal 
  438. length and which operates independently of the occurrence of errors. 
  439. .RT
  440. .sp 2P
  441. .LP
  442. \fB8\fR     \fBOperating environment\fR 
  443. .sp 1P
  444. .RT
  445. .PP
  446. The electrical performance requirements shall be met when operating at 
  447. the climatic conditions as specified in Recommendation\ O.3, \(sc\ 2.1. 
  448. .RT
  449. .sp 2P
  450. .LP
  451.     \fBReferences\fR 
  452. .sp 1P
  453. .RT
  454. .LP
  455. [1]
  456.     CCITT Recommendation \fICharacteristics of primary PCM multiplex\fR 
  457. \fIequipment operating at 1544\ kbit/s\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.733.
  458. .LP
  459. [2]
  460.     CCITT Recommendation \fICharacteristics of primary PCM multiplex\fR 
  461. \fIequipment operating at 2048\ kbit/s\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.732.
  462. .LP
  463. [3]
  464.     CCITT Recommendation \fISecond\(hyorder digital multiplex equipment\fR 
  465. \fIoperating at 6312\ kbit/s and using positive justification\fR ,
  466. Vol.\ III, Rec.\ G.743.
  467. .LP
  468. [4]
  469.     CCITT Recommendation \fISecond\(hyorder digital multiplex equipment\fR 
  470. \fIoperating at 8448\ kbit/s and using positive justification\fR ,
  471. Vol.\ III, Rec.\ G.742.
  472. .LP
  473. [5]
  474.     CCITT Recommendation \fISecond\(hyorder digital multiplex equipment\fR 
  475. \fIoperating at 8448\ kbit/s and using positive/zero/negative\fR \fIjustification\fR 
  476. , Vol.\ III, Rec.\ G.745. 
  477. .LP
  478. [6]
  479.     CCITT Recommendation \fICharacteristics of digital multiplex\fR 
  480. \fIequipments based on a second\(hyorder bit rate of 6312\ kbit/s\fR \fIand 
  481. using positive justification\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.752. 
  482. .LP
  483. [7]
  484.     CCITT Recommendation \fIDigital multiplex equipments operating\fR 
  485. \fIat the third\(hyorder bit rate of 34 | 68\ kbit/s and the\fR \fIfourth\(hyorder 
  486. bit rate of 139 | 64\ kbit/s and using\fR \fIpositive justification\fR 
  487. , Vol.\ III, Rec.\ G.751. 
  488. .LP
  489. [8]
  490.      CCITT Recommendation \fIDigital line sections\fR \fIat 1544\ kbit/s\fR 
  491. , Vol.\ III, Rec.\ G.911. 
  492. .LP
  493. [9]
  494.     CCITT Recommendation \fIDigital line systems based on the\fR 
  495. \fI1544\ kbit/s hierarchy on symmetric pair cables,\fR Vol.\ III,
  496. Rec.\ G.951.
  497. .LP
  498. [10]
  499.     CCITT Recommendation \fIDigital line systems based on the\fR 
  500. \fI1544\ kbit/s hierarchy on optical fibre cables\fR , Vol.\ III,
  501. Rec.\ G.955.
  502. .LP
  503. [11]
  504.      CCITT Recommendation \fIDigital sections based on the\fR \fI2048\ kbit/s 
  505. hierarchy\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.921. 
  506. .LP
  507. [12]
  508.     CCITT Recommendation \fIDigital line systems based on the\fR 
  509. \fI2048\ kbit/s hierarchy on symmetric pair cables\fR , Vol.\ III,
  510. Rec.\ G.952.
  511. .LP
  512. [13]
  513.     CCITT Recommendation \fIDigital line systems based on the\fR 
  514. \fI2048\ kbit/s hierarchy on optical fibre cables\fR , Vol.\ III,
  515. Rec.\ G.956.
  516. .LP
  517. [14]
  518.     CCITT Recommendation \fIDigital line sections at 6312\ kbit/s\fR ,
  519. Vol.\ III, Rec.\ G.912.
  520. .LP
  521. [15]
  522.     CCITT Recommendation \fIDigital line sections at 32 | 64\ kbit/s\fR ,
  523. Vol.\ III, Rec.\ G.913.
  524. .LP
  525. [16]
  526.     CCITT Recommendation \fIDigital line systems based on the\fR 
  527. \fI1544\ kbit/s hierarchy on coaxial pair cables\fR , Vol.\ III,
  528. Rec.\ G.953.
  529. .LP
  530. [17]
  531.     CCITT Recommendation \fIDigital line systems based on the\fR 
  532. \fI2048\ kbit/s hierarchy on coaxial pair cables\fR , Vol.\ III,
  533. Rec.\ G.954.
  534. .LP
  535. [18]
  536.     CCITT Recommendation \fIDigital line sections at 44 | 36\ kbit/s\fR ,
  537. Vol.\ III, Rec.\ G.914.
  538. .LP
  539. [19]
  540.     CCITT Recommendation \fIPhysical/electrical characteristics of\fR 
  541. \fIhierarchical digital interfaces\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.703.
  542. .LP
  543. [20]
  544.     CCITT Recommendation \fIError performance on an international\fR 
  545. \fIdigital connection forming part of an integrated services digital\fR 
  546. \fInetwork\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.821.
  547. .bp
  548. .sp 2P
  549. .LP
  550. \fBRecommendation\ O.152\fR 
  551. .RT
  552. .sp 2P
  553. .sp 1P
  554. .ce 1000
  555. \fBERROR\ PERFORMANCE\ MEASURING\ EQUIPMENT\ FOR\ 64\ kbit/s\ PATHS\fR 
  556. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.152''
  557. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.152    %'
  558. .ce 0
  559. .sp 1P
  560. .ce 1000
  561. \fI(Malaga\(hyTorremolinos, 1984; amended, Melbourne, 1988)\fR 
  562. .sp 9p
  563. .RT
  564. .ce 0
  565. .sp 1P
  566. .PP
  567. The requirements for the characteristics of a 
  568. bit\(hyerror
  569. performance
  570. measuring equipment which are described below must be adhered to in order 
  571. to ensure compatibility between equipments standardized by the 
  572. CCITT, and produced by different manufacturers.
  573. .sp 1P
  574. .RT
  575. .sp 2P
  576. .LP
  577. \fB1\fR     \fBGeneral\fR 
  578. .sp 1P
  579. .RT
  580. .PP
  581. The set is designed to measure the bit\(hyerror performance of
  582. digital paths
  583. (operating at 64\ kbit/s) by the direct comparison of a
  584. pseudorandom test pattern
  585. with an identical locally generated test
  586. pattern.
  587. .RT
  588. .sp 2P
  589. .LP
  590. \fB2\fR     \fBTest patterns\fR 
  591. .sp 1P
  592. .RT
  593. .sp 1P
  594. .LP
  595. 2.1
  596.     \fIPseudorandom pattern\fR 
  597. .sp 9p
  598. .RT
  599. .PP
  600. This pattern is to be produced by means of a 
  601. shift
  602. register
  603. incorporating appropriate feedback (see Figure\ 1/O.152):
  604. .RT
  605. .ad r
  606.     Number of shift register stages
  607. \ \ 11
  608. \v'2p'
  609. .ad b
  610. .RT
  611. .ad r
  612.     Pattern length
  613. \ \ 2\u1\d\u1\d \(em 1 = 2047 bits
  614. \v'2p'
  615. .ad b
  616. .RT
  617. .LP
  618.     Feedback
  619.      taken from the outputs of the 9th and 11th stage via an exclusive\(hyOR\(hygate 
  620. to the first stage 
  621. .ad r
  622.     Longest sequence of zeros
  623. \ \ 10 (non\(hyinverted signal)
  624. \v'2p'
  625. .ad b
  626. .RT
  627. .PP
  628. \fINote\ 1\fR \ \(em\ In the case of international testing where the
  629. measurement includes systems based on 1544\ kbit/s it is necessary to modify 
  630. the test sequence in such a way that more than seven consecutive \*Q0\*U\(hybits 
  631. are 
  632. avoided. This is achieved by forcing the output signal to \*Q1\*U whenever 
  633. the next 7\ bits of the sequence are all zeros. 
  634. .PP
  635. \fINote\ 2\fR \ \(em\ It is recommended to use the 
  636. test pattern of
  637. 2047\ bit length
  638. also at other bit rates in the range 48\ kbit/s to
  639. 168\ kbit/s.
  640. .RT
  641. .LP
  642. .rs
  643. .sp 17P
  644. .ad r
  645. \fBFigure 1/O.152, p.\fR 
  646. .sp 1P
  647. .RT
  648. .ad b
  649. .RT
  650. .LP
  651. .bp
  652. .sp 1P
  653. .LP
  654. 2.2
  655.     \fIFixed patterns\fR  | optional)\fR 
  656. .sp 9p
  657. .RT
  658. .PP
  659. Fixed patterns of all ones (. |  |  | 111 |  |  | ) and alternating ones 
  660. and zeros (. |  |  | 010 |  |  | ) may be provided. 
  661. .RT
  662. .sp 2P
  663. .LP
  664. \fB3\fR     \fBBit rate\fR 
  665. .sp 1P
  666. .RT
  667. .PP
  668. Bit rate in accordance with CCITT Recommendations\ G.703, \(sc\ 1\ [1]
  669. and V.36\ [2] of 64\ kbit/s:
  670. .RT
  671. .LP
  672.     a)
  673.     bit rate tolerance (Recommendation G.703 [1]):
  674. \(+- | 00 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d,
  675. .LP
  676.     b)
  677.     bit rate tolerance (Recommendation V.36 [2]), optional:
  678. \(+- | 0\ \(mu\ 10\uD\dlF261\u6\d.
  679. .sp 2P
  680. .LP
  681. \fB4\fR     \fBInterfaces\fR 
  682. .sp 1P
  683. .RT
  684. .PP
  685. The interface characteristics (impedances, levels, codes, etc.)
  686. should be in accordance with Recommendations\ G.703\ [1], I.430\ [7]\ (optional) 
  687. and\ V.11\ [3]\ (optional).
  688. .PP
  689. In addition to providing for terminated measurements the measuring set 
  690. shall also be capable of monitoring at protected test points on digital 
  691. equipment. Therefore, a high impedance and/or additional gain must be provided 
  692. to compensate for the loss at monitoring points already provided on some 
  693. equipments.
  694. .RT
  695. .sp 1P
  696. .LP
  697. 4.1
  698.     \fIInterfaces corresponding to Recommendation G.703\fR [1]
  699. .sp 9p
  700. .RT
  701. .PP
  702. Three interfaces shall be provided:
  703. .RT
  704. .LP
  705.     a)
  706.     a codirectional interface in accordance with
  707. Recommendation\ G.703, \(sc\ 1.2.1\ [1],
  708. .LP
  709.     b)
  710.     a centralized clock interface in accordance with
  711. Recommendation\ G.703, \(sc\ 1.2.2\ [1],
  712. .LP
  713.     c)
  714.     a contradirectional interface in accordance with
  715. Recommendation\ G.703, \(sc\ 1.2.3\ [1].
  716. .sp 1P
  717. .LP
  718. 4.2
  719.     \fIMethod of\fR 
  720. \fIclock synchronization\fR 
  721. .sp 9p
  722. .RT
  723. .PP
  724. The following modes of synchronization shall be
  725. selectable:
  726. .RT
  727. .LP
  728.     a)
  729.     Lock the digital generator clock rate to that at the input
  730. of the receive side of the measuring set (for the codirectional
  731. interface).
  732. .LP
  733.     b)
  734.     Allow the generator clock to free run within the overall
  735. allowed frequency tolerances.
  736. .LP
  737.     c)
  738.     Lock the digital generator clock rate to an external clock
  739. signal. (Configuration of input for external clock in accordance
  740. with Recommendation\ G.703\ [1].)
  741. .sp 1P
  742. .LP
  743. 4.3
  744.     \fIInterface corresponding to Recommendation I.430 [7]\fR 
  745. .sp 9p
  746. .RT
  747. .PP
  748. For further study. This study should include means for obtaining
  749. access to the individual 64\ kbit/s channels at the\ S and T\ interface
  750. points.
  751. .RT
  752. .sp 1P
  753. .LP
  754. 4.4
  755.     \fIInterface corresponding to Recommendation V.11 [3]\fR 
  756. .sp 9p
  757. .RT
  758. .PP
  759. As an option an interface in accordance with
  760. Recommendation\ V.11\ [3] shall be provided.
  761. .RT
  762. .sp 2P
  763. .LP
  764. \fB5\fR     \fBBit\(hyerror\(hyratio measuring range\fR 
  765. .sp 1P
  766. .RT
  767. .PP
  768. The receiving equipment of the set should be capable of measuring bit\(hyerror 
  769. ratios in the range 10\uD\dlF261\u2\d to 10\uD\dlF261\u7\d. The measurement 
  770. time 
  771. should be sufficiently long to achieve accurate measurements. In addition, 
  772. it should be possible to measure bit\(hyerror ratios smaller than 10\uD\dlF261\u7\d; 
  773. this 
  774. can be achieved by providing the capability to count cumulative errors.
  775. .RT
  776. .sp 2P
  777. .LP
  778. \fB6\fR     \fBBlock\(hyerror ratio measurements\fR 
  779. .sp 1P
  780. .RT
  781. .PP
  782. Optionally, the instrument should be capable to perform block\(hyerror 
  783. measurements in addition to the bit\(hyerror measurements. If provided 
  784. it should be possible to measure block\(hyerror ratios in the range 10\uD\dlF261\u0\d 
  785. to 10\uD\dlF261\u5\d when using the pseudorandom test pattern with a block 
  786. length of 
  787. 2047\ bits.
  788. .bp
  789. .RT
  790. .sp 2P
  791. .LP
  792. \fB7\fR     \fBMode of operation\fR 
  793. .sp 1P
  794. .RT
  795. .PP
  796. The mode of operation should be such that the signal to be tested is first 
  797. converted into a unipolar (binary) signal in the error measuring 
  798. instrument and subsequently the bit comparison is made also with a reference
  799. signal in binary form.
  800. .RT
  801. .sp 2P
  802. .LP
  803. \fB8\fR     \fBError evaluation\fR 
  804. .sp 1P
  805. .RT
  806. .sp 1P
  807. .LP
  808. 8.1
  809.     \fIMeasurement of\fR 
  810. \fIerrored time intervals\fR 
  811. .sp 9p
  812. .RT
  813. .PP
  814. The instrument shall be capable of detecting errored seconds and
  815. other errored or error\(hyfree time intervals as defined by
  816. Recommendation\ G.821\ [4]. The number of errored or error\(hyfree time 
  817. intervals in a selectable observation period from 1\ minute to 24\ hours, 
  818. or continuous, shall be counted and displayed. 
  819. .PP
  820. For this measurement the error detection circuits of the instrument
  821. shall be controlled by an internal timer which sets intervals of equal 
  822. length and which operates independently of the occurrence of errors. 
  823. .RT
  824. .sp 2P
  825. .LP
  826. 8.2
  827.     \fIMeasurement of short\(hyterm mean error ratio\fR 
  828. .sp 1P
  829. .RT
  830. .PP
  831. 8.2.1
  832. It shall be possible to record the time intervals as defined in Recommendation\ 
  833. G.821\ [4], during which the bit\(hyerror ratio is less than 
  834. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d.
  835. .sp 9p
  836. .RT
  837. .PP
  838. 8.2.2
  839. It shall be possible to record the one\(hysecond intervals during
  840. which the bit\(hyerror ratio is less than 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u3\d.
  841. .sp 2P
  842. .LP
  843. \fB9\fR     \fBRecording of measurement results\fR 
  844. .sp 1P
  845. .RT
  846. .PP
  847. As an option an interface shall be provided which allows connecting external 
  848. equipment for further processing the measuring results. 
  849. .PP
  850. The interface shall comply with Recommendation\ V.24\ [5] or the
  851. interface bus according to IEC Publication\ 625\ [6].
  852. .RT
  853. .sp 2P
  854. .LP
  855. \fB10\fR     \fBOperating environment\fR 
  856. .sp 1P
  857. .RT
  858. .PP
  859. The electrical performance requirements shall be met when operating at 
  860. the climatic conditions as specified in Recommendation\ O.3, \(sc\ 2.1. 
  861. .RT
  862. .sp 2P
  863. .LP
  864.     \fBReferences\fR 
  865. .sp 1P
  866. .RT
  867. .LP
  868. [1]
  869.     CCITT Recommendation \fIPhysical/electrical characteristics of\fR 
  870. \fIhierarchical digital interfaces\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.703.
  871. .LP
  872. [2]
  873.      CCITT Recommendation \fIModems for synchronous data transmission using\fR 
  874. \fI60\(hy108 kHz group band circuits\fR , Vol.\ VIII, Rec.\ V.36. 
  875. .LP
  876. [3]
  877.     CCITT Recommendation \fIElectrical characteristics for balanced\fR 
  878. \fIdouble\(hycurrent interchange circuits for general use with integrated\fR 
  879. \fIcircuit equipment in the field of data communications\fR , Vol.\ VIII,
  880. Rec.\ V.11.
  881. .LP
  882. [4]
  883.     CCITT Recommendation \fIError performance on an international\fR 
  884. \fIdigital connection forming part of an integrated services digital\fR 
  885. \fInetwork\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.821.
  886. .LP
  887. [5]
  888.     CCITT Recommendation \fIList of definitions for interchange\fR 
  889. \fIcircuits between data terminal equipment and data circuit\(hyterminating\fR 
  890. \fIequipment\fR , Vol.\ VIII, Rec.\ V.24.
