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/ NetNews Usenet Archive 1992 #19 / NN_1992_19.iso / spool / comp / lsi / testing / 192 < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1992-08-26  |  6.5 KB  |  141 lines
  1. Newsgroups: comp.lsi.testing
  2. Path: sparky!uunet!haven.umd.edu!darwin.sura.net!Sirius.dfn.de!math.fu-berlin.de!unidui!du9ds3!veit
  3. From: veit@du9ds3.uni-duisburg.de (Holger Veit)
  4. Subject: Re: Change this Group Name?
  5. References: <l9ko46INNls@bashful.crhc.uiuc.edu> <1992Aug25.183729.27815@venus.ic.cmc.ca>
  6. Date: 26 Aug 92 14:02:04 GMT
  7. Reply-To: veit@du9ds3.uni-duisburg.de
  8. Organization: Uni-Duisburg FB9 Datenverarbeitung
  9. Sender: @unidui.uni-duisburg.de
  10. Message-ID: <veit.714837724@du9ds3>
  11. Lines: 128
  12.  
  13. In <1992Aug25.183729.27815@venus.ic.cmc.ca> yooho@ursula.ic.cmc.ca (Yoo Ho Cho) writes:
  14.  
  15. >In article <l9ko46INNls@bashful.crhc.uiuc.edu> patel@bashful.crhc.uiuc.edu (Janak H. Patel) writes:
  16. >>I am annoyed at notes posted in this news group which have nothing to
  17. >>do with LSI or VLSI Testing.  It seems lots of news readers are
  18. >>interpreting "testing" to mean just about anything, except what
  19. >>this group was created for!  It seems they ignore the components "comp"
  20. >>and/or "lsi" while  interpreting "testing".
  21.  
  22. Your observation is unfortunately correct. This group was really not intended
  23. for junk postings. I (and Nikolaus Gouders) had proposed this group (okay: 
  24. look into the header for flame mails to me ;-), since we are involved in 
  25. academical research on testing (as well as you), and think that there should
  26. be a more closer contact than the usual meetings at conferences.
  27.  
  28. >>
  29. >>Here is a suggestion: Change the group name to avoid confusion.
  30. >[...]
  31.  
  32. >I am not certain a comp.lsi.defects or comp.lsi.[ testing areas .. ]
  33. >would provide the group with sufficient coverage of testing issues. 
  34. >Also the incredibly low amount of activity in this group probably doesn't
  35. >make the effort worthwhile.
  36.  
  37. When the proposal for the group was made, it was called 'comp.lsi.cat' for
  38. computer aided testing, according to the similiar abbreviation CAD. The
  39. majority of people who replied to the discussion found this name misleading
  40. and preferred something like '*.test', which is as you see is the usual
  41. waste basket for junk posts. Calling the group '*.testing' should have avoided
  42. such noise as we thought, because the combination of COMP and LSI and TESTING 
  43. is too strange to make one think that this is just a junk group for
  44. chip designers. I already had a bad feeling about the naming that time, but
  45. it is good democratic tradition to accept the opinion of the majority.
  46.  
  47. The voting process showed a result of 179 : 32 which I considered to be
  48. sufficient for a special interests group. Unfortunately, I haven't seen 
  49. many postings from the 179 persons who voted with YES. A newsgroup lives and
  50. dies with postings! I cannot imagine that everyone is interested in
  51. design (comp.lang.vhdl, comp.lang.verilog, comp.sys.mentor, comp.lsi*), but
  52. nobody in testing of all the stuff produced. So don't be afraid to 
  53. contribute to this group (of course not by postings of the above mentioned
  54. junk type). Notice that no one here will consider even a "stupid question" 
  55. (forget this, there are no stupid questions) as junk postings.
  56.  
  57.  
  58. >Does anyone have the charter for this group ? Posting the charter once a month
  59. >should help keep some of the noise down. If someone will send a copy of the
  60. >charter, I'm willing to do a monthly "reminder" posting.
  61.  
  62. >Yoo Ho Cho
  63.  
