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/ NetNews Usenet Archive 1992 #27 / NN_1992_27.iso / spool / comp / lsi / testing / 295 < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1992-11-21  |  1.7 KB  |  39 lines
  1. Newsgroups: comp.lsi.testing
  2. Path: sparky!uunet!spool.mu.edu!umn.edu!umeecs!ais.org!danr
  3. From: danr@ais.org (Daniel Romanchik)
  4. Subject: Re: board test
  5. Message-ID: <By30r3.GxH@ais.org>
  6. Organization: UMCC
  7. References: <1992Nov18.170306.4244@titan.ksc.nasa.gov> <lglr0dINN5oj@news.bbn.com>
  8. Date: Sat, 21 Nov 1992 19:57:01 GMT
  9. Lines: 28
  10.  
  11. In article <lglr0dINN5oj@news.bbn.com> ekearns@bbn.com (Edward Joseph Kearns) writes:
  12. >
  13. >You are more than welcome to comp.lsi.testing.  In fact 1149.1 is 
  14. >exactly why I came here a few weeks ago.  There was considerable
  15. >response to my request for experince on the topic of boundary-scan,
  16. >and by judging the responses I received, you will find no better
  17. >forum to ask such questions.  Apparently this is where the 1149.1 
  18. >experts occasionally hang out.
  19. >
  20.    Great! I'm glad to see some talk about board test here.
  21.  
  22. >I ordered and received some books from IEEE.  "The Test Access Port
  23. >and Boundary Scan Architecture" by Maunder and Tulloss,  and also
  24. >"Integrating Design and Test: Using CAE Tools for ATE Programming"
  25. >by Ken Parker, so I've been busy reading.
  26. >
  27.     Ken Parker has a new book out, _The Boundary Scan Handbook_.  It's
  28. published by Kluwer, and I think it's pretty good.  I can post my
  29. review of it here if people are interested.
  30.  
  31. Regards, Dan
  32. =====================================================================
  33.         Dan Romanchik              |        danr@umcc.ais.org
  34.        Technical Editor            |         (313) 930-6564
  35.    Test and Measurement World      |     MCI Mail: tmwromanchik
  36. =====================================================================
  37.    "You can't test in quality" --  ancient Test Engineering maxim
  38. =====================================================================
  39.