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/ NetNews Usenet Archive 1992 #26 / NN_1992_26.iso / spool / comp / doc / techrepo / 216 < prev    next >
Encoding:
Internet Message Format  |  1992-11-10  |  3.0 KB
  1. Path: sparky!uunet!think.com!ames!agate!darkstar.UCSC.EDU!golding
  2. From: jean@cse.ucsc.edu (Jean McKnight)
  3. Newsgroups: comp.doc.techreports
  4. Subject: UCSC TR: Carafe: An Inductive Fault Analysis Tool for CMOS VLSI Circuits
  5. Date: 9 Nov 1992 23:25:00 GMT
  6. Organization: University of California, Santa Cruz (CE/CIS Boards)
  7. Lines: 59
  8. Approved: compdoc-techreports@ftp.cse.ucsc.edu
  9. Message-ID: <1dre92INN2qq@darkstar.UCSC.EDU>
  10. NNTP-Posting-Host: oak.ucsc.edu
  11. Keywords: Fault models, VLSI testing, CMOS, inductive fault analysis.
  12. Originator: golding@oak
  13.  
  14.           University of California at Santa Cruz
  15.   Baskin Center for Computer Engineering and Information Sciences 
  16.  
  17. The following technical report is available electronically or as
  18. a paper copy.  Instructions for getting either follow the abstract.
  19.  
  20.  
  21. UCSC-CRL-91-24  (available electronically as ucsc-crl-91-24.ps.Z)
  22. CARAFE:  AN INDUCTIVE FAULT ANALYSIS TOOL FOR CMOS VLSI CIRCUITS
  23. Alvin Lun-Knep Jee
  24. June 1991, 37 pages (paper copy $7.00)
  25.  
  26. Abstract:  Traditional fault models for testing CMOS VLSI circuits
  27. do not take into account the actual mechanisms that precipitate faults.
  28. As a result, the failure modes of a circuit as predicted by these
  29. fault models may not reflect the realistic failure modes of the
  30. circuit.
  31.       This thesis reports on the Carafe software which
  32. determines the realistic bridge faults of the CMOS circuit based on
  33. its layout.  Each fault found by Carafe is assigned a relative
  34. probability based on the geometry of the fault site and defect
  35. distributions of the fabrication process.  Carafe improves upon
  36. previous software in that it is easier to use, more robust, and
  37. more time and memory efficient so that larger circuits can be
  38. analyzed.
  39. Keywords:  Fault models, VLSI testing, CMOS, inductive fault analysis.
  40.  
  41.  
  42. This technical report is available electronically through either 
  43. of the following methods:  
  44.  
  45. 1.  through anonymous ftp from ftp.cse.ucsc.edu, in /pub/tr. Log in 
  46.     as "anonymous", use your email address as your password, specify 
  47.     "binary" before getting the file.  Uncompress before printing.
  48. 2.  by mail to automatic mail server rnalib@ftp.cse.ucsc.edu.
  49.     Put this command on the subject line or in the body of the message:
  50.         @@ send ucsc-crl-91-24.ps.Z from tr
  51.     To get the index or abstract list:
  52.     @@ send INDEX from tr
  53.     @@ send ABSTRACTS.1992 from tr
  54.     To get the list of the tr directory:
  55.     @@ list tr
  56.     To get the list of commands and their syntax:
  57.     @@ help commands
  58.  
  59. Order paper copies of entire tech report from:  Technical Library, 
  60. Baskin Center for Computer Engineering & Information Sciences, UCSC, 
  61. Santa Cruz  CA  95064.  Purchase orders are not accepted.  
  62. Checks or money orders must be for U.S. dollars, payable through 
  63. a U.S. bank, and made out to "UC Regents".
  64.  
  65. Questions:  jean@cse.ucsc.edu
  66.  
  67.  
  68. ===========================================================================
  69. Co-moderator:  Richard Golding, Computer & Information Sciences, UC Santa Cruz
  70.         compdoc-techreports-request@ftp.cse.ucsc.edu
  71.  
  72.  
  73.