  891. .LP
  892. [6]
  893.     IEC Publication 625 \fIAn Interface system for programmable measuring\fR 
  894. \fIinstruments (byte serial, bit parallel)\fR .
  895. .LP
  896. [7]
  897.      CCITT Recommendation \fIBasic user\(hynetwork interface\(hyLayer/Specification\fR 
  898. , Vol.\ III, Recommendation\ I.430. 
  899. .bp
  900. .sp 2P
  901. .LP
  902. \fBRecommendation\ O.153\fR 
  903. .RT
  904. .sp 2P
  905. .ce 1000
  906. \fBBASIC\ PARAMETERS\ FOR\ THE\ MEASUREMENT\ OF\fR 
  907. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.153''
  908. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.153    %'
  909. .ce 0
  910. .sp 1P
  911. .ce 1000
  912. \fBERROR\ PERFORMANCE\ AT\ BIT\ RATES\ BELOW\ THE\ PRIMARY\ RATE\fR 
  913. .ce 0
  914. .sp 1P
  915. .ce 1000
  916. \fI(Melbourne, 1988)\fR 
  917. .sp 9p
  918. .RT
  919. .ce 0
  920. .sp 1P
  921. .PP
  922. The requirements for the characteristics of error measuring
  923. instrumentation which are described below must be adhered to in order to 
  924. ensure compatibility between equipments standardized by the CCITT and produced 
  925. by 
  926. different manufacturers.
  927. .sp 1P
  928. .RT
  929. .PP
  930. While requirements are given for the instrumentation, the
  931. realization of the equipment configuration is not covered and should be 
  932. given careful consideration by the designer and user. In particular, it 
  933. is not 
  934. required that all features listed below shall be provided in one instrument.
  935. Administrations may select those functions which correspond best to their
  936. applications.
  937. .PP
  938. When selecting functions, Administrations may also consider other
  939. Recommendations dealing with error measuring equipment,
  940. e.g.\ Recommendations\ O.151 and\ O.152.
  941. .RT
  942. .sp 2P
  943. .LP
  944. \fB1\fR     \fBGeneral\fR 
  945. .sp 1P
  946. .RT
  947. .PP
  948. The instrumentation is designed to measure the error performance on data 
  949. circuits operating at bit rates between\ 0.050 and 168\ kbit/s. The 
  950. measurement is based on the direct comparison of specified test patterns 
  951. which are transmitted through the circuit under test with identical patterns 
  952. generated at the receive side. Synchronous and asynchronous operation shall 
  953. be possible. 
  954. .RT
  955. .sp 2P
  956. .LP
  957. \fB2\fR     \fBTest patterns\fR 
  958. .sp 1P
  959. .RT
  960. .PP
  961. The following test patterns are standardized (see Note):
  962. .PP
  963. \fINote\fR \ \(em\ The use of certain test patterns may be restricted to
  964. synchronous or asynchronous operation only. It shall be possible to transmit
  965. the patterns for an unlimited time.
  966. .RT
  967. .sp 1P
  968. .LP
  969. 2.1
  970.     \fI511\(hybit pseudorandom test pattern\fR 
  971. .sp 9p
  972. .RT
  973. .PP
  974. This pattern is primarily intended for error measurements at bit
  975. rates up to 14 | 00\ bit/s (see \(sc\ 3.1 below).
  976. .PP
  977. The pattern may be generated in a nine\(hystage shift\(hyregister whose 
  978. 5th and 9th stage outputs are added in a modulo\(hytwo addition stage, 
  979. and the result is fed back to the input of the first stage. The pattern 
  980. begins with the first ONE of 9\ consecutive ONES. 
  981. .RT
  982. .LP
  983.     Number of shift\(hyregister stages
  984. \ 9
  985. .LP
  986.     Length of the pseudorandom sequence
  987. \ 2\u9\d \(em 1 = 511 bits
  988. .LP
  989.     Longest sequence of zeros
  990. \ 8 (non\(hyinverted signal)
  991. .sp 1P
  992. .LP
  993. 2.2
  994.     \fI2047\(hybit pseudorandom test pattern\fR 
  995. .sp 9p
  996. .RT
  997. .PP
  998. If provided, this pattern is primarily intended for error
  999. measurements at bit rates of 64\ kbit/s (see \(sc\ 3.3 below).
  1000. .PP
  1001. The pattern may be generated in an eleven\(hystage shift\(hyregister whose 
  1002. 9th and 11th stage outputs are added in a modulo\(hytwo addition stage, 
  1003. and the 
  1004. result is fed back to the input of the first stage. (See also
  1005. Rec.\ O.152)
  1006. .RT
  1007. .LP
  1008.     Number of shift\(hyregister stages
  1009. \ 11
  1010. .LP
  1011.     Length of the pseudorandom sequence
  1012. \ 2\u1\d\u1\d \(em 1 =
  1013. 2047\ bits
  1014. .LP
  1015.     Longest sequence of zeros
  1016. \ 10 (non\(hyinverted signal)
  1017. .bp
  1018. .sp 1P
  1019. .LP
  1020. 2.3
  1021.     \fI1048.575 kbits pseudorandom test pattern\fR 
  1022. .sp 9p
  1023. .RT
  1024. .PP
  1025. This pattern is primarily intended for error measurements at bit
  1026. rates up to 72\ kbit/s (see \(sc\ 3.2 below).
  1027. .PP
  1028. The pattern may be generated in a twenty\(hystage shift\(hyregister whose
  1029. 3rd and 20th stage outputs are added in a modulo\(hytwo addition stage, and the
  1030. result is fed back to the input of the first stage.
  1031. .RT
  1032. .LP
  1033.     Number of shift\(hyregister stages
  1034. \ 20
  1035. .LP
  1036.     Length of the pseudorandom sequence
  1037. \ 2\u2\d\u0\d \(em 1 =
  1038. 1048.575\ kbits
  1039. .LP
  1040.     Longest sequence of zeros
  1041. \ 19 (non\(hyinverted signal)
  1042. .PP
  1043. \fINote\fR \ \(em\ This test pattern is not identical with the pattern of
  1044. the same length specified in Recommendation\ O.151.
  1045. .sp 1P
  1046. .LP
  1047. 2.4
  1048.     \fIFixed test patterns\fR  | for continuity tests)
  1049. \v'3p'
  1050. .sp 9p
  1051. .RT
  1052. .LP
  1053.     \(em
  1054.     Permanent space
  1055. .LP
  1056.     \(em
  1057.     Permanent mark
  1058. .LP
  1059.     \(em
  1060.      Alternating space/mark with a ratio of: 1 |  | , 1 |  | , 1 |  | , 3 |  | , 
  1061. 7 |  |  
  1062. .LP
  1063.     \(em
  1064.     \*QQuick brown fox\*U \(em text (QBF) [1] (asynchronous mode
  1065. only).
  1066. .sp 1P
  1067. .LP
  1068. 2.5
  1069.     \fIProgrammable test patterns\fR 
  1070. .sp 9p
  1071. .RT
  1072. .PP
  1073. A freely programmable pattern with a length of at least 1024\ bits is recommended. 
  1074. .RT
  1075. .sp 2P
  1076. .LP
  1077. \fB3\fR     \fBBit rates\fR 
  1078. .sp 1P
  1079. .RT
  1080. .PP
  1081. The instrumentation shall provide for measurements at bit rate
  1082. ranges as specified in the categories below.
  1083. .RT
  1084. .sp 1P
  1085. .LP
  1086. 3.1
  1087.     \fIData transmission via telephone\(hytype circuits using modems\fR \v'3p'
  1088. .sp 9p
  1089. .RT
  1090. .LP
  1091.     \(em
  1092.     Bit rate range 50 bit/s to 19 | 00 bit/s.
  1093. .PP
  1094. (See Recommendations\ V.5\ [2] and\ V.6\ [3] for details).
  1095. .PP
  1096. \fINote\fR \ \(em\ Modems operating at bit rates above 14 | 00 bit/s
  1097. are not covered by CCITT Recommendations.
  1098. .RT
  1099. .sp 1P
  1100. .LP
  1101. 3.2
  1102.     \fIData transmission via group\(hyband circuits using wideband\fR 
  1103. \fImodems\fR \v'3p'
  1104. .sp 9p
  1105. .RT
  1106. .LP
  1107.     \(em
  1108.     Bit rate range 48 kbit/s to 168 kbit/s.
  1109. .PP
  1110. (See Recommendations\ V.36\ [4] and\ V.37\ [5] for details).
  1111. .sp 1P
  1112. .LP
  1113. 3.3
  1114.     \fIData transmisison at and above 64 kbit/s\fR 
  1115. .sp 9p
  1116. .RT
  1117. .PP
  1118. With regard to error performance measurements at 64 kbit/s,
  1119. relevant information can be found in Recommendation\ O.152.
  1120. .PP
  1121. Information on measurements at primary bit rates is contained in
  1122. Recommendation\ O.151.
  1123. .RT
  1124. .sp 1P
  1125. .LP
  1126. 3.4
  1127.     \fIDeviation from nominal bit rate\fR 
  1128. .sp 9p
  1129. .RT
  1130. .PP
  1131. For bit rates up to 9600 bit/s the maximum deviation from the
  1132. nominal bit rate shall be \(=\ 0.01% if timing is not derived from the object
  1133. under test.
  1134. .PP
  1135. For the higher bit rates the maximum deviation shall be \(=\ 0.002% if
  1136. timing is not derived from the object under test.
  1137. .RT
  1138. .sp 1P
  1139. .LP
  1140. 3.5
  1141.     \fIClock sources\fR 
  1142. .sp 9p
  1143. .RT
  1144. .PP
  1145. Clock signals are provided through the interface, via an external synchronisation 
  1146. input or from an internal clock generator. 
  1147. .bp
  1148. .RT
  1149. .sp 2P
  1150. .LP
  1151. \fB4\fR     \fBInterfaces\fR 
  1152. .sp 1P
  1153. .RT
  1154. .PP
  1155. \fB
  1156. Depending on the application and the bit rate, one or several of
  1157. the following interfaces shall be provided:
  1158. .RT
  1159. .LP
  1160.     \(em
  1161.     Interface according to Recommendation V.10 (X.26) [6]
  1162. .LP
  1163.     \(em
  1164.     Interface according to Recommendation V.11 (X.27) [7]
  1165. .LP
  1166.     \(em
  1167.     Interface according to Recommendations V.24/V.28 [8]\ [9]
  1168. .LP
  1169.     \(em
  1170.     Interface according to Recommendation V.35\ [10]
  1171. .LP
  1172.     \(em
  1173.     Interface according to Recommendation V.36 [4]
  1174. .LP
  1175.     \(em
  1176.     Interface according to
  1177. Recommendations\ X.21/X.24\ [11]\ [12].
  1178. .sp 2P
  1179. .LP
  1180. \fB5\fR     \fBModes of operation\fR 
  1181. .sp 1P
  1182. .RT
  1183. .PP
  1184. The instrumentation must fully simulate the characteristics of a
  1185. DTE and/or a DCE in half duplex and/or full duplex mode. This includes the
  1186. relevant software or hardware handshaking procedures. In synchronous half
  1187. duplex mode, the test pattern shall be preceded by two or more leading pads
  1188. (i.e.\ characters with alternating mark and space bits) to enable clock
  1189. recovery. These pads shall be followed by two or more block\(hysynchronization
  1190. characters.
  1191. .PP
  1192. If the mode of operation requires, it shall be possible to select the parity 
  1193. check conditions even, odd, mark and space. 
  1194. .PP
  1195. \fINote\fR \ \(em\ The insertion of parity check bits is normally not possible 
  1196. when using pseudorandom test patterns. 
  1197. .RT
  1198. .sp 2P
  1199. .LP
  1200. \fB6\fR     \fBBit of synchronization\fR 
  1201. .sp 1P
  1202. .RT
  1203. .PP
  1204. Two modes of synchronization shall be possible:
  1205. .RT
  1206. .LP
  1207.     \(em
  1208.     Synchronization by means of a timing signal derived from the
  1209. object under test (e.g.\ from a modem operating in the
  1210. synchronous mode).
  1211. .LP
  1212.     \(em
  1213.     Synchronization from the transitions of the received test
  1214. signal (e.g.\ when a modem is operating in the nonsynchronous
  1215. mode).
  1216. .sp 2P
  1217. .LP
  1218. \fB7\fR     \fBCodes\fR 
  1219. .sp 1P
  1220. .RT
  1221. .PP
  1222. For encoding the QBF\(hytext or a freely programmable pattern, the
  1223. following data signal code shall be provided:
  1224. .RT
  1225. .LP
  1226.     \(em
  1227.     CCITT Alphabet No. 5 with 7 bits/character [13]
  1228. .PP
  1229. For asynchronous operation 1 or 2 stop bits shall be
  1230. selectable.
  1231. .sp 2P
  1232. .LP
  1233. \fB8\fR     \fBError measurements and error evaluation\fR 
  1234. .sp 1P
  1235. .RT
  1236. .sp 1P
  1237. .LP
  1238. 8.1
  1239.     \fIBit error measurements\fR 
  1240. .sp 9p
  1241. .RT
  1242. .PP
  1243. The range for error ratio measurements shall be 10\uD\dlF261\u2\d to
  1244. 10\uD\dlF261\u7\d. The measurement time shall be sufficiently long to achieve 
  1245. accurate results. 
  1246. .PP
  1247. Error ratios smaller than 10\uD\dlF261\u7\d can be observed by providing 
  1248. the capability to count cumulative errors. 
  1249. .RT
  1250. .sp 1P
  1251. .LP
  1252. 8.2
  1253.     \fIBlock error measurements\fR 
  1254. .sp 9p
  1255. .RT
  1256. .PP
  1257. It shall be possible to perform block error measurements. The block length 
  1258. shall be selectable to\ 1000 or 10 | 00\ bits or shall be equal to the 
  1259. length of the pseudorandom sequence used for the error test. In addition, a
  1260. block length of 32 | 68\ bits shall be provided for measurements at bit rates
  1261. above 14.4\ kbit/s.
  1262. .PP
  1263. The range for block error ratio measurements shall be 10\uD\dlF261\u0\d to
  1264. 10\uD\dlF261\u5\d with measurement times being sufficiently long to achieve 
  1265. accurate results. 
  1266. .RT
  1267. .sp 1P
  1268. .LP
  1269. 8.3
  1270.     \fISimultaneous measurements\fR 
  1271. .sp 9p
  1272. .RT
  1273. .PP
  1274. It shall be possible to perform bit error ratio and block error
  1275. ratio measurements simultaneously.
  1276. .bp
  1277. .RT
  1278. .sp 1P
  1279. .LP
  1280. 8.4
  1281.     \fIError performance evaluation\fR 
  1282. .sp 9p
  1283. .RT
  1284. .PP
  1285. The instrumentation shall be capable of detecting errored seconds. The 
  1286. number of errored and error\(hyfree time intervals in a selectable time 
  1287. period from 1\ minute to 24\ hours, or continuous, shall be counted and 
  1288. displayed. 
  1289. .PP
  1290. For this measurement the error detection circuits of the
  1291. instrumentation shall be controlled by an internal timer which sets intervals 
  1292. of equal length and which operates independently of the occurrence of errors. 
  1293. .PP
  1294. The measurement of other error performance parameters and the
  1295. application of Recommendation\ G.821\ [14] are under study.
  1296. .RT
  1297. .sp 2P
  1298. .LP
  1299. \fB9\fR     \fBMeasurement of distortion\fR 
  1300. .sp 1P
  1301. .RT
  1302. .PP
  1303. If the instrumentation provides for distortion measurements, the
  1304. following specifications are applicable:
  1305. .RT
  1306. .sp 1P
  1307. .LP
  1308. 9.1
  1309.     \fIMeasurement of individual distortion\fR 
  1310. .sp 9p
  1311. .RT
  1312. .PP
  1313. The degrees of early and late individual distortion shall be
  1314. measured when the instrumentation is operating in the mode in which
  1315. synchronization is derived from transitions in the received test signal.
  1316. .PP
  1317. When using pseudorandom test signals, the measuring error shall be
  1318. less than \(+- | %.
  1319. .RT
  1320. .sp 1P
  1321. .LP
  1322. 9.2
  1323.     \fIMeasurement of bias distortion\fR 
  1324. .sp 9p
  1325. .RT
  1326. .PP
  1327. The instrumentation shall measure bias distortion on reversals
  1328. (alternating space/mark with a ration of\ 1 |  | ).
  1329. .PP
  1330. In this mode, the measuring error shall be less than \(+- | %.
  1331. .RT
  1332. .sp 2P
  1333. .LP
  1334. \fB10\fR     \fBRemote control, recording of measurement results\fR 
  1335. .sp 1P
  1336. .RT
  1337. .PP
  1338. As an option, an interface shall be provided which allows remote
  1339. control of the instrumentation and further processing of the measuring
  1340. results.
  1341. .PP
  1342. If provided, the interface shall comply with the interface bus
  1343. according to IEC Publication\ 625\ [15] or with Recommendation\ V.24\ [8].
  1344. .RT
  1345. .sp 2P
  1346. .LP
  1347. \fB11\fR     \fBOperating environment\fR 
  1348. .sp 1P
  1349. .RT
  1350. .PP
  1351. The electrical performance requirements shall be met when operating at 
  1352. climatic conditions as specified in Rec.\ O.3, \(sc\ 2.1. 