  64. The following is (a slightly changed) charter from the call for votes. 
  65. Feel free to modify and reformat it, and add further things that belong to this
  66. information sheet. I would be happy if you would be willing to do a regular 
  67. posting.
  68.  
  69. Holger
  70.  
  71. --
  72. |  |   / Holger Veit             | INTERNET: veit@du9ds3.uni-duisburg.de
  73. |__|  /  University of Duisburg  | BITNET: veit%du9ds3.uni-duisburg.de@UNIDO
  74. |  | /   Dept. of Electr. Eng.   | "No, my programs are not BUGGY, these are
  75. |  |/    Inst. f. Dataprocessing |          just unexpected FEATURES"
  76.  
  77.  
  78. -----------------------------------------
  79.  
  80. NAME/GROUP: 
  81.     comp.lsi.testing
  82.  
  83. STATUS:
  84.     unmoderated 
  85.  
  86. CHARTER:
  87.     This newsgroup is intended to cover all aspects of the testing of
  88.     electronic circuits such as (but not restricted to)
  89.       *  Testing of Digital and Analog Devices
  90.       *  Automatic Test Pattern Generation
  91.       *  Fault Modeling and Fault Simulation
  92.       *  Design for Testability
  93.       *  Scan Design and Built-in Self Test
  94.       *  PCB-Test and Boundary Scan
  95.       *  Design Verification
  96.  
  97.     Important topics are (again not restricted to)
  98.       * Announcements (conferences, workshops, special issues)
  99.       * Books on testing
  100.       * Standards
  101.       * Benchmarks
  102.       * Questions and answers
  103.       * Discussions concerning technical or algorithmic problems
  104.       * Available commercial and public domain tools
  105.  
  106.     PLEASE: DO NOT USE THIS GROUP FOR "test" POSTINGS TO CHECK YOUR
  107.     MAILER OR NEWS SYSTEM. THERE ARE OTHER SPECIAL GROUPS FOR THIS
  108.     PURPOSE, such as "alt.test", "news.test", "local.test" ETC.
  109.  
  110. WHY THIS GROUP:
  111.     The ever increasing number of publications on testing shows a
  112.     vivid and growing interest in that subject. A newsgroup on 
  113.     testing will stimulate and accelerate the exchange of related 
  114.     information among interested network users. It makes it easier 
  115.     to recognize current trends in testing, especially for novices. 
  116.     
  117.     The discussion period showed a general agreement on the theme.
  118.     Our first proposal for the name of the group was comp.lsi.cat,
  119.     which is similiar to comp.lsi.cad. A number of contributors 
  120.     remarked that this name is not generally understandable or 
  121.     misleading. Among the proposed alternatives were:
  122.     comp.lsi.test, comp.lsi.testing, comp.lsi.ate, comp.lsi.ft (fault 
  123.     tolerance). Taking into account that ".test" may sound like
  124.     "alt.test", "news.test" which have a specific function within the
  125.     USENET hierarchy, the proposed name "comp.lsi.testing" should be
  126.     the most understandable and general one. 
  127.  
  128.     Some authors commented that there are existing groups like comp.lsi
  129.     which do not have an extreme news flow to date. Splitting therefore
  130.     should not be necessary. We have never intended to split any group
  131.     due to "net bandwidth", comp.lsi.testing is a new thread. A closer
  132.     look at comp.lsi[.cad] shows that these groups are mostly design oriented,
  133.     and this probably raises the level for participation of non-designers.
  134.     Shortly: there was and is no forum for testing yet.
  135.  
  136. -- 
  137. |  |   / Holger Veit             | INTERNET: veit@du9ds3.uni-duisburg.de
  138. |__|  /  University of Duisburg  | BITNET: veit%du9ds3.uni-duisburg.de@UNIDO
  139. |  | /   Dept. of Electr. Eng.   | "No, my programs are not BUGGY, these are
  140. |  |/    Inst. f. Dataprocessing |          just unexpected FEATURES"
  141.