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/ NetNews Usenet Archive 1993 #3 / NN_1993_3.iso / spool / comp / lsi / testing / 487 < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1993-01-27  |  1.4 KB  |  33 lines
  1. Newsgroups: comp.lsi.testing
  2. Path: sparky!uunet!ukma!gatech!destroyer!ais.org!danr
  3. From: danr@ais.org (Daniel Romanchik)
  4. Subject: Test Programming in Top-Down Design
  5. Message-ID: <C1JDoG.HuL@ais.org>
  6. Organization: UMCC
  7. Date: Wed, 27 Jan 1993 23:38:39 GMT
  8. Lines: 23
  9.  
  10. You folks were so helpful the last time I tried this (I was writing a
  11. product survey on boundary scan at the time), I thought I'd do
  12. it again.  I hope I'm not wearing out my welcome.  :)
  13.  
  14. I am beginning to research an article for the May 1993 issue of Test &
  15. Measurement World.  The working title is "Test Development in a
  16. Top-Down Design Environment."  My idea is to describe what a top-down
  17. design environment is, show where test development fits into this
  18. process, and talk about some of the tools and how to use them.
  19.  
  20. If any of you have experience with type of development or the
  21. test-development tools and would be willing to talk about it, please
  22. contact me.
  23.  
  24. Thanks, Dan
  25. =====================================================================
  26.         Dan Romanchik              |        danr@umcc.ais.org
  27.        Technical Editor            |         (313) 930-6564
  28.     Test & Measurement World       |     MCI Mail: tmwromanchik
  29. =====================================================================
  30.   For a copy of Test & Measurement World, the magazine for test and
  31.      inspection in electronics, send me your U.S. Mail address.
  32. =====================================================================
  33.