  1353. .RT
  1354. .sp 2P
  1355. .LP
  1356.     \fBReferences\fR 
  1357. .sp 1P
  1358. .RT
  1359. .LP
  1360. [1]
  1361.      CCITT Recommendation \fIStandardization of international texts for the\fR 
  1362. \fImeasurement of the margin of start\(hystop equipment\fR , Vol.\ VII, 
  1363. Rec.\ R.52. 
  1364. .LP
  1365. [2]
  1366.     CCITT Recommendation \fIStandardization of data signalling rates for\fR 
  1367. \fIsynchronous data transmission in the general switched telephone network\fR ,
  1368. Vol.\ VIII, Rec.\ V.5.
  1369. .LP
  1370. [3]
  1371.     CCITT Recommendation \fIStandardization of data signalling rates for\fR 
  1372. \fIsynchronous data transmission on leased telephone\(hytype circuits\fR 
  1373. , Vol.\ VIII, Rec.\ V.6. 
  1374. .LP
  1375. [4]
  1376.      CCITT Recommendation \fIModems for synchronous data transmission using\fR 
  1377. \fI60\(hy108 kHz group band circuits\fR , Vol.\ VIII, Rec.\ V.36. 
  1378. .LP
  1379. [5]
  1380.     CCITT Recommendation \fISynchronous data transmission at a data\fR 
  1381. \fIsignalling rate higher than 72 kbit/s using 60\(hy108 kHz group band 
  1382. circuits\fR ,\fR Vol.\ VIII, Rec.\ V.37. 
  1383. .LP
  1384. [6]
  1385.     CCITT Recommendation \fIElectrical characteristics for unbalanced\fR 
  1386. \fIdouble\(hycurrent interchange circuits for general use with integrated 
  1387. circuit\fR \fIequipment in the field of data communications\fR , Vol.\ 
  1388. VIII, Rec.\ V.10. 
  1389. .LP
  1390. [7]
  1391.     CCITT Recommendation \fIElectrical characteristics for balanced\fR 
  1392. \fIdouble\(hycurrent interchange circuits for general use with integrated 
  1393. circuit\fR \fIequipment in the field of data communications\fR , Vol.\ 
  1394. VIII, Rec.\ V.11. 
  1395. .bp
  1396. .LP
  1397. [8]
  1398.     CCITT Recommendation \fIList of definitions for interchange circuits\fR 
  1399. \fIbetween data terminal equipment and data circuit\(hyterminating equipment\fR 
  1400. , 
  1401. Vol.\ VIII, Rec.\ V.24.
  1402. .LP
  1403. [9]
  1404.     CCITT Recommendation \fIElectrical characteristics for unbalanced\fR 
  1405. \fIdouble\(hycurrent interchange circuits\fR , Vol.\ VIII, Rec.\ V.28.
  1406. .LP
  1407. [10]
  1408.      CCITT Recommendation \fIData transmission at 48 kbit/s using 60\(hy108 
  1409. kHz\fR \fIgroup band circuits\fR , Vol.\ VIII, Rec.\ V.35. 
  1410. .LP
  1411. [11]
  1412.      CCITT Recommendation \fIInterface between data terminal equipment (DTE)\fR 
  1413. \fIand data circuit\(hyterminating equipment (DCE) for synchronous operation 
  1414. on\fR 
  1415. \fIpublic data networks\fR , Vol.\ VIII, Rec.\ X.21.
  1416. .LP
  1417. [12]
  1418.     CCITT Recommendation \fIList of definitions for interchange circuits\fR 
  1419. \fIbetween data terminal equipment (DTE) and data circuit\(hyterminating 
  1420. equipment\fR \fI(DCE) on public data networks\fR , Vol.\ VIII, Rec.\ X.24. 
  1421. .LP
  1422. [13]
  1423.     CCITT Recommendation \fIInternational Alphabet No. 5\fR , Vol.\ VII,
  1424. Rec.\ T.50.
  1425. .LP
  1426. [14]
  1427.      CCITT Recommendation \fIError performance of an international digital\fR 
  1428. \fIconnection forming part of an integrated digital network\fR , Vol.\ 
  1429. III, 
  1430. Rec.\ G.821.
  1431. .LP
  1432. [15]
  1433.      IEC Publication 624 \fIAn interface system for programmable measuring\fR 
  1434. \fIinstruments (byte serial, bit parallel)\fR . 
  1435. \v'6p'
  1436. .sp 2P
  1437. .LP
  1438. \fBRecommendation\ O.161\fR 
  1439. .RT
  1440. .sp 2P
  1441. .sp 1P
  1442. .ce 1000
  1443. \fBIN\(hySERVICE\ CODE\ VIOLATION\ MONITORS\ FOR\ DIGITAL\ SYSTEMS\fR 
  1444. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.161''
  1445. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.161    %'
  1446. .ce 0
  1447. .sp 1P
  1448. .ce 1000
  1449. \fI(Geneva, 1980; amended Malaga\(hyTorremolinos, 1984)\fR 
  1450. .sp 9p
  1451. .RT
  1452. .ce 0
  1453. .sp 1P
  1454. .LP
  1455. \fB1\fR     \fBGeneral\fR 
  1456. .sp 1P
  1457. .RT
  1458. .PP
  1459. This specification describes an in\(hyservice code violation monitor for 
  1460. the first and second level in the digital transmission hierarchy. 
  1461. .PP
  1462. The pseudoternary codes to be monitored are alternate mark inversion (AMI), 
  1463. high density bipolar with a maximum of 3 consecutive zeros (HDB3), 
  1464. B6ZS and B8ZS.
  1465. .RT
  1466. .sp 2P
  1467. .LP
  1468. \fB2\fR     \fBDefinition of\fR 
  1469. \fBcode violation\fR 
  1470. .FS
  1471. According to the
  1472. definitions of code violations in this Recommendation it should be taken 
  1473. into account that the code violation monitor will not detect zero sequences 
  1474. which 
  1475. violate the relevant coding rules.
  1476. .FE
  1477. .sp 1P
  1478. .RT
  1479. .sp 1P
  1480. .LP
  1481. 2.1
  1482.     \fIAMI\fR 
  1483. .sp 9p
  1484. .RT
  1485. .PP
  1486. Two consecutive marks of the same polarity. This may not be the
  1487. absolute number of errors.
  1488. .RT
  1489. .sp 1P
  1490. .LP
  1491. 2.2
  1492.     \fIHDB3\fR 
  1493. .sp 9p
  1494. .RT
  1495. .PP
  1496. Two consecutive bipolar violations of the same polarity. This may not be 
  1497. the absolute number of errors. 
  1498. .RT
  1499. .sp 1P
  1500. .LP
  1501. 2.3
  1502.     \fIB6ZS\fR 
  1503. .sp 9p
  1504. .RT
  1505. .PP
  1506. Two consecutive marks of the same polarity excluding violations
  1507. caused by the zero substitution code. This may not be the absolute number of
  1508. errors.
  1509. .RT
  1510. .sp 1P
  1511. .LP
  1512. 2.4
  1513.     \fIB8ZS\fR 
  1514. .sp 9p
  1515. .RT
  1516. .PP
  1517. Two consecutive marks of the same polarity excluding violations
  1518. caused by the 
  1519. zero substitution code
  1520. . This may not be the absolute
  1521. number or errors.
  1522. .bp
  1523. .RT
  1524. .sp 2P
  1525. .LP
  1526. \fB3\fR     \fBInput signal\fR 
  1527. .sp 1P
  1528. .RT
  1529. .sp 1P
  1530. .LP
  1531. 3.1
  1532.     \fIInterface\fR 
  1533. .sp 9p
  1534. .RT
  1535. .PP
  1536. The code violation monitor shall be capable of operating at the
  1537. following bit rates and corresponding interface characteristics as described 
  1538. in the appropriate paragraphs of Recommendation\ G.703\ [1]: 
  1539. .RT
  1540. .LP
  1541.     a)
  1542.     1544 kbit/s;
  1543. .LP
  1544.     b)
  1545.     6312 kbit/s;
  1546. .LP
  1547.     c)
  1548.     2048 kbit/s;
  1549. .LP
  1550.     d)
  1551.     8448 kbit/s.
  1552. .sp 2P
  1553. .LP
  1554. 3.2
  1555.     \fIInstrument operation\fR 
  1556. .sp 1P
  1557. .RT
  1558. .PP
  1559. 3.2.1
  1560. The instrument may be equipped to monitor only one or two of
  1561. the listed codes and operate at the appropriate bit rates for those codes.
  1562. .sp 9p
  1563. .RT
  1564. .sp 2P
  1565. .LP
  1566. 3.3
  1567.     \fIInput sensitivity\fR 
  1568. .sp 1P
  1569. .RT
  1570. .PP
  1571. 3.3.1
  1572. The instrument is required to operate satisfactorily under the following 
  1573. input conditions. 
  1574. .sp 9p
  1575. .RT
  1576. .PP
  1577. 3.3.1.1
  1578. Input impedances and levels in accordance with
  1579. Recommendation\ G.703\ [1].
  1580. .PP
  1581. 3.3.1.2
  1582. The instrument shall also be capable of monitoring at protected
  1583. test points on digital equipment. Therefore, a high impedance input and/or
  1584. additional gain of 30\ dB (40\ dB \(em see Note) shall be provided to compensate 
  1585. for the loss at the monitoring points already provided on some equipment. 
  1586. .PP
  1587. \fINote\fR \ \(em\ As an option for instruments operating at an interface 
  1588. of 1544\ kbit/s corresponding to the Recommendation cited in\ [1], the 
  1589. additional gain, where provided, shall be 40\ dB.
  1590. .PP
  1591. 3.3.1.3 
  1592. Additionally, the instrument is required to operate satisfactorily, in 
  1593. both the terminated and monitor mode, when connected to an interface output 
  1594. in accordance with Recommendation\ G.703\ [1] via a length of cable which 
  1595. can 
  1596. have an insertion loss of 0\ dB to 6\ dB at the half bit rate of the signal. 
  1597. The insertion loss of the cable at other frequencies will be proportional 
  1598. to\ 
  1599. @ sqrt { fIf\fR~ | } @ .
  1600. .sp 2P
  1601. .LP
  1602. 3.4
  1603.     \fIInput impedance\fR 
  1604. .sp 1P
  1605. .RT
  1606. .PP
  1607. 3.4.1
  1608. The instrument shall have a return loss better than 20\ dB under the conditions 
  1609. listed in Table\ 1/O.161. 
  1610. .sp 9p
  1611. .RT
  1612. .ce
  1613. \fBH.T. [T1.161]\fR 
  1614. .ce
  1615. TABLE\ 1/O.161
  1616. .ps 9
  1617. .vs 11
  1618. .nr VS 11
  1619. .nr PS 9
  1620. .TS
  1621. center box;
  1622. cw(54p) | cw(132p) .
  1623.  {
  1624. Instrument
  1625. operating at
  1626. (kbit/s)
  1627.  }    Test conditions
  1628. _
  1629. .T&
  1630. cw(54p) | lw(72p) | lw(60p) .
  1631. 1544\fR    100 ohms, nonreactive    20 kHz to 1.6 MHz
  1632. _
  1633. .T&
  1634. cw(54p) | lw(72p) | lw(60p) .
  1635. 2048    75/120/130 ohms, nonreactive    40 kHz to 2.5 MHz
  1636. _
  1637. .T&
  1638. cw(54p) | lw(72p) | lw(60p) .
  1639. 6312\fR    75/110 ohms, nonreactive    100 kHz to 6.5 MHz
  1640. _
  1641. .T&
  1642. cw(54p) | lw(72p) | lw(60p) .
  1643. 8448    75 ohms, nonreactive    100 kHz to 10.0 MHz  
  1644. _
  1645. .TE
  1646. .nr PS 9
  1647. .RT
  1648. .ad r
  1649. \fBTable 1/O.161 [T1.161], p.  \fR 
  1650. .sp 1P
  1651. .RT
  1652. .ad b
  1653. .RT
  1654. .LP
  1655. .bp
  1656. .sp 2P
  1657. .LP
  1658. 3.5
  1659.     \fISignal input gating\fR 
  1660. .sp 1P
  1661. .RT
  1662. .PP
  1663. 3.5.1
  1664. The instrument shall incorporate a sampling circuit, operated from the 
  1665. incoming digital signal, such that the instrument senses only the 
  1666. voltages which are present during a short gating period at the midpoint 
  1667. of each digit time slot. 
  1668. .sp 9p
  1669. .RT
  1670. .sp 2P
  1671. .LP
  1672. 3.6
  1673.     \fIInput\fR 
  1674. \fIjitter\fR \fItolerance\fR 
  1675. .sp 1P
  1676. .RT
  1677. .PP
  1678. 3.6.1
  1679. The instrument shall be able to tolerate the lower limit of
  1680. maximum tolerable input jitter specified in the appropriate paragraph of
  1681. Recommendation\ G.703\ [1].
  1682. .sp 9p
  1683. .RT
  1684. .sp 2P
  1685. .LP
  1686. \fB4\fR     \fBDisplay\fR 
  1687. .sp 1P
  1688. .RT
  1689. .PP
  1690. 4.1
  1691. The instrument shall incorporate an indicator to show the
  1692. presence of a digital signal of correct amplitude and bit rate.
  1693. .sp 9p
  1694. .RT
  1695. .PP
  1696. 4.2
  1697. The code violation rate shall be indicated in the range\ 1 in
  1698. 10\u3\d to at least 1 in 10\u6\d. Indication of code violations, occurring 
  1699. in the input signal and detected as defined in \(sc\ 2 above, shall be 
  1700. determined by 
  1701. counting the number of code violations that occur during the period of 
  1702. at least 10\u6\d digit time slots. 
  1703. .PP
  1704. 4.3
  1705. It shall be possible to indicate the sum of the code violations. This facility 
  1706. will not be required at the same time as the code violation rate is being 
  1707. counted and displayed. 
  1708. .PP
  1709. 4.4
  1710. The count capacity shall be 99 999 and a separate indicator shall be given 
  1711. if the count exceeds this figure. 
  1712. .PP
  1713. 4.5
  1714. The counting sequence shall be started by operating a \*Qstart\*U
  1715. control and shall be stopped by a \*Qstop\*U control.
  1716. .PP
  1717. 4.6
  1718. The counter, and its display, shall be capable of being reset.
  1719. .sp 2P
  1720. .LP
  1721. \fB5\fR     \fBInstrument check\fR 
  1722. .sp 1P
  1723. .RT
  1724. .PP
  1725. 5.1
  1726. A check facility shall be provided. This facility is to enable a check 
  1727. to be made of the display, counter and recorder output and optionally of 
  1728. the instrument input circuits. 
  1729. .sp 9p
  1730. .RT
  1731. .PP
  1732. 5.2
  1733. Where the optional check of the input circuits is provided, the
  1734. method of introducing code violations into the input digital signal shall be
  1735. agreed. The violations shall be as defined in \(sc\ 2 above.
  1736. .sp 2P
  1737. .LP
  1738. \fB6\fR     \fBRecorder output\fR 
  1739. .sp 1P
  1740. .RT
  1741. .PP
  1742. 6.1
  1743. An output signal may optionally be provided by the instrument to enable 
  1744. the status of the digital signal to be recorded externally in 
  1745. analogue and/or digital form.
  1746. .sp 9p
  1747. .RT
  1748. .PP
  1749. 6.2
  1750. For the analogue output, the signal shall vary corresponding to
  1751. the measured result.
  1752. .PP
  1753. 6.3
  1754. If the instrument has an analogue output, appropriate means for
  1755. calibrating the external recorder shall be provided.
  1756. .PP
  1757. 6.4 
  1758. A possible arrangement relating the status of the digital input signal 
  1759. to the d.c. output signal is given in Table\ 2/O.161. The actual arrangement 
  1760. will depend upon the count period specified for the instrument (see \(sc\ 4.2
  1761. above).
  1762. .PP
  1763. 6.5
  1764. For the digital output of the measurement result, where provided, a parallel 
  1765. signal in binary coded decimal (BCD) form with 
  1766. transistor\(hytransistor logic (TTL) levels shall be used.
  1767. .sp 2P
  1768. .LP
  1769. \fB7\fR     \fBOperating environment\fR 
  1770. .sp 1P
  1771. .RT
  1772. .PP
  1773. The electrical performance requirements shall be met when operating at 
  1774. the climatic conditions as specified in Recommendation\ O.3, 
  1775. \(sc\ 2.1.
  1776. .bp
  1777. .RT
  1778. .ce
  1779. \fBH.T. [T2.161]\fR 
  1780. .ce
  1781. TABLE\ 2/O.161
  1782. .ps 9
  1783. .vs 11
  1784. .nr VS 11
  1785. .nr PS 9
  1786. .TS
  1787. center box;
  1788. cw(90p) | cw(30p) | cw(30p) .
  1789. Status    Deflection  (mA or volts)    Tolerance  (mA or volts)
  1790. _
  1791. .T&
  1792. lw(90p) | cw(30p) | cw(30p) .
  1793. No signal    0\fB.5\fR    \(em
  1794. _
  1795. .T&
  1796. lw(90p) | cw(30p) | cw(30p) .
  1797. Valid signal    5\fB.5\fR    \(+- | .2
  1798. _
  1799. .T&
  1800. lw(90p) | cw(30p) | cw(30p) .
