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EPOC Database | 1999-03-04 | 14.9 KB | 331 lines |
- "Data.app1@
- Table1
- ColA9
- ColB9
- ColA10
- ColB10
- ColA11
- ColB11
- ColA12
- ColB12
- ColA13
- ColB13
- ColA14
- ColB14
- ColA15
- ColB15
- Index1
- ColA9
- ColA10
- ColA11
- Atomic Abs
- Energy Dis
- High Perfo
- Mass Spect
- SCANIIR
- Surface Co
- ThEEM
- Thermal Em
- HPTLC
- High Perfo
- ICP-AES
- Atomic Emi
- Infrared S
- IR-ATR
- Infrared A
- Ion Scatte
- Optical Li
- Laser Micr
- Laser Sour
- Mass Spect
- Electron M
- Electron M
- Electron P
- Electron S
- Field Emis
- Flame Emmi
- Field Ion
- Gas Chroma
- High Perfo
- Nuclear Ma
- Neutron Ac
- Optical Em
- PHEEM
- Photo Emis
- Particle I
- Rutherford
- SCANIIR
- Surface Co
- Scanning E
- Secundary
- Auger Elec
- Auger Elec
- Atomic Flu
- Backscatte
- Cathodolum
- Differenti
- E-SEM
- Environmen
- Electron D
- Energy Dis
- Activation
- Atomic Abs
- Table1
- 6Kurzzeichen E
- 6Kurzzeichen D
- .Bedeutung E
- .Bedeutung D
- .Bemerkungen
- &Anwendung
- BErfassungsgrenze
- Thin Layer
- UV-induced
- X-Ray indu
- X-Ray Diff
- X-Ray Fluo
- Scanning E
- Secundary
- Spark Sour
- Transmissi
- Thermal Gr
- ThEEM
- Thermal Em
- X-Ray Diff
- X-Ray Fluo
- Thin Layer Chromatography
- nnschichtchromatographie
- 6Auftrennung und Identifizierung organischer Substanzen
- 10-9 g
- HPTLC*High Performance Thin Layer Chromatography
- HPLC&High Performance Liquid Chromatography(Hochleistungsfl
- ssigkeitschromatographie
- *auch "SEC - Size Exclution Chromatography"6Auftrennung und Identifizierung organischer Substanzen
- 10-9 gU
- Gas Chromatography
- Gaschromatographie
- 6Auftrennung und Identifizierung organischer Substanzen
- 10-9 gU
- Mass Spectrometry
- Massenspektrometrie
- Qualitative und quantitaive Elementaranalye von organischen und anorganischen Substnzen, verbindungs- und molekularspezifische Aussagen
- 10-9 g
- Spark Source Mass Spectrometry
- Laser Source Mass SpectrometryU
- Atomic Absorbtion Spectroscopy
- Atom-Absorbtionsspektroskopie
- AFS Atomic Fluorescence Spectroscopy
- Flame Emmision SpectroscopyQ
- Optical Emission Spectroscopy!Optische Emissionsspektralanalyse
- mQualitative und quantitative Durchschnittsanalyse von Haupt- und Nebenbestandteilen, auch von Spurenelementen
- 10-6...10-9 g
- ICP-AES:Atomic Emission Spectroscopy by Inductively Coupled PlasmaU
- Laser Microanalysis
- Laser-Mikroanalyse
- 1Optische Emissionsspektroskopie mit Laseranregung/zerst
- rungsarme optische Emissionsspektroskopie
- 10-6...10-9 g
- X-Ray Fluorescence Analysis
- Particle Induced X-Ray Emission
- Activation Analysis
- Neutron Activation AnalysisU
- Infrared Spectroscopy
- Infrarotspektrokopie
- ZIdentifizierung von festen, fl
- ssigen und gasf
- rmigen anorgnischen und organischen Stoffen
- 10-8 gQ
- NMR'Nuclear Magnetic Resonance Spectroscopy%Magnetische Kernresonanzspektroskopie
- Struktur
- 10-4 gQ
- ESR$Electron Spin Resonance Spectroscopy#Elektronenspinresonanzspektroskopie
- 3Bindungszust
- nde, Aufkl
- rung von Schadensph
- nomenen
- Differential Thermal AnalysisU
- Thermal Gravimetric Analysis
- ThermogravimetrieQ
- X-Ray Diffraction Analysis
- ntgenbeugungsanalyse
- DVerbindungsspezifische Analyse von kristallinen Produkten und Phasen
- 10-4 g
- Electron Diffraction AnalysisU
- Optical Light Microscopy
- LichtmikroskopieQ
- Electron Microscopy
- ElektronenmikroskopieU
- TEM Transmission Electron Microscopy"Transmissionselektronenmikroskopie
- !Verteilungsanalyse/Kristallinit
- 10-14 gU
- Scanning Electron Microscopy
- Rasterelektronenmikroskopie
- Morphologische BeschreibungQ
- Cathodoluminescence Analysis
- Kathodenlumineszenz
- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop7Bestimmung fluoreszierender Verbindungen (sichtbar, IR)U
- FEM"Field Emission Electron Microscopy#Feldemissions-Elektronenmikroskopie
- Field Ion Emission Microscopy
- PHEEM"Photo Emission Electron Microscopy*E
- ThEEM$Thermal Emission Electron Microscopy
- Electron Probe Microanalysis
- siehe auch EMPAQ
- Auger Electron Spectroscopy
- Augerelektronenspektrokopie
- AdsorptionserscheinungenQ
- XPS(X-Ray induced Photoelectron Spectroscopy
- Photoelektonenspektroskopie
- Bindungszust
- 10-10...10-15 g
- UPS%UV-induced Photoelectron SpectroscopyQ
- Secundary Ion Mass Spectrometry Sekund
- rionenmassenspektroskopie
- ,Spurenanalyse, Tiefenverteilung der Elemente
- 10-15 g
- Ion Scattering Spectrometry
- RBS*Rutherford Ion Backscattering Spectroscopy
- SCANIIRBSurface Composition by Analyis of Neutral and Ion Impact Radiation
- IR-ATR%Infrared Attenuated Total Reflectance
- Electron Microprobe Analysis
- siehe auch EPMAQ
- E-SEM*Environmental Scanning Electron Microscopy*Atmosph
- rische RasterelektronenmikroskopieU
- EDS%Energy Dispersive X-Ray Microanalysis%Energiedispersive R
- ntgenmikroanalyse
- &Detektion am RasterelektronenmikroskopkQualitative und quantitative Analyse von Haupt- und Nebenbestandteilen in Mikrobereichen, Verteilungsanlyse
- 10-11 gD
