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/ NetNews Usenet Archive 1993 #1 / NN_1993_1.iso / spool / comp / lsi / testing / 330 < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1993-01-08  |  3.5 KB  |  87 lines
  1. Newsgroups: comp.lsi.testing
  2. Path: sparky!uunet!gatech!emory!sol.ctr.columbia.edu!usc!cs.utexas.edu!torn!news.ccs.queensu.ca!venus!ursula!yooho
  3. From: yooho@ursula.ic.cmc.ca (Yoo Ho Cho)
  4. Subject: All this "testing" crap 
  5. Message-ID: <1993Jan8.162408.16287@venus.ic.cmc.ca>
  6. Summary: Read the charter
  7. Sender: usenet@venus.ic.cmc.ca (News Administrator)
  8. Nntp-Posting-Host: ursula
  9. Organization: Canadian Microelectronics Corporation
  10. Date: Fri, 8 Jan 1993 16:24:08 GMT
  11. Lines: 74
  12.  
  13. Looking back on the past 3 or 4 articles that have arrived here 
  14. in this group, I find the common phrases :
  15.  
  16.     "This is a test"
  17.     "Testing ..."
  18.  
  19. This is a group on lsi testing, not testing your news system. Topics
  20. like boundary scan, ATE's, test conferences, ATPGs, DFT rule checkers,
  21. etc. are what I was looking for when I subscribed to this group. So, a 
  22. while back we had a lot of these "just testing" messages. Now, the charter
  23. gets sent out each month. Come on folks, lets get back to the lsi testing
  24. topics.
  25.  
  26. ====================================================================
  27.  
  28. This is the monthly posting of the comp.lsi.testing charter.
  29.  
  30.  
  31. NAME/GROUP: 
  32.     comp.lsi.testing
  33.  
  34. STATUS:
  35.     unmoderated 
  36.  
  37. CHARTER:
  38.     This newsgroup is intended to cover all aspects of the testing of
  39.     electronic circuits such as (but not restricted to)
  40.       *  Testing of Digital and Analog Devices
  41.       *  Automatic Test Pattern Generation
  42.       *  Fault Modeling and Fault Simulation
  43.       *  Design for Testability
  44.       *  Scan Design and Built-in Self Test
  45.       *  PCB-Test and Boundary Scan
  46.       *  Design Verification
  47.       *  ATE
  48.  
  49.     Important topics are (again not restricted to)
  50.       * Announcements (conferences, workshops, special issues)
  51.       * Books on testing
  52.       * Standards
  53.       * Benchmarks
  54.       * Questions and answers
  55.       * Discussions concerning technical or algorithmic problems
  56.       * Available commercial and public domain tools
  57.  
  58.     PLEASE: DO NOT USE THIS GROUP FOR "test" POSTINGS TO CHECK YOUR
  59.     MAILER OR NEWS SYSTEM. THERE ARE OTHER SPECIAL GROUPS FOR THIS
  60.     PURPOSE, such as "alt.test", "news.test", "local.test" ETC.
  61.  
  62. WHY THIS GROUP:
  63.     The ever increasing number of publications on testing shows a
  64.     vivid and growing interest in that subject. A newsgroup on 
  65.     testing will stimulate and accelerate the exchange of related 
  66.     information among interested network users. It makes it easier 
  67.     to recognize current trends in testing, especially for novices. 
  68.     
  69.     The discussion period showed a general agreement on the theme.
  70.     Our first proposal for the name of the group was comp.lsi.cat,
  71.     which is similiar to comp.lsi.cad. A number of contributors 
  72.     remarked that this name is not generally understandable or 
  73.     misleading. Among the proposed alternatives were:
  74.     comp.lsi.test, comp.lsi.testing, comp.lsi.ate, comp.lsi.ft (fault 
  75.     tolerance). Taking into account that ".test" may sound like
  76.     "alt.test", "news.test" which have a specific function within the
  77.     USENET hierarchy, the proposed name "comp.lsi.testing" should be
  78.     the most understandable and general one. 
  79.  
  80.     Some authors commented that there are existing groups like comp.lsi
  81.     which do not have an extreme news flow to date. Splitting therefore
  82.     should not be necessary. We have never intended to split any group
  83.     due to "net bandwidth", comp.lsi.testing is a new thread. A closer
  84.     look at comp.lsi[.cad] shows that these groups are mostly design oriented,
  85.     and this probably raises the level for participation of non-designers.
  86.  
  87.