  1801.  {
  1802. Violation rate \(>=" 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u3\d
  1803.  }    2\fB.5\fR    \(+- | .2
  1804. _
  1805. .T&
  1806. lw(90p) | cw(30p) | cw(30p) .
  1807.  {
  1808. Violation rate \(>=" 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u4\d
  1809.  }    2.5    \(+- | .2
  1810. _
  1811. .T&
  1812. lw(90p) | cw(30p) | cw(30p) .
  1813.  {
  1814. Violation rate \(>=" 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u5\d
  1815.  }    3\fB.5\fR    \(+- | .2  
  1816. _
  1817. .T&
  1818. lw(90p) | cw(30p) | cw(30p) .
  1819.  {
  1820. Violation rate \(>=" 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  1821.  }    3.5    \(+- | .2
  1822. _
  1823. .T&
  1824. lw(90p) | cw(30p) | cw(30p) .
  1825. Single code violations    4\fB.5\fR    \(+- | .2  
  1826. _
  1827. .TE
  1828. .nr PS 9
  1829. .RT
  1830. .ad r
  1831. \fBTABLEAU\ 2/O.161 [T2.161], p. 7\fR 
  1832. .sp 1P
  1833. .RT
  1834. .ad b
  1835. .RT
  1836. .sp 2P
  1837. .LP
  1838.     \fBReference\fR 
  1839. .sp 1P
  1840. .RT
  1841. .LP
  1842. [1]
  1843.     CCITT Recommendation \fIPhysical/electrical characteristics of\fR 
  1844. \fIhierarchical digital interfaces\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.703.
  1845. \v'1P'
  1846. .sp 2P
  1847. .LP
  1848. \fBRecommendation\ O.162\fR 
  1849. .RT
  1850. .sp 2P
  1851. .sp 1P
  1852. .ce 1000
  1853. \fBEQUIPMENT TO PERFORM IN SERVICE MONITORING\fR \fBON 2048 kbit/s SIGNALS\fR 
  1854. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.162''
  1855. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.162    %'
  1856. .ce 0
  1857. .sp 1P
  1858. .ce 1000
  1859. \fI(Geneva, 1980, amended Melbourne, 1988)\fR 
  1860. .sp 9p
  1861. .RT
  1862. .ce 0
  1863. .sp 1P
  1864. .LP
  1865. \fB1\fR     \fBGeneral\fR 
  1866. .sp 1P
  1867. .RT
  1868. .PP
  1869. 1.1
  1870. This specification describes an instrument for performing in\(hyservice 
  1871. error tests on 2\ Mbit/s signals having frame structures that are in accordance 
  1872. with Recommendation\ G.704 [1]. 
  1873. .sp 9p
  1874. .RT
  1875. .PP
  1876. 1.2
  1877. The instrument is required to monitor a 2048\(hykbit/s HDB3 encoded signal, 
  1878. display any inherent alarm condition in the signal and be capable of 
  1879. counting errors in the frame alignment signal.
  1880. .PP
  1881. 1.3
  1882. The instrument may also, if so desired, count and display HDB3
  1883. code violations as a separate facility.
  1884. .PP
  1885. 1.4
  1886. The instrument is required to monitor any cyclic redundancy
  1887. check\ (CRC) procedure signals, in accordance with Recommendation\ G.704\ [1],
  1888. conveyed within the frame alignment signal, and time slot\ 0 (TSO) of frames 
  1889. not containing the frame alignment signal. 
  1890. .PP
  1891. 1.5
  1892. As an option the instrument may provide access to the information bits 
  1893. conveyed in any selected time slot. 
  1894. .bp
  1895. .sp 1P
  1896. .LP
  1897. 1.6
  1898.     \fIHDB3 decoding strategy\fR 
  1899. .sp 9p
  1900. .RT
  1901. .PP
  1902. When necessary, the received digital signal shall be decoded by the instrument 
  1903. in a manner such that, when sampling the signal, on recognition of\ 2 consecutive 
  1904. zeros (spaces) followed by a bipolar violation, the decoder shall substitute\ 
  1905. 4 consecutive zeros in place of the bipolar violation and the\ 3 
  1906. preceding digits.
  1907. .RT
  1908. .sp 2P
  1909. .LP
  1910. \fB2\fR     \fBInput signal\fR 
  1911. .sp 1P
  1912. .RT
  1913. .sp 1P
  1914. .LP
  1915. 2.1
  1916.     \fIInterface\fR 
  1917. .sp 9p
  1918. .RT
  1919. .PP
  1920. The instrument shall be capable of operating with the interface at 2048\ 
  1921. kbit/s corresponding to Recommendation\ G.703\ [2], \(sc\ 6. 
  1922. .RT
  1923. .sp 2P
  1924. .LP
  1925. 2.2
  1926.     \fIInput sensitivity\fR 
  1927. .sp 1P
  1928. .RT
  1929. .PP
  1930. 2.2.1
  1931. The instrument is required to operate satisfactorily under the following 
  1932. input conditions. 
  1933. .sp 9p
  1934. .RT
  1935. .PP
  1936. 2.2.1.1 
  1937. Input impedances and levels in accordance with
  1938. Recommendation\ G.703\ [2].
  1939. .PP
  1940. 2.2.1.2
  1941. The instrument shall also be capable of monitoring at protected
  1942. test points on digital equipment. Therefore, a high impedance input and/or
  1943. additional gain of 30\ dB shall be provided to compensate for the loss at the
  1944. monitoring points already provided on some equipment.
  1945. .PP
  1946. 2.2.1.3
  1947. Additionally the instrument is required to operate satisfactorily, in both 
  1948. the terminated and monitor mode, when connected to an interface output 
  1949. in accordance with Recommendation\ G.703\ [2] via a length of cable which 
  1950. can 
  1951. have an insertion loss of 0\ dB to 6\ dB at the half bit rate of the signal. 
  1952. The insertion loss of the cable at other frequencies will be proportional 
  1953. to\ 
  1954. @ sqrt { fIf\fR~ | } @ .
  1955. .sp 2P
  1956. .LP
  1957. 2.3
  1958.     \fIInput impedance\fR 
  1959. .sp 1P
  1960. .RT
  1961. .PP
  1962. 2.3.1
  1963. The instrument shall have a return loss of better than 20\ dB
  1964. against a nonreactive 75/120/130\(hyohm resistor over a frequency range 
  1965. of 40\ kHz to 2500\ kHz. 
  1966. .sp 9p
  1967. .RT
  1968. .sp 2P
  1969. .LP
  1970. 2.4
  1971.     \fISignal input gating\fR 
  1972. .sp 1P
  1973. .RT
  1974. .PP
  1975. 2.4.1
  1976. The instrument shall incorporate a timing recovery circuit,
  1977. operated from the incoming digital signal, such that the instrument senses 
  1978. only the voltages which are present during a short gating period at the 
  1979. midpoint of each digit time slot. 
  1980. .sp 9p
  1981. .RT
  1982. .sp 2P
  1983. .LP
  1984. 2.5
  1985.     \fIInput\fR 
  1986. \fIjitter\fR \fItolerance\fR 
  1987. .sp 1P
  1988. .RT
  1989. .PP
  1990. 2.5.1
  1991. The instrument shall be able to tolerate the lower limit of
  1992. maximum tolerable input jitter specified in Recommendation\ G.823\ [3].
  1993. .sp 9p
  1994. .RT
  1995. .sp 2P
  1996. .LP
  1997. \fB3\fR     \fBFacilities\fR 
  1998. .sp 1P
  1999. .RT
  2000. .PP
  2001. 3.1
  2002. The instrument shall incorporate fault indications to meet the alarm strategies 
  2003. of equipments meeting Recommendation\ G.732\ [4]. 
  2004. .sp 9p
  2005. .RT
  2006. .PP
  2007. 3.2
  2008. A possible fault indication plan is illustrated in \(sc\ 3.3 below.
  2009. All fault indicators are normally extinguished.
  2010. .sp 2P
  2011. .LP
  2012. 3.3
  2013.     \fIFault indication plan\fR 
  2014. .sp 1P
  2015. .RT
  2016. .sp 1P
  2017. .LP
  2018. 3.3.1
  2019.     \fIInput signal failure\fR 
  2020. .sp 9p
  2021. .RT
  2022. .PP
  2023. A fault indication shall be given if more than 10\ consecutive zeros are 
  2024. detected. 
  2025. .bp
  2026. .RT
  2027. .sp 1P
  2028. .LP
  2029. 3.3.2
  2030.     \fIAlarm indication signal (AIS)\fR 
  2031. .sp 9p
  2032. .RT
  2033. .PP
  2034. The instrument shall recognize a signal containing less than 3
  2035. zeros in a 2\(hyframe period (512\ bits) as a valid AIS signal and the 
  2036. appropriate indicator shall be lit. 
  2037. .PP
  2038. The strategy for the detection of the presence of an AIS shall be such 
  2039. that the AIS is detectable even in the presence of a code violation rate 
  2040. of 1 in 10\u3\d. However, a signal with all bits in the 1s state, except 
  2041. the 
  2042. frame alignment signal (FAS), shall not be mistaken for a valid AIS.
  2043. .RT
  2044. .sp 2P
  2045. .LP
  2046. 3.3.3
  2047.     \fIFrame\fR 
  2048. .sp 1P
  2049. .RT
  2050. .PP
  2051. 3.3.3.1
  2052. In the event of a loss of frame alignment, as defined in
  2053. Recommendation\ G.706\ [5], \(sc\ 4, the instrument shall recognize the 
  2054. loss and the appropriate indicator shall be lit. 
  2055. .sp 9p
  2056. .RT
  2057. .PP
  2058. 3.3.3.2
  2059. In the event of recovery of frame alignment, as defined in
  2060. Recommendation\ G.706\ [5], \(sc\ 4, the indicator shall be extinguished.
  2061. .PP
  2062. \fINote\fR \ \(em\ The instrument shall be able to synchronize to frames
  2063. with or without CRC bits.
  2064. .sp 2P
  2065. .LP
  2066. 3.3.4
  2067.     \fIErrors in the\fR 
  2068. \fIframe alignment signal\fR 
  2069. .sp 1P
  2070. .RT
  2071. .PP
  2072. 3.3.4.1
  2073. The instrument shall have a means of indicating bit error
  2074. rates, e.g.\ 1\ \(mu\ 10\uD\dlF261\u3\d, 1\ \(mu\ 10\uD\dlF261\u4\d, 1\ 
  2075. \(mu\ 10\uD\dlF261\u5\d and illuminate the appropriate indicator. 
  2076. .sp 9p
  2077. .RT
  2078. .PP
  2079. The indication of bit error rates occurring in the received
  2080. decoded signal and detected as incorrect frame alignment signals shall 
  2081. comply with the limits given in Table\ 1/O.162. The requirements in the 
  2082. table shall 
  2083. apply on the assumption that the average bit error rates are present for the
  2084. whole of the counter measurement period.
  2085. .ce
  2086. \fBH.T. [T1.162]\fR 
  2087. .ce
  2088. TABLE\ 1/O.162
  2089. .ps 9
  2090. .vs 11
  2091. .nr VS 11
  2092. .nr PS 9
  2093. .TS
  2094. center box;
  2095. cw(42p) | cw(42p) | cw(54p) sw(54p) , ^  | ^  | c | c.
  2096. Bit error rate indication     {
  2097. Average bit error rates in decoded signal
  2098.  }     {
  2099. Probability of indication illuminating or extinguishing
  2100. within the periods stated below
  2101.  }
  2102.         Illuminate    Extinguish
  2103. _
  2104. .T&
  2105. cw(42p) | cw(42p) | cw(54p) | cw(54p) .
  2106. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u3\d     {
  2107. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u3\d
  2108. 5 | (mu | 0\uD\dlF261\u4\d
  2109. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u4\d
  2110.  }     {
  2111. 50% within 0.3 s
  2112. \ 5% within 0.3 s
  2113. \(em
  2114.  }     {
  2115. \ 5% within 0.3 s
  2116. \(em
  2117. 95% within 0.3 s
  2118.  }
  2119. _
  2120. .T&
  2121. cw(42p) | cw(42p) | cw(54p) | cw(54p) .
  2122. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u4\d     {
  2123. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u4\d
  2124. 5 | (mu | 0\uD\dlF261\u5\d
  2125. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u5\d
  2126.  }     {
  2127. 50% within 3 s
  2128. \ 5% within 3 s
  2129. \(em
  2130.  }     {
  2131. \ 5% within 3 s
  2132. \(em
  2133. 95% within 3 s
  2134.  }
  2135. _
  2136. .T&
  2137. cw(42p) | cw(42p) | cw(54p) | cw(54p) .
  2138. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u5\d     {
  2139. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u5\d
  2140. 5 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  2141. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  2142.  }     {
  2143. 50% within 30 s
  2144. \ 5% within 30 s
  2145. \(em
  2146.  }     {
  2147. \ 5% within 30 s
  2148. \(em
  2149. 95% within 30 s
  2150.  }
  2151. _
  2152. .TE
  2153. .nr PS 9
  2154. .RT
  2155. .ad r
  2156. \fBTable 1/O.162 [T1.162] p.  \fR 
  2157. .sp 1P
  2158. .RT
  2159. .ad b
  2160. .RT
  2161. .PP
  2162. 3.3.4.2
  2163. It shall also be possible to count the sum of the errors
  2164. indicated. The count capacity shall be 99 | 99. A\ separate indication 
  2165. shall be given if the count exceeds this figure. 
  2166. .sp 2P
  2167. .LP
  2168. 3.3.5
  2169.     \fIMultiframe\fR 
  2170. .sp 1P
  2171. .RT
  2172. .PP
  2173. 3.3.5.1
  2174. In the event of a loss of multiframe alignment, as defined in Recommendation\ 
  2175. G.732\ [4], \(sc\ 5.2, the instrument shall recognize the loss and 
  2176. the appropriate indicator shall be lit.
  2177. .sp 9p
  2178. .RT
  2179. .PP
  2180. 3.3.5.2
  2181. In the event of recovery of multiframe alignment, as defined in
  2182. Recommendation\ G.732\ [4], \(sc\ 5.2, the indicators shall be extinguished.
  2183. .bp
  2184. .PP
  2185. 3.3.5.3
  2186. If time slot 16 is used for common channel signalling, the
  2187. multiframe alignment signal is not present in a nominal input signal to the
  2188. instrument. In this case it shall be possible to inhibit the loss of multiframe 
  2189. indicator in order to prevent false alarm indications. 
  2190. .sp 1P
  2191. .LP
  2192. 3.3.6
  2193.     \fIDistant alarm\fR 
  2194. .sp 9p
  2195. .RT
  2196. .PP
  2197. The instrument shall recognize the distant alarm condition as
  2198. defined in Recommendation\ G.732\ [4] (bit\ 3 of time slot\ 0 in frames 
  2199. alternate to those containing the frame alignment signal for at least 2\ 
  2200. consecutive 
  2201. occasions and recognized within 4\ consecutive occasions) and the appropriate
  2202. indicator shall be lit.
  2203. .RT
  2204. .sp 2P
  2205. .LP
  2206. 3.3.7
  2207.     \fIDistant multiframe alarm\fR 
  2208. .sp 1P
  2209. .RT
  2210. .PP
  2211. 3.3.7.1
  2212. The instrument shall recognize the distant multiframe alarm
  2213. condition as defined in Recommendation\ G.732\ [4] (bit\ 6 of time slot\ 16,
  2214. frame\ 0 for at least 2\ consecutive occasions and recognized within
  2215. 3\ consecutive occasions) and the appropriate indicator shall be lit.
  2216. .sp 9p
  2217. .RT
  2218. .PP
  2219. 3.3.7.2
  2220. If time slot 16 is used for common channel signalling, bit\ 6 will be continuously 
  2221. in state\ 1. In this case it shall be possible to inhibit the 
  2222. distant multiframe alarm in order to prevent false alarm indications.
  2223. .sp 2P
  2224. .LP
  2225. 3.4
  2226.     \fICyclic redundancy check procedure\fR 
  2227. .sp 1P
  2228. .RT
  2229. .PP
  2230. 3.4.1
  2231. Where a cyclic redundancy check (CRC) procedure in accordance with Recommendation\ 
  2232. G.704 [1] is implemented within the\ 2\ Mbit/s signal the 
  2233. instrument shall provide the features detailed in \(sc\(sc\ 3.4.2, 3.4.3 
  2234. and\ 3.4.4. 
  2235. .sp 9p
  2236. .RT
  2237. .PP
  2238. 3.4.2
  2239. The instrument shall indicate the presence of CRC framing bits.
  2240. .PP
  2241. 3.4.3
  2242. The instrument shall have a means of indicating bit error rates of
  2243. 1\ \(mu\ 10\uD\dlF261\u5\d, 1\ \(mu\ 10\uD\dlF261\u6\d and 1\ \(mu\ 10\uD\dlF261\u7\d 
  2244. and shall cause the 
  2245. appropriate indicator to be illustrated under the conditions defined.
  2246. .PP
  2247. The indication of bit error rates occurring in the received
  2248. decoded signal and detected by means of the CRC procedure information shall
  2249. comply with the limits given in Table\ 2/O.162.
  2250. .ce
  2251. \fBH.T. [T2.162]\fR 
  2252. .ce
  2253. TABLE\ 2/O.162
  2254. .ps 9
  2255. .vs 11
  2256. .nr VS 11
  2257. .nr PS 9
  2258. .TS
  2259. center box;
  2260. cw(42p) | cw(42p) | cw(54p) sw(54p) , ^  | ^  | c | c.