- Ultramikroanalyse
- aQualitative Elementaranalyse in anorganischen Substanzen, Gruppentests f
- r organische Materialien
- 10-9 g
- ntgenfluoreszenzanalse
- SQualitative und quantitative Durchschnittsanalyse von Haupt- und Nebenbestandteilen
- 10-6 g
- Neutronenaktivierungsanalyse
- Bestimmung kleinster Spuren
- 10-6...10-12 gD
- Elektronenstrahlmikroanalyse
- CQualitative und quantitative Analyse, auch spuren in Mikrobereichen
- 10-13 gE
- Sekund
- relektronen
- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop
- Morphologie, TopographieU
- Backscattered Electrons
- ckstreuelektronen
- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop?materielle Zusammensetzung, Verteilung von Phasen und ElementenU
- Auger Electrons
- Augerelektronen
- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop'Elementare Verteilung an der Oberfl
- Absorbierte Elektronen
- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop
- Zusammensetzung, TopographieD
- Transmissionselektronen
- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop8Zusammensetzung, Beschreibung des kristallinen Zustandess@O
- Neutronenaktivierungsanalyse
- Bestimmung kleinster Spuren
- 10-6...10-12 gD
- Elektronenstrahlmikroanalyse
- CQualitative und quantitative Analyse, auch spuren in Mikrobereichen
- 10-13 gE
- Sekund
- relektronen
- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop
- Morphologie, TopographieU
- Backscattered Electrons
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- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop?materielle Zusammensetzung, Verteilung von Phasen und ElementenU
- Auger Electrons
- Augerelektronen
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- Absorbierte Elektronen
- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop
- Zusammensetzung, TopographieD
- Transmissionselektronen
- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop8Zusammensetzung, Beschreibung des kristallinen Zustandes@
- Analysemethoden
- TANGRAM Art
- tangram.art@freenet.ch @
- Neutronenaktivierungsanalyse
- Bestimmung kleinster Spuren
- 10-6...10-12 gD
- Elektronenstrahlmikroanalyse
- CQualitative und quantitative Analyse, auch spuren in Mikrobereichen
- 10-13 gE
- Sekund
- relektronen
- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop
- Morphologie, TopographieU
- Backscattered Electrons
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- Auger Electrons
- Augerelektronen
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- Absorbierte Elektronen
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- Zusammensetzung, TopographieD
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- Mess-Methoden
- TANGRAM Art
- tangram.art@freenet.ch
- ThEEM$Thermal Emission Electron Microscopy
- Electron Probe Microanalysis
- siehe auch EMPAQ
- Auger Electron Spectroscopy
- Augerelektronenspektrokopie
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- XPS(X-Ray induced Photoelectron Spectroscopy
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- Bindungszust
- 10-10...10-15 g
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- ,Spurenanalyse, Tiefenverteilung der Elemente
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- Ion Scattering Spectrometry
- RBS*Rutherford Ion Backscattering Spectroscopy
- SCANIIRBSurface Composition by Analyis of Neutral and Ion Impact Radiation
- IR-ATR%Infrared Attenuated Total Reflectance
- Electron Microprobe Analysis
- siehe auch EPMAQ
- E-SEM*Environmental Scanning Electron Microscopy*Atmosph
- rische RasterelektronenmikroskopieU
- EDS%Energy Dispersive X-Ray Microanalysis%Energiedispersive R
- ntgenmikroanalyse
- &Detektion am RasterelektronenmikroskopkQualitative und quantitative Analyse von Haupt- und Nebenbestandteilen in Mikrobereichen, Verteilungsanlyse
- 10-11 gD
- Ultramikroanalyse
- aQualitative Elementaranalyse in anorganischen Substanzen, Gruppentests f
- r organische Materialien
- 10-9 gD
- ntgenfluoreszenzanalyse
- SQualitative und quantitative Durchschnittsanalyse von Haupt- und Nebenbestandteilen
- 10-6 g @
- Neutronenaktivierungsanalyse
- Bestimmung kleinster Spuren
- 10-6...10-12 gD
- Elektronenstrahlmikroanalyse
- CQualitative und quantitative Analyse, auch spuren in Mikrobereichen
- 10-13 gE
- Sekund
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- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop
- Morphologie, TopographieU
- Backscattered Electrons
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- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop?materielle Zusammensetzung, Verteilung von Phasen und ElementenU
- Auger Electrons
- Augerelektronen
- &Detektion am Rasterelektronenmikroskop'Elementare Verteilung an der Oberfl
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- Zusammensetzung, TopographieD
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- Mess-Methoden
- TANGRAM Art
- Updates auf der Homepage:
- http://www.goldach.net/tangram/
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