home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ NetNews Usenet Archive 1992 #26 / NN_1992_26.iso / spool / rec / audio / 15060 < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1992-11-13  |  1.0 KB  |  21 lines
  1. Newsgroups: rec.audio
  2. Path: sparky!uunet!utcsri!torn!watserv2.uwaterloo.ca!watserv1!sail.uwaterloo.ca!wkung
  3. From: wkung@sail.uwaterloo.ca (Bill Kung)
  4. Subject: Re: PNP vs NPN Output Stages
  5. Message-ID: <BxnwEJ.EJo@watserv1.uwaterloo.ca>
  6. Keywords: Lock
  7. Sender: news@watserv1.uwaterloo.ca
  8. Organization: University of Waterloo
  9. References: <184200@pyramid.pyramid.com> <BxIFyv.6rx@watserv1.uwaterloo.ca> <19153@ucdavis.ucdavis.edu>
  10. Date: Fri, 13 Nov 1992 15:59:06 GMT
  11. Lines: 8
  12.  
  13. Maybe I should have sounded a little bit more assertive, although I still
  14. might not know what I'm talking about.  I routinely measure noise in P-channel
  15. and N-channel MOSFETs (discrete devices) and PNP and NPN bipolar transistors
  16. (discrete devices).  I know for a fact that a PNP transistor will have a
  17. lower input-referred 1/f noise value than a comparable NPN transistor.  1/f
  18. noise has been adequately described by mobility-fluctuation models and
  19. resistance-fluctuation models.  As to base spreading resistance, that can
  20. usually be tailored by the process.
  21.