  2261. Bit error rate indication     {
  2262. Average bit error rate in decoded signal
  2263.  }     {
  2264. Probability of indication illuminating or extinguishing
  2265. within the periods stated below
  2266.  }
  2267.         Illuminate    Extinguish
  2268. _
  2269. .T&
  2270. cw(42p) | cw(42p) | cw(54p) | cw(54p) .
  2271. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u5\d     {
  2272. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u5\d
  2273. 5 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  2274. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  2275.  }     {
  2276. 50% within 1 s
  2277. \ 5% within 1 s
  2278. \(em
  2279.  }     {
  2280. \ 5% within 1 s
  2281. \(em
  2282. 95% within 1 s
  2283.  }
  2284. _
  2285. .T&
  2286. cw(42p) | cw(42p) | cw(54p) | cw(54p) .
  2287. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d     {
  2288. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u6\d
  2289. 5 | (mu | 0\uD\dlF261\u7\d
  2290. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u7\d
  2291.  }     {
  2292. 50% within 10 s
  2293. \ 5% within 10 s
  2294. \(em
  2295.  }     {
  2296. \ 5% within 10 s
  2297. \(em
  2298. 95% within 10 s
  2299.  }
  2300. _
  2301. .T&
  2302. cw(42p) | cw(42p) | cw(54p) | cw(54p) .
  2303. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u7\d     {
  2304. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u7\d
  2305. 5 | (mu | 0\uD\dlF261\u8\d
  2306. 1 | (mu | 0\uD\dlF261\u8\d
  2307.  }     {
  2308. 50% within 100 s
  2309. \ 5% within 100 s
  2310. \(em
  2311.  }     {
  2312. \ 5% within 100 s
  2313. \(em
  2314. 95% within 100 s
  2315.  }
  2316. _
  2317. .TE
  2318. .nr PS 9
  2319. .RT
  2320. .ad r
  2321. \fBTable 2/O.162 [T2.162], p.  \fR 
  2322. .sp 1P
  2323. .RT
  2324. .ad b
  2325. .RT
  2326. .PP
  2327. 3.4.4
  2328. It shall also be possible to count the sum of errors indicated. The
  2329. count capacity shall be 99\ 999. A separate indication shall be given if the
  2330. count exceeds this figure.
  2331. .bp
  2332. .sp 2P
  2333. .LP
  2334. 3.5
  2335.     \fICode violation detection\fR 
  2336. .sp 1P
  2337. .RT
  2338. .sp 1P
  2339. .LP
  2340. 3.5.1
  2341.     \fIDefinition of an\fR 
  2342. \fIHDB3 code violation\fR 
  2343. .sp 9p
  2344. .RT
  2345. .PP
  2346. Two consecutive bipolar violations of the same polarity. This may not be 
  2347. the absolute number of errors. 
  2348. .RT
  2349. .PP
  2350. 3.5.2
  2351. When used as an HDB3 code violation detector the instrument
  2352. shall incorporate an indicator to indicate the presence of a digital signal 
  2353. of correct amplitude and bit rate. 
  2354. .PP
  2355. 3.5.3
  2356. The code violation rate shall be indicated in the range\ 1 in
  2357. 10\u3\d to at least 1 in 10\u6\d. Indications of code violations occurring 
  2358. in the input signal and detected as defined in \(sc\ 3.5.1 above, shall 
  2359. be determined by counting the number of code violations that occur during 
  2360. the period of at least 10\u6\d time slots. 
  2361. .PP
  2362. 3.5.4
  2363. It shall be possible to indicate the sum of the code violations.
  2364. This facility will not be required at the same time as the code violation 
  2365. rate is being counted and displayed. 
  2366. .PP
  2367. 3.5.5
  2368. The count capacity shall be 99 | 99 and a separate indication shall
  2369. be given if the count exceeds this figure.
  2370. .sp 1P
  2371. .LP
  2372. 3.6
  2373.     \fIPerformance indications\fR 
  2374. .sp 9p
  2375. .RT
  2376. .PP
  2377. As an option the instrument shall be capable of providing
  2378. performance information in accordance with G.821 [6].
  2379. .RT
  2380. .sp 1P
  2381. .LP
  2382. 3.7
  2383.     \fILamp lock \(em Lamp auto reset\fR 
  2384. .sp 9p
  2385. .RT
  2386. .PP
  2387. A facility shall be provided whereby the fault indication lamps
  2388. either clear automatically when the fault condition clears or remain lit 
  2389. until a manual reset is operated. 
  2390. .RT
  2391. .sp 1P
  2392. .LP
  2393. 3.8
  2394.     \fITime slot access\fR 
  2395. .sp 9p
  2396. .RT
  2397. .PP
  2398. As an option it shall be possible to access, at an external
  2399. interface, the contents of any selected time slot, including time slot\ 
  2400. 16. An external interface meeting the requirements of a co\(hydirectional 
  2401. interface, as defined in Recommendation\ G.703 [2], is preferred. 
  2402. .RT
  2403. .sp 2P
  2404. .LP
  2405. \fB4\fR     \fBDisplay\fR 
  2406. .sp 1P
  2407. .RT
  2408. .PP
  2409. 4.1
  2410. The counting sequence shall be started by operating a \*Qstart\*U control 
  2411. and shall be stopped by a \*Qstop\*U control. 
  2412. .sp 9p
  2413. .RT
  2414. .PP
  2415. 4.2
  2416. References to counters and displays being illuminated and extinguished 
  2417. does not imply that \*Qlight emitting\*U displays are essential. 
  2418. .PP
  2419. 4.3
  2420. The counter, and its display, shall be capable of being reset.
  2421. .sp 2P
  2422. .LP
  2423. \fB5\fR     \fBAlarm function check\fR 
  2424. .sp 1P
  2425. .RT
  2426. .PP
  2427. A method of introducing fault conditions into the incoming digital signal, 
  2428. in order to check the correct functioning of the instrument, shall be considered. 
  2429. .RT
  2430. .sp 2P
  2431. .LP
  2432. \fB6\fR     \fBAlarm output signal\fR 
  2433. .sp 1P
  2434. .RT
  2435. .PP
  2436. As an option, an interface shall be provided to enable an external device, 
  2437. e.g. printer, to be connected to the instrument to allow recording of the 
  2438. status of the digital signal input to the instrument. 
  2439. .PP
  2440. An interface in accordance with Recommendation\ V.24\ [7] or V.28\ [8], 
  2441. carrying suitably abbreviated, plain text messages in ASCII/T.50\ [9] coded 
  2442. format according to the requirements of Recommendation\ V.4\ [10] is
  2443. preferred.
  2444. .RT
  2445. .sp 2P
  2446. .LP
  2447. \fB7\fR     \fBOperating environment\fR 
  2448. .sp 1P
  2449. .RT
  2450. .PP
  2451. The electrical performance requirements shall be met when operating within 
  2452. the climatic conditions specified in Recommendation\ O.3, \(sc\ 2.1. 
  2453. .bp
  2454. .RT
  2455. .sp 2P
  2456. .LP
  2457.     \fBReferences\fR 
  2458. .sp 1P
  2459. .RT
  2460. .LP
  2461. [1]
  2462.      CCITT Recommendation \fISynchronous frame structures used at primary 
  2463. and\fR \fIsecondary hierarchical levels\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.704. 
  2464. .LP
  2465. [2]
  2466.     CCITT Recommendation \fIPhysical/electrical characteristics of\fR 
  2467. \fIhierarchical digital interfaces\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.703.
  2468. .LP
  2469. [3]
  2470.     CCITT Recommendation \fIThe control of jitter and wander within\fR 
  2471. \fIdigital networks which are based on the 2048\ kbit/s hierarchy\fR 
  2472. Vol.\ III, Rec.\ G.823.
  2473. .LP
  2474. [4]
  2475.     CCITT Recommendation \fICharacteristics of primary PCM multiplex\fR 
  2476. \fIequipment operating at 2048\ kbit/s\fR , Vol.\ III,
  2477. Rec.\ G.732.
  2478. .LP
  2479. [5]
  2480.      CCITT Recommendation \fIFrame alignment and CRC procedures relating to\fR 
  2481. \fIframes defined in Rec.\ G.704\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.706. 
  2482. .LP
  2483. [6]
  2484.     CCITT Recommendation \fIError performance of an international digital\fR 
  2485. \fIconnection forming part of an integrated digital network\fR , Vol.\ III,
  2486. Rec.\ G.821.
  2487. .LP
  2488. [7]
  2489.     CCITT Recommendation \fIList of definitions for interchange circuits\fR 
  2490. \fIbetween data terminal equipment and data circuit\(hyterminating equipment\fR 
  2491. , 
  2492. Vol.\ VIII, Rec.\ V.24.
  2493. .LP
  2494. [8]
  2495.     CCITT Recommendation \fIElectrical characteristics or unbalanced\fR 
  2496. \fIdouble\(hycurrent interchange circuits\fR , Vol. VIII, Rec.\ V.28.
  2497. .LP
  2498. [9]
  2499.     CCITT Recommendation \fIInternational Alphabet No.\ 5\fR , Vol.\ VII,
  2500. Rec.\ T.50.
  2501. .LP
  2502. [10]
  2503.      CCITT Recommendation \fIGeneral structure of signals of International\fR 
  2504. \fIAlphabet No.\ 5 code for character oriented data transmission over public\fR 
  2505. \fItelephone networks\fR , Vol.\ VIII, Rec.\ V.4.
  2506. \v'6p'
  2507. .sp 2P
  2508. .LP
  2509. \fBRecommendation\ O.163\fR 
  2510. .RT
  2511. .sp 2P
  2512. .sp 1P
  2513. .ce 1000
  2514. \fBEQUIPMENT TO PERFORM IN\(hySERVICE MONITORING\fR \fBON 1544 kbit/s SIGNALS\fR 
  2515. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.163''
  2516. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.163    %'
  2517. .ce 0
  2518. .sp 1P
  2519. .ce 1000
  2520. \fI(Melbourne, 1988)\fR 
  2521. .sp 9p
  2522. .RT
  2523. .ce 0
  2524. .sp 1P
  2525. .LP
  2526. \fB1\fR     \fBGeneral\fR 
  2527. .sp 1P
  2528. .RT
  2529. .PP
  2530. 1.1
  2531. This specification describes frame alignment signal monitoring
  2532. equipment for 1544\ kbit/s frame structures that are in accordance with
  2533. Recommendation\ G.704\ [1]. This equipment is intended to monitor 12\(hyframe
  2534. multiframe (superframe format\ \(em\ SF) or 24\(hyframe multiframe (extended
  2535. superframe format\ \(em\ ESF) structures having either AMI or B8ZS line 
  2536. codes as 
  2537. defined in\ \(sc\ 2 of Recommendation\ G.703 [2].
  2538. .sp 9p
  2539. .RT
  2540. .PP
  2541. 1.2
  2542. This equipment shall provide the following capabilities:
  2543. .sp 9p
  2544. .RT
  2545. .LP
  2546.     a)
  2547.     monitor and display the error performance of the frame
  2548. alignment signal;
  2549. .LP
  2550.     b)
  2551.     detect and accumulate the counts of occurrences of loss of   frame alignment;
  2552. .LP
  2553.     c)
  2554.     measure and display the error performance of 24\(hyframe
  2555. multiframe signals by monitoring the cyclic redundancy check (CRC\(hy6) 
  2556. bits and performing a CRC\(hy6 procedure in accordance with Recommendation\ 
  2557. G.704 [1] and as described below; 
  2558. .LP
  2559.     d)
  2560.     detect and display the various alarm or fault conditions
  2561. including loss of signal, loss of frame alignment, and other alarm conditions 
  2562. indicated by specific bit patterns. 
  2563. .PP
  2564. 1.3
  2565. The equipment may optionally provide the following additional
  2566. capabilities:
  2567. .sp 9p
  2568. .RT
  2569. .LP
  2570.     a)
  2571.     detect and display the code violations in the 1544\ kbits
  2572. signal in accordance with Recommendation\ O.161;
  2573. .LP
  2574.     b)
  2575.      provide an external interface for extracting the information bits conveyed 
  2576. in any selected channel time slot; 
  2577. .LP
  2578.     c)
  2579.     provide an external interface for extracting the 4\ kbit/s
  2580. data link bits defined in the 24\(hyframe multiframe structure;
  2581. .LP
  2582.     d)
  2583.      provide an external interface for extracting the signalling bits in the 
  2584. 12\(hyframe and 24\(hyframe structures. 
  2585. .bp
  2586. .sp 2P
  2587. .LP
  2588. \fB2\fR     \fBInput requirements\fR 
  2589. .sp 1P
  2590. .RT
  2591. .sp 1P
  2592. .LP
  2593. 2.1
  2594.     \fIInterface\fR 
  2595. .sp 9p
  2596. .RT
  2597. .PP
  2598. The specification of protected monitoring points is under study in SG\ 
  2599. XV and SG\ IV. 
  2600. .FE
  2601. The monitoring equipment shall be capable of operating with a test load 
  2602. impedance at a 1544\ kbit/s interface as defined in\ \(sc\ 2 of 
  2603. Recommendation\ G.703 [2]. It shall also be capable of operating when connected 
  2604. to protected monitoring points 
  2605. (see also Recommendation\ G.772\ [3]).
  2606. .RT
  2607. .sp 2P
  2608. .LP
  2609. 2.2
  2610.     \fIInput impedance\fR 
  2611. .sp 1P
  2612. .RT
  2613. .sp 1P
  2614. .LP
  2615. 2.2.1
  2616.     \fIInput impedance\fR  | (resistive)
  2617. \ 100\ ohms
  2618. .sp 9p
  2619. .RT
  2620. .sp 1P
  2621. .LP
  2622. 2.2.2
  2623.     \fIReturn loss (20\ kHz to 1600\ kHz)\fR \ >\ 20\ dB
  2624. .sp 9p
  2625. .RT
  2626. .sp 1P
  2627. .LP
  2628. 2.3
  2629.     \fIInput sensitivity\fR 
  2630. .sp 9p
  2631. .RT
  2632. .PP
  2633. As a minimum, the monitoring equipment shall operate properly in
  2634. the line terminating mode over the range of bit rates, pulse shapes and 
  2635. signal levels defined in\ \(sc\ 2 of Recommendation\ G.703 [2]. It shall 
  2636. also be equipped 
  2637. with an additional gain to compensate for the isolation loss incurred at
  2638. protected monitoring points
  2639. (see also Recommendation\ G.772 [3]). A signal level indicator, or other 
  2640. means, shall be provided for the proper adjustment of input sensitivity. 
  2641. .RT
  2642. .sp 1P
  2643. .LP
  2644. 2.4
  2645.     \fIInput jitter tolerance\fR 
  2646. .sp 9p
  2647. .RT
  2648. .PP
  2649. The monitoring equipment shall be able to tolerate input jitter
  2650. specified in Table\ 2/G.824 [4] without degradation of measuring accuracy.
  2651. .RT
  2652. .sp 1P
  2653. .LP
  2654. 2.5
  2655.     \fIInput line codes\fR 
  2656. .sp 9p
  2657. .RT
  2658. .PP
  2659. The monitoring equipment is intended for use with both AMI and B8ZS line 
  2660. codes. The instrument shall have the capability to select either AMI or 
  2661. B8ZS, through a switch or other appropriate means. The instrument should
  2662. indicate when it is receiving B8ZS when switched to the AMI mode, and vice
  2663. versa.
  2664. .RT
  2665. .LP
  2666. \fB3\fR     \fBDetection, measurement, and indication requirements\fR 
  2667. .sp 1P
  2668. .RT
  2669. .sp 2P
  2670. .LP
  2671. 3.1
  2672.     \fIDetection and indication of fault conditions\fR 
  2673. .sp 1P
  2674. .RT
  2675. .sp 1P
  2676. .LP
  2677. 3.1.1
  2678.     \fILoss of line signal\fR 
  2679. .sp 9p
  2680. .RT
  2681. .PP
  2682. Under study.
  2683. .RT
  2684. .sp 1P
  2685. .LP
  2686. 3.1.2
  2687.     \fILoss of frame alignment\fR 
  2688. .sp 9p
  2689. .RT
  2690. .PP
  2691. The equipment shall recognize the loss of frame alignment as
  2692. defined in Recommendation\ G.706 [5], and an appropriate indication shall be
  2693. given.
  2694. .RT
  2695. .sp 1P
  2696. .LP
  2697. 3.1.3
  2698.     \fIRecovery of frame alignment\fR 
  2699. .sp 9p
  2700. .RT
  2701. .PP
  2702. The procedure for determining recovery of frame alignment shall be in accordance 
  2703. with Recommendation\ G.706 [5]. When frame recovery is complete, the indication 
  2704. of loss of frame alignment shall cease. 
  2705. .RT
  2706. .sp 1P
  2707. .LP
  2708. 3.1.4
  2709.     \fIAlarm indication signal (AIS) from an upstream failure\fR 
  2710. .sp 9p
  2711. .RT
  2712. .PP
  2713. The equipment shall recognize the presence of an alarm indication signal 
  2714. (AIS) indicating an upstream failure, and an appropriate indication 
  2715. shall be given. The binary equivalent of the AIS corresponds to an all ones
  2716. signal. The strategy for the detection of the presence of an AIS shall 
  2717. be such that with a high probability, it is detected even in the presence 
  2718. of a code 
  2719. violation ratio of\ 1 in\ 1000.
