home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ NetNews Usenet Archive 1992 #16 / NN_1992_16.iso / spool / sci / math / stat / 1569 < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1992-07-31  |  1.9 KB  |  40 lines
  1. Newsgroups: sci.math.stat
  2. Path: sparky!uunet!sun-barr!cs.utexas.edu!qt.cs.utexas.edu!yale.edu!cs.yale.edu!engelson-sean
  3. From: engelson-sean@CS.YALE.EDU (Sean Philip Engelson)
  4. Subject: Correlation test (sort of)?
  5. Message-ID: <1992Jul31.135844.21061@cs.yale.edu>
  6. Sender: news@cs.yale.edu (Usenet News)
  7. Nntp-Posting-Host: fridge.ai.cs.yale.edu
  8. Organization: Yale AI Mobile Robotics Project
  9. Date: Fri, 31 Jul 1992 13:58:44 GMT
  10. Lines: 28
  11.  
  12.  
  13. Please forgive my statistically untutored way of speaking, but I have what I
  14. think should be a relatively simple hypothesis testing problem, which I (not
  15. being a statistician) don't quite know how to approach.
  16.  
  17. There is a process (unmodelable) which I can measure in two different ways,
  18. giving me values, call them X and Y, for different states of the underlying
  19. process.  I would like to make statements of the form: 
  20.  
  21.   When X is high, Y is (usually) low.  ("high" and "low" can be interchanged)
  22.     (note the asymmetry, if X is low, we don't care about Y)
  23.  
  24. I need a statistical testing method that gives me a measure of my confidence in
  25. such a statement.  If necessary, I can put in threshholds defining "high" and
  26. "low", but I'd prefer not to (or to get them out of the method).  I have a
  27. reasonable number of data points (about 300).  Doing a regression analysis
  28. seems inappropriate, since (a) different values of X can be fundamentally (ie,
  29. ignoring noise) associated with the same value of Y and v.v.  (since the
  30. underlying process state in multidimensional) and (b) the choice of regression
  31. model is not clear (since I have no real model for the process).  Any and all
  32. suggestions would be most helpful, especially references.
  33.  
  34. Thanks very much.
  35. -- 
  36. Sean Philip (Shlomo) Engelson        Im eshkachekh Yerushalayim, 
  37. Yale Department of Computer Science        Tishkach yemini;  
  38. Box 2158 Yale Station            Tidbak leshoni l.chiki
  39. New Haven, CT 06520                Im lo ezkerekhi...
  40.