home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ NetNews Usenet Archive 1992 #27 / NN_1992_27.iso / spool / comp / lsi / testing / 292 < prev    next >
Encoding:
Internet Message Format  |  1992-11-20  |  2.3 KB
  1. Path: sparky!uunet!usc!sdd.hp.com!zaphod.mps.ohio-state.edu!cs.utexas.edu!sun-barr!ames!titan.ksc.nasa.gov!titan.ksc.nasa.gov!news
  2. Newsgroups: comp.lsi.testing
  3. Subject: Re: board test
  4. Message-ID: <1992Nov20.172046.4272@titan.ksc.nasa.gov>
  5. From: dlr@testeng.ksc.nasa.gov (Doug Reed)
  6. Date: 20 Nov 92 17:20:46 EST
  7. References: <1992Nov18.170306.4244@titan.ksc.nasa.gov> <lglr0dINN5oj@news.bbn.com>
  8. Organization: Voice Systems Engineering, Kennedy Space Center
  9. Nntp-Posting-Host: testeng.ksc.nasa.gov
  10. Lines: 37
  11.  
  12. >So Doug, While I'm trying to formulate my next question, let's hear 
  13. >one from you!  Have you had any 1149.1 implementations tossed your way
  14. >in board test.  Did your testers handle the task.  Who wrote the b-scan
  15. >test vectors?  Did you have any internal scan paths?  Multiple paths?
  16. >What where the major hurdles?  Did anything go completely wrong?
  17. >
  18. >Anyone else...?
  19. >
  20. >Ed Kearns
  21.  
  22. Ed:
  23. So far we haven't had any 1149.1 designs come our way. I don't think
  24. that the design guys in NASA have really gotten into it yet... they
  25. are using XiLinx and Altera stuff to keep us pretty busy and I'm not
  26. sure that if they started using 1149.1 chips whether they would write
  27. on-board code for BIT or just for us board test people to crank out 
  28. quicker tests. BTW, our board test equipment is being used for depot /
  29. interlevel repair of broke boards that used to work. So 1149.1 tests
  30. would be good for getting up a quick test of the board, but later 
  31. (as time allows or testing requires) it would behoove us to write a 
  32. more complete test. The built-in RAM tests that HP provides with the
  33. tester tests a minority of addresses, and while that ok for the 
  34. manufacturing environment looking for incorrectly mounted or dead chips
  35. in quick test time, doesn't provide a thorough test in the depot 
  36. environment.
  37.  
  38. Major hurdles? Getting design to put in gates to disable ttl
  39. oscillators... :^) ... no flame intended. All things considered
  40. we actually have a pretty good rapport with the design people.
  41.  
  42. Regards, Doug
  43.  
  44. -- 
  45. +-----------+---------------------------------+--------------------------+
  46. | Doug Reed | HP3065AT Board Test Engineering | Kennedy Space Center, FL |
  47. | Ham Call N4QVY | #include <std_disclaimer> | Lockheed Space Operations |
  48. +----------------+---------------------------+---------------------------+
  49.