  2720. .bp
  2721. .RT
  2722. .sp 1P
  2723. .LP
  2724. 3.1.5
  2725.     \fIDistant alarm indication signal (DAIS)\fR 
  2726. .sp 9p
  2727. .RT
  2728. .PP
  2729. The equipment shall recognize the presence of distant alarm
  2730. indication signal as defined in Recommendation\ G.733 [6], \(sc\ 4.2.4 for both
  2731. 12\(hyframe and 24\(hyframe multiframe signals, and an appropriate indication 
  2732. shall be given. The strategy for the detection of the presence of this 
  2733. distant alarm indication signal shall be such that with a high probability, 
  2734. it is detected 
  2735. even in the presence of a code violation ratio of\ 1 in 1000.
  2736. .RT
  2737. .sp 2P
  2738. .LP
  2739. 3.2
  2740.     \fIFrame alignment signal (FAS) error performance measurements\fR 
  2741. .sp 1P
  2742. .RT
  2743. .sp 1P
  2744. .LP
  2745. 3.2.1
  2746.     \fICount of errored seconds\fR 
  2747. .sp 9p
  2748. .RT
  2749. .PP
  2750. The equipment shall be capable of counting the number of one second intervals 
  2751. in which one or more errors occur in the FAS bits associated with the 12\(hyframe 
  2752. or 24\(hyframe structures as defined in Recommendation\ G.704 [1]. The 
  2753. number of errored seconds in a selectable time period (see\ \(sc\ 4.1) shall be
  2754. counted and displayed. The equipment shall establish one\(hysecond intervals
  2755. independent of the occurrence of errors.
  2756. .RT
  2757. .sp 1P
  2758. .LP
  2759. 3.2.2
  2760.     \fICount of errors\fR 
  2761. .sp 9p
  2762. .RT
  2763. .PP
  2764. The equipment shall be capable of counting the number of FAS bit
  2765. errors occurring in a selectable time period (see\ \(sc\ 4.1).
  2766. .RT
  2767. .sp 2P
  2768. .LP
  2769. 3.3
  2770.     \fICRC\(hy6 error performance monitoring\fR 
  2771. .sp 1P
  2772. .RT
  2773. .sp 1P
  2774. .LP
  2775. 3.3.1
  2776.     \fICount of errored seconds\fR 
  2777. .sp 9p
  2778. .RT
  2779. .PP
  2780. The equipment shall be capable of counting the number of one\(hysecond 
  2781. intervals in which one or more CRC\(hy6 violations are detected in 24\(hyframe 
  2782. multiframe signals using the CRC\(hy6 procedure defined in Recommendation\ 
  2783. G.704 
  2784. [1] and G.706 [5]. The number of errored seconds in a selectable time period
  2785. shall be counted and displayed. The equipment shall establish one\(hysecond
  2786. intervals independent of the occurrence of errors.
  2787. .RT
  2788. .sp 1P
  2789. .LP
  2790. 3.3.2
  2791.     \fIPerformance indications\fR 
  2792. .sp 9p
  2793. .RT
  2794. .PP
  2795. As an option the instrument shall be capable of providing
  2796. performance information in accordance with Recommendation\ G.821 [7].
  2797. .RT
  2798. .sp 1P
  2799. .LP
  2800. 3.3.3
  2801.     \fIEstimate of bit\(hyerror\(hyratio\fR 
  2802. .sp 9p
  2803. .RT
  2804. .PP
  2805. This equipment shall optionally be capable of providing an estimate of 
  2806. the bit\(hyerror\(hyratio performance of 24\(hyframe multiframe signals 
  2807. in the range 10\uD\dlF261\u4\d to 10\uD\dlF261\u7\d by detecting CRC\(hy6 
  2808. violations. In performing this 
  2809. measurement, it shall be assumed that only one bit\(hyerror has occurred 
  2810. each time a CRC\(hy6 violation is detected. It is noted that this may not 
  2811. be an accurate 
  2812. estimate since more than one bit\(hyerror may occur within a 24\(hyframe 
  2813. multiframe, due to the bursty nature of error occurrences. 
  2814. .PP
  2815. The time interval for each bit\(hyerror\(hyratio measurement that is within 
  2816. the required range of the equipment shall be sufficiently long to include 
  2817. at 
  2818. least ten CRC violations.
  2819. .RT
  2820. .sp 1P
  2821. .LP
  2822. 3.3.4
  2823.     \fICount of errors\fR 
  2824. .sp 9p
  2825. .RT
  2826. .PP
  2827. The equipment shall also be capable of counting the number of CRC\(hy6 
  2828. violations occurring in a selectable time period (see\ \(sc\ 4.1). 
  2829. .RT
  2830. .sp 1P
  2831. .LP
  2832. 3.4
  2833.     \fILoss of frame\(hyalignment count\fR 
  2834. .sp 9p
  2835. .RT
  2836. .PP
  2837. The equipment shall be capable of counting the occurrences of loss of frame 
  2838. alignment over a selectable time period (see\ \(sc\ 4.1). Error counters 
  2839. shall be disabled during intervals of loss of frame alignment.
  2840. .bp
  2841. .RT
  2842. .sp 1P
  2843. .LP
  2844. 3.5
  2845.     \fIMeasurement of code violations\fR 
  2846. .sp 9p
  2847. .RT
  2848. .PP
  2849. If the measurement of 1544\ kbit/s code violations is included, the equipment 
  2850. shall meet the requirements of Recommendation\ O.161. 
  2851. .RT
  2852. .sp 1P
  2853. .LP
  2854. 3.6
  2855.     \fIChannel time slot access\fR 
  2856. .sp 9p
  2857. .RT
  2858. .PP
  2859. As an option, receiving access may be provided to a selected
  2860. 64\ kbit/s channel at an external interface. An interface meeting the
  2861. requirements of a co\(hydirectional interface output port defined in
  2862. Recommendation\ G.703\ [2], is preferred. In addition a centralized clock
  2863. interface as defined in Recommendation\ G.703 [2] may be provided.
  2864. .RT
  2865. .sp 1P
  2866. .LP
  2867. 3.7
  2868.     \fI4 kbit/s data link access\fR 
  2869. .sp 9p
  2870. .RT
  2871. .PP
  2872. Under study.
  2873. .RT
  2874. .sp 1P
  2875. .LP
  2876. 3.8
  2877.     \fISignaling bit access\fR 
  2878. .sp 9p
  2879. .RT
  2880. .PP
  2881. Under study.
  2882. .RT
  2883. .sp 2P
  2884. .LP
  2885. \fB4\fR     \fBControl and display requirements\fR 
  2886. .sp 1P
  2887. .RT
  2888. .sp 1P
  2889. .LP
  2890. 4.1
  2891.     \fIMeasurement timer\fR 
  2892. .sp 9p
  2893. .RT
  2894. .PP
  2895. A measurement interval timer shall be provided for the convenience of the 
  2896. user when counting errors. The timer shall be adjustable from\ 5 minutes 
  2897. to\ 24 hours in steps of one minute or continuous. Manual \*Qstart\*U and 
  2898. \*Qstop\*U 
  2899. controls shall also be provided.
  2900. .RT
  2901. .sp 1P
  2902. .LP
  2903. 4.2
  2904.     \fICount registers\fR 
  2905. .sp 9p
  2906. .RT
  2907. .PP
  2908. The count registers shall have a capacity of at least 99999. A
  2909. separate means for indicating overflow shall be provided. Each of the registers 
  2910. shall be capable of being independently reset. A separate register shall 
  2911. be 
  2912. provided for each parameter or condition listed in\ \(sc\(sc\ 3.1 through\ 3.4.
  2913. .RT
  2914. .sp 1P
  2915. .LP
  2916. 4.3
  2917.     \fISelection of multiframe structure\fR 
  2918. .sp 9p
  2919. .RT
  2920. .PP
  2921. A control shall be provided to permit a user to select whether the 12\(hyframe 
  2922. or 24\(hyframe multiframe structure is being monitored. As an option the 
  2923. equipment may automatically sense and display whether the signal being 
  2924. monitored is a 12\(hyframe, 24\(hyframe or neither multiframe structure.
  2925. .RT
  2926. .sp 1P
  2927. .LP
  2928. 4.4
  2929.     \fILock/reset of displays\fR 
  2930. .sp 9p
  2931. .RT
  2932. .PP
  2933. For each of the fault condition indications given in\ \(sc\ 3.1 means
  2934. shall be provided whereby the display will remain visible until a manual 
  2935. reset is operated. 
  2936. .RT
  2937. .sp 2P
  2938. .LP
  2939. \fB5\fR     \fBMonitoring equipment self diagnostics\fR 
  2940. .sp 1P
  2941. .RT
  2942. .PP
  2943. 5.1
  2944. As an option, an internal self diagnostic system to check for correct functioning 
  2945. of the instrument, shall be provided. 
  2946. .sp 9p
  2947. .RT
  2948. .sp 2P
  2949. .LP
  2950. \fB6\fR     \fBInterface for remote control and measurement results\fR 
  2951. .sp 1P
  2952. .RT
  2953. .PP
  2954. 6.1
  2955. As an option, an interface shall be provided for remote control of
  2956. the frame signal monitoring equipment, and transmission of measurement 
  2957. results. If provided, the interface bus shall comply with one of the following: 
  2958. .sp 9p
  2959. .RT
  2960. .LP
  2961.     a)
  2962.     ANSI/IEEE Std 488\(hy1978 [8]
  2963. .LP
  2964.     b)
  2965.     IEC Publication 625 [9]
  2966. .LP
  2967.     c)
  2968.     ANSI/EIA\(hy232\(hyD\(hy1986 [10].
  2969. .bp
  2970. .sp 2P
  2971. .LP
  2972. \fB7\fR     \fBOperating environment\fR 
  2973. .sp 1P
  2974. .RT
  2975. .PP
  2976. The electrical performance requirements shall be met when operating under 
  2977. climatic conditions as specified in Recommendation\ O.3, \(sc\ 2.1. 
  2978. .RT
  2979. .sp 2P
  2980. .LP
  2981.     \fBReferences\fR 
  2982. .sp 1P
  2983. .RT
  2984. .LP
  2985. [1]
  2986.      CCITT Recommendation \fISynchronous frame structures used at primary 
  2987. and\fR \fIsecondary hierarchical levels\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.704. 
  2988. .LP
  2989. [2]
  2990.     CCITT Recommendation \fIPhysical/electrical characteristics of\fR 
  2991. \fIhierarchical digital interfaces\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.703.
  2992. .LP
  2993. [3]
  2994.     CCITT Recommendation \fIDigital protected monitor points\fR , Vol.\ III,
  2995. Rec.\ G.772.
  2996. .LP
  2997. [4]
  2998.      CCITT Recommendation \fIThe control of jitter and wander within digital\fR 
  2999. \fInetworks which are based on the 1544\ kbit/s hierarchy\fR , Vol.\ III, 
  3000. Rec.\ G.824. 
  3001. .LP
  3002. [5]
  3003.     CCITT Recommendation \fIFrame alignment and cyclic redundancy check\fR 
  3004. \fI(RCR) procedures relating to basic frame structures defined in\fR 
  3005. \fIRecommendation G.704\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.706.
  3006. .LP
  3007. [6]
  3008.     CCITT Recommendation \fICharacteristics of primary PCM multiplex\fR 
  3009. \fIequipment operating at 1544\ kbit/s\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.733.
  3010. .LP
  3011. [7]
  3012.     CCITT Recommendation \fIError performance of an international digital\fR 
  3013. \fIconnection forming part of an integrated service digital network\fR 
  3014. , Vol.\ III, Rec.\ G.821. 
  3015. .LP
  3016. [8]
  3017.     ANSI/IEEE Std 488\(hy1978, \fIIEEE standard digital interface for\fR 
  3018. \fIprogrammable instrumentation\fR .
  3019. .LP
  3020. [9]
  3021.     IEC Publication 625 \fIAn interface system for programmable measuring\fR 
  3022. \fIinstruments (byte serial, bit parallel)\fR .
  3023. .LP
  3024. [10]
  3025.     ANSI/EIA\(hy232\(hyD\(hy1986 \fIInterface between data terminal equipment\fR 
  3026. \fIand data circuit terminating equipment employing serial binary data\fR 
  3027. \fIinterexchange\fR .
  3028. \v'2P'
  3029. .sp 2P
  3030. .LP
  3031. \fBRecommendation\ O.171\fR 
  3032. .RT
  3033. .sp 2P
  3034. .sp 1P
  3035. .ce 1000
  3036. \fBTIMING JITTER MEASURING EQUIPMENT FOR DIGITAL SYSTEMS\fR 
  3037. .FS
  3038. See the
  3039. Supplement\ No.\ 3.8 at the end of this fascicle.
  3040. .FE
  3041. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.171''
  3042. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.171    %'
  3043. .ce 0
  3044. .sp 1P
  3045. .ce 1000
  3046. \fI(Geneva, 1980; amended Malaga\(hyTorremolinos, 1984 and Melbourne, 1988)\fR 
  3047. .sp 9p
  3048. .RT
  3049. .ce 0
  3050. .sp 1P
  3051. .LP
  3052. \fB1\fR     \fBIntroduction\fR 
  3053. .sp 1P
  3054. .RT
  3055. .sp 2P
  3056. .LP
  3057. 1.1
  3058.     \fIGeneral\fR 
  3059. .sp 1P
  3060. .RT
  3061. .PP
  3062. 1.1.1 
  3063. The instrumentation specified below will be used to measure timing jitter 
  3064. on digital equipment. This instrumentation, which consists of a jitter 
  3065. measuring circuit and a test signal source, is shown in a general form 
  3066. in 
  3067. Figure\ 1/O.171. While essential requirements are given for the instrumentation, 
  3068. the realization of the equipment configuration is not covered and should 
  3069. be 
  3070. given careful consideration by the designer and user. An error\(hyratio 
  3071. meter may also be required for certain types of measurements. 
  3072. .sp 9p
  3073. .RT
  3074. .LP
  3075. .sp 2
  3076. .bp
  3077. .LP
  3078. .rs
  3079. .sp 23P
  3080. .ad r
  3081. \fBFigure 1/O.171, p.  \fR 
  3082. .sp 1P
  3083. .RT
  3084. .ad b
  3085. .RT
  3086. .PP
  3087. 1.1.2 
  3088. Certain requirements in this specification are provisional and
  3089. are still under study. These are individually indicated.
  3090. .PP
  3091. 1.1.3 
  3092. It is recommended that Recommendation G.823 [2] be read in
  3093. conjunction with this Recommendation.
  3094. .sp 2P
  3095. .LP
  3096. 1.2
  3097.     \fIInterfaces\fR 
  3098. .sp 1P
  3099. .RT
  3100. .PP
  3101. 1.2.1
  3102. The instrumentation shall be capable of operating at one or
  3103. more of the following bit rates and corresponding interface characteristics 
  3104. as described in the appropriate paragraphs of Recommendation\ G.703\ [1]. 
  3105. However, for all bit rates the signal applied to the input of the jitter 
  3106. measuring 
  3107. circuit should be a nominal rectangular pulse. Other signal shapes may 
  3108. produce intersymbol interference thus affecting measurement accuracy. 
  3109. .sp 9p
  3110. .RT
  3111. .LP
  3112.     a)
  3113.     \ \ 64 kbits,
  3114. .FS
  3115. References to 64\ kbit/s relate to the
  3116. codirectional interface. Limits for other 64\ kbit/s interfaces are under
  3117. study.
  3118. .FE
  3119. .LP
  3120.     b)
  3121.     1544 kbit/s,
  3122. .LP
  3123.     c)
  3124.     6312 kbit/s,
  3125. .LP
  3126.     d)
  3127.     2048 kbit/s,
  3128. .LP
  3129.     e)
  3130.     8448 kbit/s,
  3131. .LP
  3132.     f
  3133. )
  3134.     32 | 64 kbit/s,
  3135. .LP
  3136.     g)
  3137.     44 | 36 kbit/s,
  3138. .LP
  3139.     h)
  3140.     34 | 68 kbit/s,
  3141. .LP
  3142.     i)
  3143.     139 | 64 kbit/s.
  3144. .PP
  3145. 1.2.2
  3146. As an option the jitter measuring circuit shall be capable of
  3147. measuring jitter at a clock output port when such an access is provided on
  3148. digital equipment.
  3149. .bp
  3150. .sp 2P
  3151. .LP
  3152. 1.3
  3153.     \fIInterface impedances\fR 
  3154. .sp 1P
  3155. .RT
  3156. .PP
  3157. 1.3.1
  3158. The jitter measuring circuit and signal source shall have a
  3159. return loss better than 20\ dB
  3160. .FS
  3161. In the case of 1544\ kbit/s, the signal source shall have the following 
  3162. return loss: 20\ kHz to 500\ kHz \(>=" 14\ dB and 500\ kHz to 1.6\ MHz 
  3163. \(>= 16\ dB. 
  3164. .FE
  3165. under the conditions listed in Table\ 1/O.171.
  3166. .sp 9p
  3167. .RT
  3168. .ce
  3169. \fBH.T. [T1.171]\fR 
  3170. .ce
  3171. TABLE\ 1/O.171
  3172. .ce
  3173. \fBReturn loss test conditions\fR 
  3174. .ps 9
  3175. .vs 11
  3176. .nr VS 11
  3177. .nr PS 9
  3178. .TS
  3179. center box;
  3180. cw(48p) | cw(120p) .
  3181. Bit rate  (kbit/s)    Test conditions
  3182. _
  3183. .T&
  3184. cw(48p) | lw(72p) | lw(48p) .
