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/ NetNews Usenet Archive 1992 #18 / NN_1992_18.iso / spool / comp / lsi / testing / 185 < prev    next >
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Text File  |  1992-08-20  |  3.3 KB  |  87 lines
  1. Newsgroups: comp.lsi.testing
  2. Path: sparky!uunet!mcsun!sunic!ugle.unit.no!ugle.unit.no!Bjorn.B.Larsen
  3. From: Bjorn.B.Larsen@delab.sintef.no (Bjorn B. Larsen)
  4. Subject: Re: Benchmark Circuits for Digital circuit test pattern generation
  5. In-Reply-To: 8809787l@levels.unisa.edu.au's message of 19 Aug 92 15:40:29 GMT
  6. Message-ID: <BJORN.B.LARSEN.92Aug21121009@engels.delab.sintef.no>
  7. Sender: news@ugle.unit.no (NetNews Administrator)
  8. Reply-To: bjorn.b.larsen@delab.sintef.no
  9. Organization: delab
  10. References: <18341.2a92f106@levels.unisa.edu.au>
  11. Date: 21 Aug 92 12:10:09
  12. Lines: 73
  13.  
  14. In article <18341.2a92f106@levels.unisa.edu.au> 8809787l@levels.unisa.edu.au writes:
  15.  
  16. >In many papers in the field of fault diagnosis and Test generation for digital
  17. >circuits I have seen benchmark circuits used to make comparison between the
  18. >speed and effeciency of various test generation methods.
  19.  
  20. >I have commonly seen labels such as C880, C5315 or C7552 used to describe or
  21. >mension these benchmark circuits. In many papers on this topic also I have seen
  22. >the following reference to this circuits mensioned:
  23.  
  24. >(*) F. Brglez and H. Fujiwara, "A neutral netlist of ten combinational
  25. >benchmark circuits and a target translator in FORTRAN," in Proc. IEEE Int.
  26. >Symp. on Circuits and Systems, Kyoto, Japan, June 5-7, 1985
  27.  
  28. >[ ... ]
  29.  
  30. >I need to know the following:
  31.  
  32. >(1) What are these benchmark circuits ?
  33.  
  34. They are combinational circuits. I think they are parts of, or
  35. complete, real designs. The number of Inputs and Outputs, and the
  36. complexity of the circuits varies.
  37.  
  38. Usually referred to as ISCAS-85 circuits.
  39.  
  40. There is a similar set of sequential circuits presented on ISCAS-89, I
  41. think.
  42.  
  43. >(2) Where can I get these from ?
  44.  
  45. I think MCNC - Microelectronics Center North Carolina - in the US is
  46. the correct address. I do not have any e-mail or other.
  47.  
  48. It is an ASCII netlist, based on TEGAS TDL. Easy to transform to
  49. whatever format you need.
  50.  
  51. They are free available, so if you know somebody with a copy, you may
  52. get a compy from them.
  53.  
  54. (I may send you what we have, 8 of the 10 (?) circuits.)
  55.  
  56. >(3) What is the Brglez & Fujiwara reference ( I could not locate it ) ?
  57.  
  58. It is a tape, distributed to interested participants on the symposium.
  59. (And others later.)
  60.  
  61. >(4) How can I use the above benchmark netlist to test a test generation method?
  62.  
  63.  A - Get a copy of the netlist
  64.  B - Transform the netlist to the netlist_of_your_choise
  65.  C - Run your ATPG
  66.  D - Compare your results with other results. These you may find in
  67.      conference proceedings or journals.
  68.  
  69. >(5) Is there a updated version of this which has come out since 1989 ?
  70.  
  71. They vere issued in 1985, 1989 was the year of the sequential
  72. circuits, if my memory serves me right.
  73.  
  74. What is there to update on a netlist? These are supposed to be
  75. standard circuits which anybody may use to get comparable results from
  76. ATPGs or fault simulators. I hope nobody has changed them.
  77.  
  78. Bj{\o}rn
  79. --
  80. ______________________________________________________________________
  81.                s-mail:                 e-mail:
  82. |   |   |      Bjorn B. Larsen         bjorn.b.larsen@delab.sintef.no
  83. |__ |__ |      SINTEF DELAB
  84. |  \|  \|      N-7034 TRONDHEIM        tel: +47-7-592682 / 592600
  85. |__/|__/|_     NORWAY                  fax: +47-7-591039 / 594302
  86. ______________________________________________________________________
  87.