  3185. \ \ \  |  64    120 ohms, nonreactive    3 kHz to 300 KHz
  3186. _
  3187. .T&
  3188. cw(48p) | lw(72p) | lw(48p) .
  3189. \ \ 1 | 44    100 ohms, nonreactive    20 kHz to 1.6 MHz
  3190. _
  3191. .T&
  3192. cw(48p) | lw(72p) | lw(48p) .
  3193. \ \ 2 | 48    75/120/130 ohms, nonreactive    40 kHz to 2.5 MHz
  3194. _
  3195. .T&
  3196. cw(48p) | lw(72p) | lw(48p) .
  3197. \ \ 6 | 12    75/110 ohms, nonreactive    100 kHz to 6.5 MHz
  3198. _
  3199. .T&
  3200. cw(48p) | lw(72p) | lw(48p) .
  3201. \ \ 8 | 48    75 ohms, nonreactive    100 kHz to 10 MHz
  3202. _
  3203. .T&
  3204. cw(48p) | lw(72p) | lw(48p) .
  3205. \ 32 | 64    75 ohms, nonreactive    500 kHz to 40 MHz
  3206. _
  3207. .T&
  3208. cw(48p) | lw(72p) | lw(48p) .
  3209. \ 34 | 68    75 ohms, nonreactive    500 kHz to 40 MHz
  3210. _
  3211. .T&
  3212. cw(48p) | lw(72p) | lw(48p) .
  3213. \ 44 | 36    75 ohms, nonreactive    500 kHz to 50 MHz
  3214. _
  3215. .T&
  3216. cw(48p) | lw(72p) | lw(48p) .
  3217. 139 | 64    75 ohms, nonreactive    7 kHz to 210 MHz  
  3218. _
  3219. .TE
  3220. .nr PS 9
  3221. .RT
  3222. .ad r
  3223. \fBTable 1/O.171 [T1.171], p.  \fR 
  3224. .sp 1P
  3225. .RT
  3226. .ad b
  3227. .RT
  3228. .LP
  3229. .sp 3
  3230. .sp 2P
  3231. .LP
  3232. \fB2\fR     \fBTest signal source\fR 
  3233. .sp 1P
  3234. .RT
  3235. .PP
  3236. Tests of digital equipment may be made with either a jittered or a non\(hyjittered 
  3237. digital signal. This will require the pattern generator, clock 
  3238. generator and modulation source shown in Figure\ 1/O.171.
  3239. .RT
  3240. .sp 1P
  3241. .LP
  3242. 2.1
  3243.     \fIModulation source\fR 
  3244. .sp 9p
  3245. .RT
  3246. .PP
  3247. The modulation source, testing in conformance with the Series\ G.700 Recommendations, 
  3248. may be provided within the clock generator and/or pattern 
  3249. generator or it may be provided separately. In this Recommendation it is
  3250. assumed that the modulation source is sinusoidal.
  3251. .bp
  3252. .RT
  3253. .sp 2P
  3254. .LP
  3255. 2.2
  3256.     \fIClock generator\fR 
  3257. .sp 1P
  3258. .RT
  3259. .PP
  3260. 2.2.1
  3261. It shall be possible to phase modulate the clock generator from the modulation 
  3262. source and to indicate the 
  3263. peak\(hyto\(hypeak phase deviation
  3264. of the modulated signal.
  3265. .sp 9p
  3266. .RT
  3267. .PP
  3268. The generated peak\(hyto\(hypeak jitter and the modulating frequencies 
  3269. shall meet the requirements of 
  3270. Figure\ 2/O.171 and Table\ 2/O.171.
  3271. .PP
  3272. 2.2.2
  3273. The modulating input sensitivity of the clock generator shall be   at least:
  3274. .LP
  3275.     a)
  3276.     2 volts peak\(hyto\(hypeak into 600 ohms for bit rates up to and
  3277. including 8448\ kbit/s,
  3278. .LP
  3279.     b)
  3280.     1 volt peak\(hyto\(hypeak into 75 ohms for bit rates up to and
  3281. including 139 | 64\ kbit/s.
  3282. .PP
  3283. 2.2.3
  3284. The minimum output of the modulated clock signal and the
  3285. external timing reference signal shall be 1\ volt peak\(hyto\(hypeak into 
  3286. 75\ ohms. 
  3287. .sp 1P
  3288. .LP
  3289. 2.2.4
  3290.     \fIAccuracy of the clock generator\fR 
  3291. .sp 9p
  3292. .RT
  3293. .PP
  3294. Accuracy requirements are still under study.
  3295. .RT
  3296. .sp 1P
  3297. .LP
  3298. 2.3
  3299.     \fIPattern generator\fR 
  3300. .sp 9p
  3301. .RT
  3302. .PP
  3303. The jitter measuring circuit will normally be used with any
  3304. suitable pattern generator providing the following facilities.
  3305. .PP
  3306. \fINote\fR \ \(em\ When test signals are applied to the input of a digital
  3307. demultiplexer, they must contain the frame alignment signal and justitication 
  3308. control bits. Other measurement techniques are available which do not require 
  3309. the addition of the frame alignment signal or justification control bits. 
  3310. .RT
  3311. .sp 1P
  3312. .LP
  3313. 2.3.1
  3314.     \fIPatterns\fR 
  3315. .sp 9p
  3316. .RT
  3317. .PP
  3318. The pattern generator shall be capable of providing the following   patterns:
  3319. .PP
  3320. \fINote\fR \ \(em\ Longer pseudorandom patterns may be necessary for jitter
  3321. measurements on digital line systems and digital line sections\ [1].
  3322. .RT
  3323. .PP
  3324. 2.3.1.1
  3325. For use at bit rates of 64 kbit/s, a 
  3326. pseudorandom
  3327. pattern
  3328. of 2\u1\d\u1\d\ \(em\ 1\ bit length corresponding to Recommendation\ O.152. 
  3329. Encoding in accordance with Recommendation\ G.703\ [1], \(sc\ 1.2.1. 
  3330. .sp 9p
  3331. .RT
  3332. .PP
  3333. 2.3.1.2
  3334. For use at bit rates of 1544\ kbit/s 6312\ kbit/s and
  3335. 44\ 736\ kbit/s, pseudorandom patterns of 2\u1\d\u5\d\ \(em\ 1, 2\u2\d\u0\d\ 
  3336. \(em\ 1, 
  3337. 2\u2\d\u3\d\ \(em\ 1 bit length corresponding to Recommendation\ O.151, 
  3338. \(sc\ 2. 
  3339. .PP
  3340. \fINote\fR \ \(em\ Definition of the 2\u2\d\u0\d\ \(em\ 1 pseudorandom pattern
  3341. is under study.
  3342. .PP
  3343. 2.3.1.3
  3344. For use at bit rates of 2048 kbit/s, 8448 kbit/s and
  3345. 32\ 064\ kbit/s, a pseudorandom pattern of 2\u1\d\u5\d\ \(em\ 1 length 
  3346. corresponding to Recommendation\ O.151, \(sc\ 2.1. 
  3347. .PP
  3348. 2.3.1.4
  3349. For use at bit rates of 34 | 68 kbit/s and 139 | 64 kbit/s, a
  3350. pseudorandom pattern of 2\u2\d\u3\d\ \(em\ 1\ bit length corresponding to
  3351. Recommendation\ O.151, \(sc\ 2.2.
  3352. .PP
  3353. 2.3.1.5
  3354. For use at all bit rates, a 1000 1000 repetitive pattern.
  3355. .PP
  3356. 2.3.1.6
  3357. As an option and for use at all bit rates:
  3358. .LP
  3359.     a)
  3360.     two freely programmable 8\(hybit patterns capable of being
  3361. alternated at a low rate (e.g.\ from 10\ Hz to 100\ Hz),
  3362. .LP
  3363.     b)
  3364.     a freely programmable 16\(hybit pattern.
  3365. .sp 1P
  3366. .LP
  3367. 2.3.2
  3368.     \fIGeneration errors\fR 
  3369. .sp 9p
  3370. .RT
  3371. .PP
  3372. The detailed specification of pattern generator parameters, to be compatible 
  3373. with the jitter measuring circuit specification, is under 
  3374. study.
  3375. .bp
  3376. .RT
  3377. .LP
  3378. .rs
  3379. .sp 16P
  3380. .ad r
  3381. \fBFigure 2/O.171 p. 12\fR 
  3382. .sp 1P
  3383. .RT
  3384. .ad b
  3385. .RT
  3386. .ce
  3387. \fBH.T. [T2.171]\fR 
  3388. .ce
  3389. TABLE\ 2/O.171
  3390. .ce
  3391. \fBGenerated jitter amplitude versus jitter
  3392. .ce
  3393. frequency\fR 
  3394. .ps 9
  3395. .vs 11
  3396. .nr VS 11
  3397. .nr PS 9
  3398. .TS
  3399. center box;
  3400. cw(48p) | cw(72p) | cw(72p) .
  3401. Bit rate  (kbit/s)     {
  3402. A
  3403. 1: Minimum value of generated jitter from \fIf\fR
  3404. 0\fR
  3405. to \fIf\fR
  3406. 2
  3407.  }     {
  3408. A
  3409. 2: Minimum value of generated jitter from \fIf\fR
  3410. 3 to
  3411. \fI\fIf\fR
  3412. 4
  3413.  }
  3414. _
  3415. .T&
  3416. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3417. \ \ \  |  64    \ 5.0 UI from 2 Hz to 600 Hz    0.5 UI from 6 kHz to 10 kHz
  3418. _
  3419. .T&
  3420. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3421. \ \ 1 | 44    10.0 UI from 2 Hz to 200 Hz    0.5 UI from 4 kHz to 40 kHz
  3422. _
  3423. .T&
  3424. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3425. \ \ 2 | 48    10.0 UI from 2 Hz to 2400 Hz    0.5 UI from 45 kHz to 100 kHz
  3426. _
  3427. .T&
  3428. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3429. \ \ 6 | 12    10.0 UI from 2 Hz to 1600 Hz    0.5 UI from 32 kHz to 160 kHz
  3430. _
  3431. .T&
  3432. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3433. \ \ 8 | 48    10.0 UI from 2 Hz to 400 Hz     {
  3434. 0.5 UI from 8.5 kHz to 400 kHz
  3435.  }
  3436. _
  3437. .T&
  3438. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3439. \ 32 | 64    10.0 UI from 2 Hz to 1600 Hz    0.5 UI from 32 kHz to 800 kHz
  3440. _
  3441. .T&
  3442. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3443. \ 34 | 68    10.0 UI from 2 Hz to 1000 Hz    0.5 UI from 20 kHz to 800 kHz
  3444. _
  3445. .T&
  3446. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3447. \ 44 | 36    16.0 UI from 2 Hz to 3200 Hz     {
  3448. 0.5 UI from 100 kHz to 4500 kHz
  3449.  }
  3450. _
  3451. .T&
  3452. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3453. 139 | 64    10.0 UI from 2 Hz to 500 Hz     {
  3454. 0.5 UI from 10 kHz to 3500 kHz
  3455.  }
  3456. _
  3457. .T&
  3458. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3459. \ \ 8 | 48 (low Q)    10.0 UI from 2 Hz to 10.7 kHz     {
  3460. 0.5 UI from 200 kHz to 400 kHz
  3461.  }
  3462. .TE
  3463. .LP
  3464. \fINote 1 to Figure 2/O.171 and Table 2/O.171\fR
  3465. \ \(em\ Amplitude of jitter specified
  3466. as peak\(hyto\(hypeak value in unit intervals (UI).
  3467. .LP
  3468. \fINote 2 to Figure 2/O.171 and Table 2/O.171\fR
  3469. \ \(em\ \fIf\fR
  3470. 1 lies between \fIf\fR
  3471. 0
  3472. and \fIf\fR
  3473. 2 (see
  3474. Figure\ 3/O.171 and Table\ 3/O.171). It is not defined here since it is not
  3475. significant in the context of the requirements of the clock generator.
  3476. .nr PS 9
  3477. .RT
  3478. .ad r
  3479. \fBTableau 2/O.171 [T2.171], p. 13\fR 
  3480. .sp 1P
  3481. .RT
  3482. .ad b
  3483. .RT
  3484. .LP
  3485. .bp
  3486. .sp 2P
  3487. .LP
  3488. \fB3\fR     \fBJitter measuring circuit\fR 
  3489. .sp 1P
  3490. .RT
  3491. .sp 1P
  3492. .LP
  3493. 3.1
  3494.     \fIInput sensitivity\fR 
  3495. .sp 9p
  3496. .RT
  3497. .PP
  3498. The jitter measuring circuit is required to operate satisfactorily under 
  3499. the following input conditions: 
  3500. .RT
  3501. .LP
  3502.     a)
  3503.     The specification for equipment output ports listed in
  3504. Recommendation\ G.703\ [1].
  3505. .LP
  3506.     b)
  3507.     The jitter measuring circuit shall also be capable of
  3508. measuring at protected test points on digital equipment. Therefore, an
  3509. additional gain of 30\ dB (40\ dB) shall be provided to compensate
  3510. for the flat loss at the monitoring points already provided on
  3511. some equipment.
  3512. .LP
  3513.      \fINote\ 1\fR \ \(em\ As an option for instrumentation operating at an 
  3514. interface of 1544\ kbit/s the additional gain, where provided, shall be 
  3515. 40\ dB.
  3516. .LP
  3517.     \fINote\ 2\fR \ \(em\ The influence of the additional gain of 40 dB
  3518. and of frequency dependent cable loss on the measurement accuracy is
  3519. under study.
  3520. .sp 2P
  3521. .LP
  3522. 3.2
  3523.     \fIMeasurement ranges\fR 
  3524. .sp 1P
  3525. .RT
  3526. .PP
  3527. 3.2.1
  3528. The jitter measuring circuit shall be capable of measuring
  3529. peak\(hyto\(hypeak jitter
  3530. . The measurement ranges to be provided are to be
  3531. optional but for reasons of compatibility the jitter amplitude/jitter frequency 
  3532. response of the jitter measuring circuit shall meet the requirements of 
  3533. Figure\ 3/O.171 and Table\ 3/O.171 where \fIf\fR\d1\uto \fIf\fR\d4\uare 
  3534. the frequencies defining the jitter frequencies to be measured. 
  3535. .sp 9p
  3536. .RT
  3537. .PP
  3538. 3.2.2
  3539. When measuring peak\(hyto\(hypeak jitter it shall also be possible
  3540. to count the number of occasions and the period of time for which a given
  3541. selectable threshold of jitter is exceeded. It shall be possible to record
  3542. these events by means of an external counter, or an internal counter as an
  3543. option.
  3544. .PP
  3545. 3.2.3
  3546. It shall be possible to set the threshold of \(sc\ 3.2.2 at any
  3547. selected measurement value within the measuring range of the jitter measuring 
  3548. circuit. 
  3549. .PP
  3550. 3.2.4
  3551. As an option, the jitter measuring circuit shall be capable of
  3552. measuring r.m.s. jitter. In such cases it shall be possible to measure 3.0
  3553. unit intervals (UI) at jitter frequencies up to \fIf\fR\d2\u, and 0.15\ 
  3554. UI at jitter frequencies from \fIf\fR\d3\uto \fIf\fR\d4\uof Figure\ 3/O.171 
  3555. and Table\ 3/O.171, the measurement ranges being optional. 
  3556. .PP
  3557. 3.2.5
  3558. Where the option in \(sc 3.2.4 is not provided, the analogue output can 
  3559. be used to make r.m.s. measurements with an external meter. 
  3560. .LP
  3561. .rs
  3562. .sp 20P
  3563. .ad r
  3564. \fBFigure 3/O.171, p.  \fR 
  3565. .sp 1P
  3566. .RT
  3567. .ad b
  3568. .RT
  3569. .LP
  3570. .bp
  3571. .ce
  3572. \fBH.T. [T3.171]\fR 
  3573. .ce
  3574. TABLE\ 3/O.171
  3575. .ce
  3576. \fBMeasured jitter amplitude versus jitter frequency\fR 
  3577. .ps 9
  3578. .vs 11
  3579. .nr VS 11
  3580. .nr PS 9
  3581. .TS
  3582. center box;
  3583. cw(48p) | cw(72p) | cw(72p) .
  3584. Bit rate  (kbit/s)     {
  3585. A
  3586. 1: Maximum value of jitter to be measured from \fIf\fR
  3587. 1 to \fIf\fR
  3588. 2
  3589.  }     {
  3590. A
  3591. 2: Maximum value of jitter to be measured from \fIf\fR
  3592. 3 to
  3593. \fIf\fR
  3594. 4
  3595.  }
  3596. _
  3597. .T&
  3598. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3599. \ \ \  |  64    \ 5.0 UI from 20 Hz to 600 Hz    0.5 UI from 6 kHz to 10 kHz
  3600. _
  3601. .T&
  3602. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3603. \ \ 1 | 44    10.0 UI from 10 Hz to 200 Hz    0.3 UI from 7 kHz to 40 kHz
  3604. _
  3605. .T&
  3606. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3607. \ \ 2 | 48    10.0 UI from 20 Hz to 2400 Hz    0.5 UI from 45 kHz to 100 kHz
  3608. _
  3609. .T&
  3610. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3611. \ \ 6 | 12    10.0 UI from 10 Hz to 1600 Hz    0.5 UI from 32 kHz to 160 kHz
  3612. _
  3613. .T&
  3614. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3615. \ \ 8 | 48    10.0 UI from 20 Hz to 400 Hz     {
  3616. 0.5 UI from 8.5 kHz to 400 kHz
  3617.  }
  3618. _
  3619. .T&
  3620. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3621. \ 32 | 64    10.0 UI from 60 Hz to 1600 Hz    0.5 UI from 32 kHz to 800 kHz
  3622. _
  3623. .T&
  3624. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3625. \ 34 | 68     {
  3626. 10.0 UI from 100 Hz to 1000 Hz
  3627.  }    0.5 UI from 20 kHz to 800 kHz
  3628. _
  3629. .T&
  3630. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3631. \ 44 | 36    16.0 UI from 10 Hz to 3200 Hz     {
  3632. 0.5 UI from 100 kHz to 4500 kHz
  3633.  }
  3634. _
  3635. .T&
  3636. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3637. 139 | 64    10.0 UI from 200 Hz to 500 Hz     {
  3638. 0.5 UI from 10 kHz to 3500 kHz
  3639.  }
  3640. _
  3641. .T&
  3642. cw(48p) | lw(72p) | lw(72p) .
  3643. \ \ 8 | 48 (low Q)     {
  3644. 10.0 UI from 20 Hz to 10.7 kHz
  3645.  }    0.5 UI from 200 kHz to 400 kHz
  3646. .TE
  3647. .LP
  3648. \fINote to Figure 3/O.171 and Table 3/O.171\fR
  3649. \ \(em\ Amplitude of jitter specified
  3650. as peak\(hyto\(hypeak value in unit intervals (UI).
  3651. .nr PS 9
  3652. .RT
  3653. .ad r
  3654. \fBTable 3/O.171 [T3.171], p.  \fR 
  3655. .sp 1P
  3656. .RT
  3657. .ad b
  3658. .RT
  3659. .LP
  3660. .sp 1
  3661. .sp 2P
  3662. .LP
  3663. 3.3
  3664.     \fIMeasurement bandwidths\fR 
  3665. .sp 1P
  3666. .RT
  3667. .PP
  3668. 3.3.1
  3669. The basic jitter measuring circuit shall contain filters to limit the band 
  3670. of the jitter frequencies to be measured at the various bit 
  3671. rates. Additional filters shall be provided to further limit the bandwidth 
  3672. for the measurement of specified jitter spectra as defined in the Series\ 
  3673. G.700 
  3674. Recommendations and for other uses. These additional filters may be either
  3675. internal or external to the jitter measuring circuit. The filters are to be
  3676. connected between the phase detector and the measuring device. The bandwidth 
  3677. of the jitter measuring circuit and the filters shall be in accordance 
  3678. with 
  3679. Table\ 4/O.171.
  3680. .sp 9p
  3681. .RT
  3682. .sp 1P
  3683. .LP
  3684. 3.3.2
  3685.     \fIFrequency response of jitter measuring circuit and filters\fR 
  3686. .sp 9p
  3687. .RT
  3688. .PP
  3689. The response of all filters within the passband shall be such that the 
  3690. accuracy requirements of the jitter measuring circuit are met. 
  3691. .PP
  3692. At frequencies below the lower 3\(hydB point, the attenuation of the
  3693. highpass filtration shall rise with a value greater than, or equal to, 20\ dB
  3694. per decade.
  3695. .PP
  3696. At frequencies above the upper 3\(hydB point the attenuation of the
  3697. lowpass filtration shall rise with a value greater than, or equal to, 60\ dB
  3698. per decade.
  3699. .PP
  3700. However, the maximum attenuation of the filters shall be at least
  3701. 60\ dB.
  3702. .PP
  3703. \fINote\fR \ \(em\ The effect of nonsinusoidal jitter on the requirements for
  3704. the filters is still under study.
  3705. .bp
  3706. .RT
  3707. .ce
  3708. \fBH.T. [T4.171]\fR 
  3709. .ce
  3710. TABLE\ 4/O.171
  3711. .ce
  3712. \fBJitter measurement bandwidths and highpass filter cutoff\fR 
  3713. .ce
  3714.  
  3715. .ce
  3716. \fBfrequencies\fR 
  3717. .ps 9
  3718. .vs 11
  3719. .nr VS 11
  3720. .nr PS 9
  3721. .TS
  3722. center box;
  3723. cw(36p) | cw(34p) sw(34p) sw(28p) sw(34p) | cw(34p) sw(28p) , ^  | c | c | c | c | c | c.
  3724. Bit rate (kbit/s)    Jitter measurement bandwidth     {
  3725. Point \*`a 3 dB des filtres suppl\*'ementaires
  3726.  }
  3727.      {
  3728. \fIf\fR
  3729. 0
  3730. (lower 3 dB
  3731. point)
  3732. (Hz)
  3733.  }    \fIf\fR 1  (Hz)    \fIf\fR 4  (kHz)     {
  3734. \fIf\fR
  3735. 5
  3736. (upper 3 dB
  3737. point)
  3738. (kHz)
  3739.  }    Highpass filter No.\ 1    Highpass filter No.\ 2
  3740. _
  3741. .T&
  3742. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3743. \ \ \  |  64    2    \ 20    \ \ 10    \(= \ \ 20    \ 20 Hz    \ \ 3 kHz
  3744. _
  3745. .T&
  3746. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3747. \ \ 1 | 44    2    \ 10    \ \ 40    \(= \ \ 80    \ 10 Hz    \ \ 8 kHz
  3748. _
  3749. .T&
  3750. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3751. \ \ 2 | 48    2    \ 20    \ 100    \(= \ 200    \ 20 Hz    700 Hz  \ 18 kHz
  3752. _
  3753. .T&
  3754. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3755. \ \ 6 | 12    2    \ 10    \ 160    \(= \ 320    \ 10 Hz  \ 60 Hz    \ 24 kHz \ 32 kHz
  3756. _
  3757. .T&
  3758. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3759. \ \ 8 | 48    2    \ 20    \ 400    \(= \ 800    \ 20 Hz    \ \ 3 kHz \ 80 kHz
  3760. _
  3761. .T&
  3762. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3763. \ 32 | 64    2    \ 60    \ 800    \(= 1600    \ 60 Hz    160 kHz
  3764. _
  3765. .T&
  3766. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3767. \ 34 | 68    2    100    \ 800    \(= 1600    100 Hz    \ 10 kHz
  3768. _
  3769. .T&
  3770. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3771. \ 44 | 36    2    \ 10    4500    \(= 9000    \ 10 Hz    900 kHz
  3772. _
  3773. .T&
  3774. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3775. 139 | 64    2    200    3500    \(= 7000    200 Hz    \ 10 kHz
  3776. .TE
  3777. .LP
  3778. \fINote\ 1\fR
  3779. \ \(em\ The accuracy of the instrument is specified between frequencies
  3780. \fIf\fR
  3781. 1 and \fIf\fR
  3782. 4.
  3783. .LP
  3784. \fINote\ 2\fR
  3785. \ \(emTwo values are specified for highpass filter No.\ 1 at
  3786. 6312\ kbit/s and highpass filter No.\ 2 at 2048\ kbit/s,
  3787. 6312\ kbit/s and 8448\ kbit/s.
  3788. .nr PS 9
  3789. .RT
  3790. .ad r
  3791. \fBTable 4/O.171 [T4.171], p.  \fR 
  3792. .sp 1P
  3793. .RT
  3794. .ad b
  3795. .RT
  3796. .sp 2P
  3797. .LP
  3798. .sp 4
  3799. 3.4
  3800.     \fIMeasurement accuracy\fR 
  3801. .sp 1P
  3802. .RT
  3803. .sp 1P
  3804. .LP
  3805. 3.4.1
  3806.     \fIGeneral\fR 
  3807. .sp 9p
  3808. .RT
  3809. .PP
  3810. The measuring accuracy of the jitter measuring circuit is dependent upon 
  3811. several factors such as fixed intrinsic error, frequency response and 
  3812. pattern\(hydepending error of the internal reference timing circuits. In 
  3813. addition there is an error which is a function of the actual reading. 
  3814. .PP
  3815. The total error at 1\(hykHz jitter frequency (excluding the error due to 
  3816. frequency response) shall be less than 
  3817. .RT
  3818. .sp 1P
  3819. .ce 1000
  3820. \(+- | % of reading \(+- | \ \(+-\ Y
  3821. .ce 0
  3822. .sp 1P
  3823. .LP
  3824. where X is the fixed error of Table\ 5/O.171 and Y an error of 0.01\ UI p\(hyp
  3825. (0.002\ UI | dr\\d.\\dm\\d.\\ds\\d.\u) which applies if internal timing 
  3826. extraction is used. 
  3827. .bp
  3828. .sp 1P
  3829. .LP
  3830. 3.4.2
  3831.     \fIFixed error\fR 
  3832. .sp 9p
  3833. .RT
  3834. .PP
  3835. For the system bit rates and for the indicated test sequences the fixed 
  3836. error of the jitter measuring circuit shall be as listed in Table\ 5/O.171 
  3837. when measured at any jitter frequency between \fIf\fR\d1\uand \fIf\fR\d4\uof 
  3838. Figure\ 3/O.171.
  3839. .RT
  3840. .sp 1P
  3841. .LP
  3842. 3.4.3
  3843.     \fIError at other frequencies\fR 
  3844. .sp 9p
  3845. .RT
  3846. .PP
  3847. At jitter frequencies between \fIf\fR\d1\uand \fIf\fR\d4\uother than 1 
  3848. kHz, the error additional to that defined in \(sc\ 3.4.1 above shall be 
  3849. as listed in 
  3850. Table\ 6/O.171.
  3851. .PP
  3852. \fINote\fR \ \(em\ The limits of measuring accuracy of the jitter measuring
  3853. circuit given in \(sc\ 3.4 are provisional and are still under study.
  3854. .RT
  3855. .LP
  3856. .sp 4
  3857. .ce
  3858. \fBH.T. [T5.171]\fR 
  3859. .ce
  3860. TABLE\ 5/O.171
  3861. .ce
  3862. \fBFixed error in jitter measurements\fR 
  3863. .ps 9
  3864. .vs 11
  3865. .nr VS 11
  3866. .nr PS 9
  3867. .TS
  3868. center box;
  3869. cw(36p) | cw(34p) sw(34p) sw(28p) sw(34p) sw(34p) sw(28p) , ^  | c s | c | c s 
  3870. ^  | c | c | c | c | c | c.
  3871. Bit rate  (kbit/s)     {
  3872. Jitter in UI for given patterns
  3873.  }
  3874.     1000 1000    Pseudorandom | ua\d\u)\d    All ones or  clock input    p\(hyp    r.m.s.    p\(hyp    r.m.s.    p\(hyp    r.m.s.
  3875. _
  3876. .T&
  3877. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3878. \ \ \  |  64    \fB<\fR  0.005    \fB<\fR  0.002    \fB<\fR  0.025    \fB<\fR  0.004    \fB<\fR  0.004    \fB<\fR  0.001
  3879. _
  3880. .T&
  3881. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3882. \ \ 1 | 44    < 0.005    < 0.002    < 0.025    < 0.004    < 0.004    < 0.001
  3883. _
  3884. .T&
  3885. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3886. \ \ 2 | 48    < 0.005    < 0.002    < 0.025    < 0.004    < 0.004    < 0.001  
  3887. _
  3888. .T&
  3889. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3890. \ \ 6 | 12    < 0.005    < 0.002    < 0.025    < 0.004    < 0.004    < 0.001
  3891. _
  3892. .T&
  3893. cw(36p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) | cw(34p) | cw(34p) | cw(28p) .
  3894. \ \ 8 | 48    < 0.005    < 0.002    < 0.025    < 0.004    < 0.004    < 0.001  
  3895. _
  3896. .TE
  3897. .nr PS 9
  3898. .RT
  3899. .ad r
  3900. \fBTableau\ 5/O.171 [T5.171], p. 17\fR 
  3901. .sp 1P
  3902. .RT
  3903. .ad b
  3904. .RT
  3905. .LP
  3906. .rs
  3907. .sp 6P
  3908. .ad r
  3909. BLANC
  3910. .ad b
  3911. .RT
  3912. .LP
  3913. .bp
  3914. .ce
  3915. \fBH.T. [T6.171]\fR 
  3916. .ce
  3917. TABLE\ 6/O.171
  3918. .ce
  3919. \fBFrequency response error\fR 
  3920. .ps 9
  3921. .vs 11
  3922. .nr VS 11
  3923. .nr PS 9
  3924. .TS
  3925. center box;
  3926. cw(36p) | cw(36p) sw(36p) | cw(72p) , ^  | c | c | ^ .
  3927. Bit rate  (kbit/s)    Measurement bandwidth     {
  3928. Additional error referring to error
  3929. at 1\ kHz
  3930.  }
  3931.     \fIf\fR 1  (Hz)    \fIf\fR 4  (kHz)
  3932. _
  3933. .T&
  3934. cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | lw(72p) .
  3935. \ \ \  |  64    \ 20    \ \ 10     {
  3936. \(+- | % 20 Hz to 600 Hz
  3937. \(+- | % 600 Hz to 10 kHz
  3938.  }
  3939. _
  3940. .T&
  3941. cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | lw(72p) .
  3942. \ \ 1 | 44    \ 10    \ \ 40     {
  3943. \(+- | % \fIf\fR
  3944. 1 to 1 kHz; \(+- 2% to \fIf\fR
  3945. 4
  3946.  }
  3947. _
  3948. .T&
  3949. cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | lw(72p) .
  3950. \ \ 2 | 48    \ 20    \ 100     {
  3951. \(+- | % \fIf\fR
  3952. 1 to \fIf\fR
  3953. 4
  3954.  }
  3955. _
  3956. .T&
  3957. cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | lw(72p) .
  3958. \ \ 6 | 12    \ 10    \ 160     {
  3959. \(+- | % \fIf\fR
  3960. 1 to 1 kHz; \(+- 2% to \fIf\fR
  3961. 4
  3962.  }
  3963. _
  3964. .T&
  3965. cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | lw(72p) .
  3966. \ \ 8 | 48    \ 20    \ 400     {
  3967. \(+- 2% \fIf\fR
  3968. 1 to 300 kHz
  3969. \(+- 3% 300 Hz to \fIf\fR
  3970. 4
  3971.  }
  3972. _
  3973. .T&
  3974. cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | lw(72p) .
  3975. \ 32 | 64\fR    \ 60\fR    \ \ 800\fR    \(+- 2% 60 Hz to 300 kHz
  3976. _
  3977. .T&
  3978. cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | lw(72p) .
  3979. \ 34 | 68    100    \ 800     {
  3980. \(+- 3% 300 kHz to \fIf\fR
  3981. 4
  3982.  }
  3983. _
  3984. .T&
  3985. cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | lw(72p) , c | c | c | ^ .
  3986. \ 44 | 36    \ 10    4500     {
  3987. \(+- 4% 10 Hz to 200 Hz
  3988. \(+- 2% 200 Hz to 300 kHz
  3989. \(+- 3% 300 kHz to 1 MHz
  3990. \(+- 5% 1 MHz to 3 MHz
  3991. \(+- 10% > 3 MHz
  3992.  }
  3993. 139 | 64    200    3500
  3994. _
  3995. .TE
  3996. .nr PS 9
  3997. .RT
  3998. .ad r
  3999. \fBTableau\ 6/O.171 [T6.171], p. 18\fR 
  4000. .sp 1P
  4001. .RT
  4002. .ad b
  4003. .RT
  4004. .LP
  4005. .sp 2
  4006. .sp 2P
  4007. .LP
  4008. 3.5
  4009.     \fIAdditional facilities\fR 
  4010. .sp 1P
  4011. .RT
  4012. .sp 1P
  4013. .LP
  4014. 3.5.1
  4015.     \fIAnalogue output\fR 
  4016. .sp 9p
  4017. .RT
  4018. .PP
  4019. The jitter measuring circuit shall provide an
  4020. analogue output signal to enable measurements to be made externally to the
  4021. jitter measuring circuit.
  4022. .RT
  4023. .sp 1P
  4024. .LP
  4025. 3.5.2
  4026.     \fIReference timing signal\fR 
  4027. .sp 9p
  4028. .RT
  4029. .PP
  4030. A reference timing signal for the phase detector is required. For end\(hyto\(hyend 
  4031. measurements it may be derived in the jitter measuring circuit from any 
  4032. input pattern. For loop\(hymeasurements it may be derived from a suitable 
  4033. clock source.
  4034. .RT
  4035. .sp 2P
  4036. .LP
  4037. \fB4\fR     \fBOperating environment\fR 
  4038. .sp 1P
  4039. .RT
  4040. .PP
  4041. The electrical performance requirements shall be met when operating at 
  4042. the climatic conditions as specified in Recommendation\ O.3, \(sc\ 2.1. 
  4043. .RT
  4044. .sp 2P
  4045. .LP
  4046.     \fBReferences\fR 
  4047. .sp 1P
  4048. .RT
  4049. .LP
  4050. [1]
  4051.     CCITT Recommendation \fIPhysical/electrical characteristics of\fR 
  4052. \fIhierarchical digital interfaces\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.703.
  4053. .LP
  4054. [2]
  4055.     CCITT Recommendation \fIThe control of jitter and wander within\fR 
  4056. \fIdigital networks which are based on the 2048\ kbit/s hierarchy\fR ,
  4057. Vol.\ III, Rec.\ G.823.
  4058. .LP
  4059. .bp
  4060.